一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法技术

本发明专利技术涉及一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法，包括：步骤1)确定探头频谱测试信号中的一次回波S1(t)和二次回波S2(t)；步骤2)分别计算其频谱S1(ω)和S2(ω)；步骤3)待测超声探头，对平板试块，实测频谱为：S0(ω)＝S

【技术实现步骤摘要】
(ω)＝S
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(ω)/(ωS2(ω))；对半圆柱试块，待测超声探头的实测频谱为：S0(ω)＝S
12
(ω)/S2(ω)。
[0008]进一步的，所述频谱S
n
(ω)为信号的幅度频谱，n＝1、2，由所述反射回波信号S
n
(t)经过傅里叶变换得到。
[0009]进一步的，所述方法适用于超声纵波探头的频谱检测，适用于平板状试块或半圆柱状试块作为反射体时的衰减补偿。
[0010]理论基础
[0011]1、探头频谱性能测试模型
[0012]超声纵波探头性能测试过程中，可将探头视为欠阻尼单自由度振动系统，其运动方程为
[0013][0014]其中m，r
m
，K分别是系统的质量、阻尼系数和劲度系数，S(t)为探头测试时的激励信号，t为时间。对于该系统，其响应频谱为
[0015][0016]其中ω0为系统固有频率，A0为激励信号幅度，Q
m
＝ω0m/r
m
为品质因数，为归一化频率，ω为激励信号角频率。
[0017本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法，采用试块进行频谱测试，测试时，将待测超声探头耦合于试块表面，所述探头输入端连接激励单元、输出端连接形波接收单元，激励单元以负方波激励所述探头，声波经所述试块反射后的回波信号由所述探头接收并输出至所述波形接收单元，其特征在于，所述探头的测试频谱采用如下步骤确定：步骤1)由所述波形接收单元获取所述反射回波信号中的一次回波S1(t)和二次回波S2(t)，S1(t)和S2(t)为所述反射回波信号的时域表达，t为时间；步骤2)计算一次回波S1(t)和二次回波S2(t)的频谱S1(ω)和S2(ω)，即S1(ω)和S2(ω)为所述反射回波信号的频域表达，ω为角频率；步骤3)计算所述探头的测试频谱...

【专利技术属性】
技术研发人员：张驰，潘强华，郑晖，刘太丽，
申请(专利权)人：中国特种设备检测研究院，
类型：发明
国别省市：