一种用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱制造技术

一种用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，包括三个端子PUD1

【技术实现步骤摘要】
一种用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱


[0001]本技术涉及负载领域，尤其涉及一种用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱。

技术介绍

[0002]对于存放数据中心机柜的机房，其建设好后需对机房内的PDU(数据中心机柜用电源分配插座)进行供电测试，以防止供电出现问题损坏数据中心机柜中的数据及影响使用中的通讯。
[0003]机房内，一路PDU基本包括三个插座,为方便表述，将这三个插座分别命名为PDU
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1、PDU
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2、PDU
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3。其中，PDU
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1要求2000W固定供电，PDU
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2要求1000W或2000W两种输出功率，PDU
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3要求500W、1000W或2000W三种输出功率。现有在测试时，使用负载箱模拟数据中心机柜的负载进行模拟测试，所使用的负载箱核心基本为容置于壳体中的电源系统、从电源系统取电运行的散热风扇以及多根阻值按上述功率要求配置的固定金属管，各固定金属管的两端通过插拔端子伸出壳外，使用时，要求测试人员根本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：包括三个端子PUD1
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1、PUD1
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2、PUD1
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3、三个端子PUD2
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1、PUD2
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2、PUD2
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3、六个电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、六个接触器QF1、QF2、QF3、QF4、QF5、QF6，以及控制器；所述三个端子PUD1
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1、PUD1
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2、PUD1
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3，分别用于连接外部第一路PDU的三个插座；所述三个端子PUD2
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1、PUD2
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2、PUD2
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3，分别用于连接外部第二路PDU的三个插座；所述端子PUD2
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1与端子PUD1
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1的L线相连形成接点L1、N线相连形成接点N1，且端子PUD2
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1与端子PUD1
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1互锁，所述端子PUD2
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2与端子PUD1
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2的L线相连形成接点L2、N线相连形成接点N2，且端子PUD2
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2与端子PUD1
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2互锁，所述端子PUD2
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3与端子PUD1
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3的L线相连形成接点L3、N线相连形成接点N3，且端子PUD2
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3与端子PUD1
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3互锁；所述接点L1串联接触器QF6、电阻R6至接点N1，接点L2一方面串联接触器QF5、电阻R5至接点N2，另一方面串联接触器QF4、电阻R4至接点N2，接点L3分成三路，其中第一路串联接触器QF3、电阻R3至接点N3，第二路串联接触器QF2、电阻R2至接点N2，第三路串联接触器QF1、电阻R1至接点N1；所述六个电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6的阻值比例为4：4：2：2：2：1，所述六个接触器QF1、QF2、QF3、QF4、QF5、QF6分别连接所述控制器。2.如权利要求1所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：电阻R1、R2的阻值为105.8欧，电阻R3、R4、R5的阻值为52.9欧，电阻R6的阻值为26.5欧。3.如权利要求1所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：端子PUD2
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1与端子PUD1
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1之间的互锁由互锁电路实现...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄赫，张鑫彬，刘霖，黄宁文，
申请(专利权)人：广东福德电子有限公司，
类型：新型
国别省市：