太阳辐射照度测量装置和测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种太阳辐射照度测量装置和测量方法，包括：机架；垂直太阳总辐射照度传感器组，其包括多个传感器，各所述传感器固定于机架，指向水平方向上的多个方向，用于检测垂直面上的太阳总辐射照度；水平太阳总辐射照度传感器组，其包括固定于所述机架的，指向竖直方向上方的水平面上向太阳总辐射照度传感器和指向竖直方向下方的水平面下向太阳总辐射照度传感器，分别用于测量天空总辐射照度，和地面反射的太阳辐射照度。本发明专利技术实现了同一时间、同一地点的多种辐射要素进行多方位连续监测。监测。监测。

【技术实现步骤摘要】
太阳辐射照度测量装置和测量方法


[0001]本专利技术涉及地面太阳辐射测量
，并且更具体地，涉及一种太阳辐射照度测量装置和测量方法。

技术介绍

[0002]建筑外表面接受的太阳辐射照度值是建筑热工设计的重要依据，是建筑负荷计算以及建筑墙体热工性能研究的基本前提。一方面，国内外地面太阳辐射测量研究一般只针对水平面进行测量，垂直地面各朝向接受的太阳辐射多采用数学模型通过水平面测量结果进行垂直分量计算的方法得出；另一方面，建筑外表面同时会受到太阳直射辐射、太阳散射辐射以及地面反射辐射的共同作用。
[0003]因此，需要提出一种测量装置，已解决现有技术无法对同一时间、同一地点的多种辐射要素进行多方位测量分析的问题。相应测量装置的研发可以提升建筑设计阶段理论分析的准确性，有助于对建筑各立面接受的太阳辐射来源进行科学分析。

技术实现思路

[0004]根据本专利技术的实施例，提供了一种太阳辐射照度测量装置和测量方法，实现同一时间、同一地点的多方位测量太阳辐射照度，并同时测量多种辐射要素，各测量一体化。
>[0005]在本专本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种太阳辐射照度测量装置，其特征在于，包括：机架(10)；垂直太阳总辐射照度传感器组(20)，其包括多个传感器，各所述传感器固定于机架(10)，指向水平方向上的多个方向，用于测量垂直面上的太阳总辐射照度；水平太阳总辐射照度传感器组(30)，其包括固定于所述机架的，指向竖直方向上方的水平面上向太阳总辐射照度传感器(31)和指向竖直方向下方的水平面下向太阳总辐射照度传感器(32)，分别用于测量天空总辐射照度，和地面反射的太阳辐射照度。2.根据权利要求1所述的太阳辐射照度测量装置，其特征在于，所述机架(10)包括头部机架(11)和从头部机架(11)水平延伸的延伸部(12)，在延伸部(12)的末端设置尾架(13)，以支撑所述延伸部(12)保持水平，垂直太阳总辐射照度传感器组(20)设置于头部机架(11)，水平太阳总辐射照度传感器组(30)设置于延伸部(12)。3.根据权利要求2所述的太阳辐射照度测量装置，其特征在于，所述头部机架(11)包括水平设置于上端的十字支架部(111)，在所述十字支架部的四个支架末端，分别设置北向太阳总辐射照度传感器(21)、南向太阳总辐射照度传感器(22)、东向太阳总辐射照度传感器(23)和西向太阳总辐射照度传感器(24)。4.根据权利要求3所述的太阳辐射照度测量装置，其特征在于，所述十字支架部(111)上，支撑设置有架板(112)，在架板(112)上设...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹凯丽，张晓静，谢静超，郝梓仰，景鹏飞，刘加平，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：