【技术实现步骤摘要】
通用型整流桥测试底座
[0001]本技术涉及半导体测试设备
,具体涉及对整流桥测试底座的改进。
技术介绍
[0002]整流桥在检测线上进行进行检测时,是将整流桥逐个送入测试底座中,对整流桥进行检测,等检测结束后,再通过测试底座上方的吸笔将已检测的整流桥吸出,移入后续的工位,再将新的待检整流桥送入测试底座。但是在使用过程中发现两个问题:1、吸笔吸取整流桥的成功率不能保证100%,这样就导致后续进来的待检整流桥重叠在已检完的整流桥上,形成叠料。一旦引发叠料,频繁发生叠料测试机就会报警,自动停机,大大降低了测试的效率;对整流桥本体也会造成一定的损伤,从而形成一些不必要的浪费;
[0003]2、整流桥的引脚形状不一,为了适用多种规格的整流桥,需要使用与整流桥适配的测试底座,导致测试底座需要频繁更换,降低工作效率。
技术实现思路
[0004]本技术针对以上问题,提供了一种能够将已检完的整流桥顶出,避免发生叠料,且适用于多种型号整流桥,能够提高工作效率的通用型整流桥测试底座。
[0005]本技术的技术方 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.通用型整流桥测试底座,包括一个底板和若干个侧挡板,其特征在于,所述底板的上表面和所述侧挡板的下底面通过榫卯结构连接;所述底板的下底面设有若干个螺纹孔,所述螺纹孔用于固定连接测试设备;在所述底板的下底面中心设有一个台阶孔,所述台阶孔内设有一个顶针。2.根据权利要求1所述的通用型整流桥测试底座,其特征在于,所述侧挡板的上端为屋脊型。3.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:武万鑫,王毅,
申请(专利权)人:扬州扬杰电子科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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