【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及送电控制装置、送电装置、电子i殳备以及无触点电力传输系统。
技术介绍
近年来,利用电》兹感应,无需金属部分的触点即可进行电力传 输的无触点电力传输(非*接触电力传输)受到了广泛的关注。作为 该无触点电力传输的适用例,提出了便携式电话机、和家庭用设备 (例如电话机的子机)的充电等。作为无触点电力传ilr现有4支术,存在专利文件i。在该专利文 件i中,通过原级侧(送电侧)监视原线圏的感应电压信号的峰值, 并与规定的阀值电压进行比较,从而检测次级侧(受电侧)的负载 状态,实现金属等异物的检测。即、在判断为基于线圏间的异物导 致的涡流损耗等,负载状态为正常的负载的额定值以上的状态的情 况下,判断出与原线圈电磁耦合的不是次级线圏而是异物。但是,在该专利文件i的技术中,虽然由原级侧的检测电路进行由异物导致的涡流损耗等的检测,但是存在以下问题难以判断在该检测电路中,受电侧的负载是正常的负载还是异物导致的伪负载。专利文件1:日本特开2006-60909号7>才艮
技术实现思路
本专利技术根据如下几个方面,提供了可以提高异物检测的精度的 送电控制装置、送电装置、 ...
【技术保护点】
一种送电控制装置,被设置在无触点电力传输系统的送电装置中,所述无触点电力传输系统使原线圈与次级线圈电磁耦合,并从所述送电装置向受电装置传送电力,向所述受电装置的负载提供电力,所述送电控制装置的特征在于,包括: 驱动控制电路,控制用于驱 动所述原线圈的送电驱动器; 负载状态检测电路,用于检测受电侧的负载状态;以及 控制电路,用于控制所述驱动控制电路, 其中,所述控制电路在从所述受电装置接收了ID认证信息之后,基于来自所述负载状态检测电路的负载状态检测信息, 进行异物检测,在所述异物检测之后,开始向所述受电装置进行的普通送电。
【技术特征摘要】
JP 2007-11-16 2007-2974441. 一种送电控制装置,被设置在无触点电力传输系统的送电装置中,所述无触点电力传输系统使原线圈与次级线圈电磁耦合,并从所述送电装置向受电装置传送电力,向所述受电装置的负载提供电力,所述送电控制装置的特征在于,包括驱动控制电路,控制用于驱动所述原线圈的送电驱动器;负载状态检测电路,用于检测受电侧的负载状态;以及控制电路,用于控制所述驱动控制电路,其中,所述控制电路在从所述受电装置接收了ID认证信息之后,基于来自所述负载状态检测电路的负载状态检测信息,进行异物检测,在所述异物检测之后,开始向所述受电装置进行的普通送电。2. 根据权利要求1所述的送电控制装置,其特征在于,所述控制电^各在所述异物4企测之后、且所述普通送电开 始之前,向所述受电装置发送与来自所述受电装置的所述ID iU正信息相对应的i午可信息。3. 根据权利要求1或2所述的送电控制装置,其特征在于,所述控制电路在所述受电装置没有对所述负载进行供电 的期间内,进4亍所述异物冲企测。4. 根据权利要求1至3中任一项所述的送电控制装置,其特征在 于,所述控制电^各在进行所述异物;险测时,将所述送电驱动 器的驱动频率i殳定为不同于普通送电用频率的异物4企测用频率。5. 根据权利要求4所述的送电控制装置,其特征在于,所述控制电路在所述异物检测时,将所述驱动频率设定 为所述普通送电用频率和线圈谐振频率之间的频率、即所述异 物冲全测用频率。6. 根据权利要求4或5所述的送电控制装置,其特征在于,所述控制电^各在所述驱动频率从所述异物;险测用频率返 回到所述普通送电用频率之后,进行所述受电装置的取出检观'J。7. 根据权利要求1至6中任一项所述的送电控制装置,其特征在 于,所述控制电^各在所述普通送电开始之前,进行一次异物 检测作为所述异物检测,在所述普通送电开始之后,基于来自 所述负载状态检测电路的所述负载状态检测信息,进行二次异物检测。8. 根据权利要求7所述的送电控制装置,其特征在于,所述控制电路进行来自所述负载状态检测电路的所述负 载状态检测信息和用于负载状态检测的第 一阀值的比较处理 来进行所述一次异物一企测,所述控制电路进行来自所述负载状态检测电路的所述负 载状态检测信息和用于负载状态检测的第二阀值的比较处理, 来进4亍所述二次异物冲企测,其中,所述第二阀佳/没定为比所述 第一阀值更靠有负载侧。9. 根据权利要求1至8中任一项所述的送电控制装置,其特征在 于,所述负载状态检测电路包括脉沖宽度检测电路,所述 脉冲宽度才企测电路用于4企测所述原线圈的感应电压信号的脉 沖宽度信息,所述控制电路接收所述脉沖宽度信息作为所述负载状态 检测信息,并基于所述脉冲宽度信息进行所述异物检测。10. 根据权利要求9所述的送电控制装置,其特征在于,所述送电控制装置还包括驱动时钟脉冲生成电路,生 成用于^L定所述原线圈的驱动频率的驱动时4中力永沖并进ff專lr 出,所述负载状态检测电路包括第一脉冲宽度4企测电路, 所述第一^永冲宽度4企测电^各在将所述原线圈的第...
【专利技术属性】
技术研发人员:上条贵宏,长谷川稔,依田健太郎,曾我部治彦,大西幸太,神山正之,盐崎伸敬,
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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