一种基于动态传递参数的ATE装置和传输方法制造方法及图纸

一种基于动态传递参数的ATE装置和传输方法，包括测试程序模块、编译器、可变代码模块和测试执行模块；可变代码模块用于接收测试条件；编译器用于编译测试程序模块中的程序，形成可执行的第一机器指令部分，测试执行模块包括语法解析器ATPL、虚拟机单元CVM、调度测试流单元和通信单元；语法解析器ATPL逐句读取测试条件源代码，先进行词法分析和语法分析，再将源代码转换为中间代码并进行优化，最终将中间代码解释为可执行的第二机器指令部分，由虚拟机单元CVM执行；调度测试流单元根据CVM的执行结果调度测试流，并通过通信单元与所述被测设备DUT执行交互测试。备DUT执行交互测试。备DUT执行交互测试。

【技术实现步骤摘要】
一种基于动态传递参数的ATE装置和传输方法


[0001]本专利技术涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称ATE)领域，尤其涉及一种基于动态传递参数的ATE装置和传输方法。

技术介绍

[0002]芯片测试在整个半导体产业链当中占有极其重要的地位。随着集成电路复杂度的提高，其测试复杂度也随之日益提高，大规模集成电路往往会要求几百次的电压、电流和时序的测试以及百万次的功能测试步骤以保证器件的完全正确，这也使得芯片的测试成本越来越高，一些器件的测试成本甚至占到芯片成本的绝大部分比例。
[0003]自动测试设备是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试系统，计算机通过运行测试程序的指令来控制测试硬件。半导体芯片测试机用于检测集成电路的功能和性能的完整性，是集成电路生产制造流程中确保集成电路品质的重要设备。测试系统最基本的要求是自身保证测试功能的快速性、可靠性和稳定性。其中，快速性尤为重要；因此，如何提升芯片的测试速度是半导体测试机行业的共同课题。
>[0004]目前，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于动态传递参数的ATE装置，用于测量至少一台被测设备DUT；其特征在于，包括测试程序模块、编译器、可变代码模块和测试执行模块；其中，所述测试程序模块包括固定代码程序和测试条件接口程序，所述可变代码模块用于接收测试条件，所述测试条件至少包括一条动态变化的参数；所述编译器用于编译所述测试程序模块中的程序，形成可执行的第一机器指令部分，所述测试执行模块包括语法解析器ATPL、虚拟机单元CVM、调度测试流单元和通信单元；所述语法解析器ATPL逐句读取所述测试条件源代码，先进行词法分析和语法分析，再将所述源代码转换为中间代码并进行优化，然后将中间代码解释为可执行的第二机器指令部分，在所述虚拟机单元CVM中执行第二机器指令部分；所述调度测试流单元根据CVM执行结果调度测试流，并通过所述通信单元与所述被测设备DUT执行交互测试。2.根据权利要求1所述的基于动态传递参数的ATE装置，其特征在于，所述测试条件包括所述ATE装置的硬件资源、端口号、输入激励和/或信号大小值。3.一种基于动态传递参数的ATE装置，采用权利要求1或2所述的ATE装置方法，其特征在于，包括：步骤S1：动态配置测试程序模块中所涉及到的所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员：李行，
申请(专利权)人：上海御渡半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：