PID控制参数的获取方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供的PID控制参数的获取方法、装置、设备及介质，通过在PID控制器的自动整定周期中，若目标测量值大于传感器发送的测量值，则PID控制器控制处理设备以100％的额定功率运行，并在运行过程中获取到第一时长和第一测量值；若目标测量值小于或等于传感器发送的测量值，则PID控制器控制处理设备以0％的额定功率运行，并在运行过程中获取到第二时长和第二测量值。PID控制器再根据第一时长、第一测量值、第二时长和第二测量值计算得到PID控制参数。本方案通过获取第一时长、第一测量值、第二时长和第二测量值，并计算得到PID控制参数，有效提高了PID控制参数的获取准确率。有效提高了PID控制参数的获取准确率。有效提高了PID控制参数的获取准确率。

【技术实现步骤摘要】
PID控制参数的获取方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及自动化领域，尤其涉及一种比例/积分/微分(Proportion Integral Differential，简称：PID)控制参数的获取方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着自动化技术的发展，由于比例/积分/微分(Proportion Integral Differential，简称：PID)控制方法具有算法简单、稳定性高的特点，PID控制方法在装备控制和自动化生产中的应用也越来越多，对于PID控制参数设置的精准度要求也越来越高。在用户使用PID控制器之前，通常会对PID控制器中的PID控制参数进行设置，以达到比较好的控制状态。
[0003]现有技术中，需要工作人员对PID控制器进行调试来实现对PID控制参数进行设置，先将PID控制参数中的积分项设置为无穷大，微分项设置为0，边从大到小调节比例项，边观察过程曲线的变化；确定了比例项后，再边从大到小调节积分项，边观察过程曲线的变化；确定了积分项后，再边从小到大调节微分项，边观察过程曲线的变化，确定微分项。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PID控制参数的获取方法，其特征在于，包括：在PID控制器的自动整定周期中，获取第一时长，第一测量值，第二时长以及第二测量值，其中，所述第一时长和所述第一测量值是在所述PID控制器控制的处理设备以100％的额定功率运行过程中获取的，所述第一时长为以100％的额定功率运行过程中的累计采样周期的时长，所述第一测量值为以100％的额定功率运行过程中传感器发送的测量值中的最小测量值，所述第二时长和所述第二测量值是在所述PID控制器控制的处理设备以0％的额定功率运行过程中获取的，所述第二时长为以0％的额定功率运行过程中的累计采样周期的时长，所述第二测量值为以0％的额定功率运行过程中传感器发送的测量值中的最大测量值，所述采样周期为传感器发送测量值的周期，所述自整定周期从测量值第一次等于预设的目标测量值开始，到第三次等于所述目标测量值结束；根据所述第一时长，所述第一测量值，所述第二时长和所述第二测量值，计算得到PID控制参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在PID控制器的自动整定周期中，获取第一时长，第一测量值，第二时长以及第二测量值，包括：在PID控制器进入自动整定周期之后，判断所述目标测量值是否大于接收到的传感器发送的测量值；若所述目标测量值大于所述测量值，则控制所述处理设备以100％的额定功率运行；将累计的采样周期的时长进行累加，得到所述第一时长；将上个采样周期的第一测量值与当前采样周期所述传感器发送的测量值的最小值确定为本次采样周期的第一测量值；若所述目标测量值小于或等于所述测量值，则控制所述处理设备以0％的额定功率运行；将累计的采样周期的时长进行累加，得到所述第二时长；将上个采样周期的第二测量值与当前采样周期所述传感器发送的测量值的最大值确定为本次采样周期的第二测量值；获取所述传感器发送的测量值；重复上述步骤，直至自整定周期结束。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在PID控制器进入自整定周期之前，所述方法还包括：判断所述目标测量值是否大于所述传感器发送的测量值；若所述目标测量值大于所述测量值，则控制所述处理设备以100％的额定功率运行；若所述目标测量值小于所述测量值，则控制所述处理设备以0％的额定功率运行；获取所述传感器发送的测量值；重复上述步骤，直至测量值第一次等于所述目标测量值，所述PID控制器进入自整定周期。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一时长，所述第一测量值，所述第二时长和所述第二测量值，计算得到PID控制参数，包括：根据所述第一测量值N1，所述第二测量值N2，所述第一时长T1和所述第二时长T2，采用公式：P＝K1*((T1+T2)*N
big
)/T
big
，I＝K2*(T1+T2)2/T
big
，D＝I/4计算得到所述PID控制参数中的
比例项P，所述PID控制参数中的积分项I，所述PID控制参数中的微分项D；其中，N
big
为所述第一测量值N1与所述第二测量值N2中的较大值，T
big
为所述第一时长T1与所述第二时长T2中的较大值，K1，K2为与所述采样周期有关的常数，并且大于0。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述判断所述目标测量值是否大于所述传感器发送的测量值之前，所述方法还包括：接收整定PID控制参数启动指令，并根据所述整定PID控制参数启动指令获取所述传感器发送的所述测量值。6.一种PID控制参数的获取装置，其特征在于，包括：获取模块，用于在PID控制器的自动整定周期中，获取第一时长，第一测量值，第二时长以及第二测量值，其中，所述第一时长和所述第一测量值是在所述PID控制器控制的处理设备以10...

【专利技术属性】
技术研发人员：咸明哲，金成龙，
申请(专利权)人：上海中韩杜科泵业制造有限公司，
类型：发明
国别省市：