一种CPCI测试夹具制造技术

本发明专利技术公开了一种CPCI测试夹具。该夹具通过PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中，PCB安装在壳体底部，CPCI总线连接单元装配在PCB上，J30J连接器单元装配在壳体的侧面，且显露在壳体侧面外部，通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机；CPCI总线连接单元的输入端连接被测产品，输出端连接J30J连接器单元。本发明专利技术将主机的CPCI总线扩展至主机外部，与主机通过线缆连接，板卡插入夹具的CPCI插槽测试，避免了反复插拔对主机造成的损害，既方便又提高了测试效率；CPCI测试夹具设置电源开关，这样在不关闭主机电源的情况下即可更换板卡，提高了测试效率及测试可靠性。提高了测试效率及测试可靠性。提高了测试效率及测试可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种CPCI测试夹具


[0001]本专利技术涉及CPCI总线板卡测试设备，具体涉及一种用于CPCI信号转接的CPCI测试夹具。

技术介绍

[0002]CPCI总线板卡设计和生产过程中需要对其进行调试，目前大多数的CPCI板卡测试都是将板卡插入主机CPCI插槽中进行测试，这样测试存在以下几个问题：1、CPCI板卡多次插拔容易损坏主机CPCI插槽，轻则造成可靠性降低，重则使CPCI主机彻底报废。2、CPCI板卡插入主机测试为黑盒测试模式，不能直观观察板卡上设计的指示状态，同时也不能通过万用表及示波器等辅助调测。3、CPCI板卡插入主机测试不方便对故障板卡飞线测试。4、CPCI板卡插入主机测试在更换板卡时需要将主机彻底关机，对测试效率造成很大影响。

技术实现思路

[0003]鉴于以上现有技术存在的问题，本专利技术提供一种用于CPCI信号转接的CPCI测试夹具。
[0004]本专利技术采取的技术方案是：一种CPCI测试夹具，所述CPCI测试夹具通过测试夹具PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中，用于CPCI信号的转接；其中，所述测试夹具PCB安装在壳体底部，所述CPCI总线连接单元装配在测试夹具PCB上，所述J30J连接器单元装配在壳体的侧面，且显露在壳体侧面外部，用于连接外部的J30J连接器，通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机；同时CPCI测试夹具中的CPCI总线连接单元输入端连接被测产品，CPCI总线连接单元输出端通过测试夹具PCB连接J30J连接器单元。
[0005]所述J30J连接器单元包括六个连接器，分别为：两个型号均为J30J
‑
66ZKW的连接器J1
‑
1、连接器J1
‑
2；两个型号均为J30J
‑
74ZKW的连接器J2
‑
1、连接器J2
‑
2；两个型号均为J30J
‑
100ZKW的连接器J3
‑
1、连接器J3
‑
2。
[0006]所述CPCI总线连接单元包括四个连接器，分别为：CPCI_P1连接器、CPCI_P2连接器、CPCI2_P1连接器、CPCI2_P2连接器，每个连接器分为五个区域，CPCI_P1连接器的五个区域分别为：P1B、P1C、P1D、P1E、P1F区域；CPCI_P2连接器的五个区域分别为：P2B、P2C、P2D、P2E、P2F区域；CPCI2_P1连接器的五个区域分别为：P2
‑
1B、P2
‑
1C、P2
‑
1D、P2
‑
1E、P2
‑
1F区域；CPCI2_P2连接器的五个区域分别为：P2
‑
2B、P2
‑
2C、P2
‑
2D、P2
‑
2E、P2
‑
2F区域；共二十个区域分别连接所述J30J连接器单元的六个连接器。
[0007]所述CPCI_P1连接器P1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1
‑
1的第1
‑
A1至1
‑
A25管脚；P1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1
‑
1的第1
‑
B1至1
‑
B25管脚；P1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1
‑
1的第1
‑
C1至1
‑
C25管脚；P1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2
‑
1的第1
‑
D1至1
‑
D25管脚；P1F区域的第e1管脚至第e25管脚分别连接连接器J2
‑
1的第1
‑
E1至1
‑
E25管脚。
[0008]所述CPCI_P2连接器P2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接所述连接器J3
‑
1的第2
‑
A1至2
‑
A22管脚；P2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3
‑
1的第2
‑
B1至2
‑
B22管脚；P2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3
‑
1的第2
‑
C1至2
‑
C22管脚；P2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3
‑
1的第2
‑
D1至2
‑
D22管脚；P2F区域的第e1管脚至e17管脚分别连接连接器J2
‑
1的第2
‑
E1至2
‑
E17管脚；P2F区域的第e18管脚至e22管脚分别连接连接器J3
‑
1的第2
‑
E18至2
‑
E22管脚。
[0009]所述CPCI2_P1连接器P2
‑
1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1
‑
2的第2.1
‑
A1管脚至第2.1
‑
A25管脚；P2
‑
1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1
‑
2的第2.1
‑
B1管脚至2.1
‑
B25管脚；P2
‑
1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1
‑
2的第2.1
‑
C1管脚至2.1
‑
C25管脚；P2
‑
1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2
‑
2的第2.1
‑
D1管脚至2.1
‑
D25管脚；P2
‑
1F区域的第e1管脚至e25管脚分别连接连接器J2
‑
2的第2.1
‑
E1管脚至2.1
‑
E25管脚。
[0010]所述CPCI2_P2连接器P2
‑
2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接所述连接器J3
‑
2的第2.2
‑
A1管脚至第2.2
‑
A22管脚；P2
‑
2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3
‑
2的第2.2
‑
B1管脚至2.2
‑
B22管脚；P2
‑
2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3
‑
2的第2.2
‑
C1管脚至2.2
‑
C22管脚；P2
‑
2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3
‑
2的第2.本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CPCI测试夹具，其特征在于，所述CPCI测试夹具通过测试夹具PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中，用于CPCI信号的转接；其中，所述测试夹具PCB安装在壳体底部，所述CPCI总线连接单元装配在测试夹具PCB上，所述J30J连接器单元装配在壳体的侧面，且显露在壳体侧面外部，用于连接外部的J30J连接器，通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机；同时CPCI测试夹具中的CPCI总线连接单元的输入端连接被测产品，CPCI总线连接单元的输出端通过测试夹具PCB连接J30J连接器单元。2.根据权利要求1所述的一种CPCI测试夹具，其特征在于，所述J30J连接器单元包括六个连接器，分别为：两个型号均为J30J
‑
66ZKW的连接器J1
‑
1、连接器J1
‑
2；两个型号均为J30J
‑
74ZKW的连接器J2
‑
1、连接器J2
‑
2；两个型号均为J30J
‑
100ZKW的连接器J3
‑
1、连接器J3
‑
2；所述CPCI总线连接单元包括四个连接器，分别为：CPCI_P1连接器、CPCI_P2连接器、CPCI2_P1连接器、CPCI2_P2连接器，每个连接器分为五个区域，CPCI_P1连接器的五个区域分别为：P1B、P1C、P1D、P1E、P1F区域；CPCI_P2连接器的五个区域分别为：P2B、P2C、P2D、P2E、P2F区域；CPCI2_P1连接器的五个区域分别为：P2
‑
1B、P2
‑
1C、P2
‑
1D、P2
‑
1E、P2
‑
1F区域；CPCI2_P2连接器的五个区域分别为：P2
‑
2B、P2
‑
2C、P2
‑
2D、P2
‑
2E、P2
‑
2F区域；共二十个区域分别连接所述J30J连接器单元的六个连接器。3.根据权利要求2所述的一种CPCI测试夹具，其特征在于，所述CPCI_P1连接器P1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1
‑
1的第1
‑
A1至1
‑
A25管脚；P1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1
‑
1的第1
‑
B1至1
‑
B25管脚；P1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1
‑
1的第1
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C1至1
‑
C25管脚；P1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2
‑
1的第1
‑
D1至1
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D25管脚；P1F区域的第e1管脚至第e25管脚分别连接连接器J2
‑
1的第1
‑
E1至1
‑
E25管脚；所述CPCI_P2连接器P2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接所述连接器J3
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1的第2
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A1至2
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A22管脚；P2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3
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1的第2
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B1至2
‑
B22管脚；P2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连...

【专利技术属性】
技术研发人员：武鸿涛，苏子博，刘文皓，史屹君，陈冠铭，
申请(专利权)人：天津可宏振星科技有限公司，
类型：发明
国别省市：