检测装置制造方法及图纸

本申请涉及一种检测装置。该检测装置包括：匀光结构及光源组件。匀光结构包括透明基体及设置于透明基体的多个匀光单元。透明基体包括第一表面、与第一表面相对设置的第二表面及连接第一表面与第二表面的多个侧表面，光源组件位于透明基体的至少一个侧表面，多个匀光单元设置于第一表面，匀光单元用于将光源组件发出的光线反射后入射至待测物。上述检测装置，由于在透明基体上设置多个匀光单元，光源组件发出的光线经匀光单元反射后入射至待测物的表面，可以将光源组件发出的光线进行均匀化，使得光线可以均匀的照射在待测物的表面，还可以减少或消除光源组件带来的阴影，有利于提高检测装置的准确性。提高检测装置的准确性。提高检测装置的准确性。

【技术实现步骤摘要】
检测装置


[0001]本专利技术涉及检测
，特别是涉及一种检测装置。

技术介绍

[0002]本部分提供的仅仅是与本公开相关的背景信息，其并不必然是现有技术。
[0003]目前市场上的许多检测装置都会自带光源系统，这样在检测的过程中由于自带光源，所以对于检测的效果更好，更加容易查找待测物的问题或缺陷。
[0004]但是，现有技术的检测装置的光源在提供照明的时候，由于光线的不均匀对于检测中有一些缺陷不能检测出，或者因为光源的不稳定性，会出现阴影，出现新增“缺陷”的误判，所以有必要提供一种光线均匀的检测装置，提高检测的准确率。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是至少解决上述存在的问题之一。该目的是通过以下技术方案实现的：
[0006]本申请的实施例提出了一种检测装置，该检测装置包括：匀光结构及光源组件，所述匀光结构包括透明基体及设置于所述透明基体的多个匀光单元，所述透明基体包括第一表面、与所述第一表面相对设置的第二表面及连接所述第一表面与所述第二表面的多个侧表面，所述光源组件位于所述透明基体的至少一个侧表面，多个所述匀光单元设置于所述第一表面，所述匀光单元用于将光源组件发出的光线反射后入射至待测物。
[0007]根据本申请实施例的检测装置，由于在透明基体上设置多个匀光单元，光源组件发出的光线经匀光单元反射后入射至待测物的表面，可以将光源组件发出的光线进行均匀化，使得光线可以均匀的照射在待测物的表面，还可以减少或消除光源组件带来的阴影，有利于提高检测装置的准确性。
[0008]另外，根据本专利技术实施例的检测装置，还可具有如下附加的技术特征：
[0009]在其中一个实施例中，多个所述匀光单元在所述第一表面的投影的面积之和与所述第一表面的面积之比大于0，且小于等于50％。
[0010]在其中一个实施例中，匀光单元的截面的边线与第一表面之间的夹角为35
°‑
55
°
。
[0011]在其中一个实施例中，所述匀光结构还包括透明胶层，所述透明胶层设置于所述第一表面，所述匀光单元设置于所述透明胶层远离所述第一表面的表面。
[0012]在其中一个实施例中，所述匀光单元的表面设置有功能层，所述功能层能够反射光线而且能够遮光。
[0013]在其中一个实施例中，所述功能层为设置在所述匀光单元表面的反射层和/或油墨层。
[0014]在其中一个实施例中，多个所述匀光单元均匀分布在所述透明基体上。
[0015]在其中一个实施例中，所述匀光单元为凹陷结构或凸起结构。
[0016]在其中一实施例中，还包括载物台及图像收集单元，所述载物台用于承载待测物，
所述载物台位于所述透明基体的所述第二表面的下方，所述图像收集单元位于所述透明基体的所述第一表面的上方。
[0017]在其中一个实施例中，所述透明基体包括四个所述侧表面，所述光源组件为四个，四个所述光源组件分别位于四个所述侧表面。
附图说明
[0018]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
[0019]图1为本专利技术一实施例中的检测装置的结构示意图；
[0020]图2为图1所示的匀光结构的结构示意图；
[0021]图3为图2所示的匀光结构与光源组件配合的结构示意图；
[0022]图4为本专利技术第二实施例的匀光结构的结构示意图；
[0023]图5为本专利技术第三实施例的匀光结构的结构示意图。
具体实施方式
[0024]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施方式。虽然附图中显示了本公开的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0025]应理解的是，文中使用的术语仅出于描述特定示例实施方式的目的，而无意于进行限制。除非上下文另外明确地指出，否则如文中使用的单数形式“一”、“一个”以及“所述”也可以表示包括复数形式。术语“包括”、“包含”、“含有”以及“具有”是包含性的，并且因此指明所陈述的特征、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但并不排除存在或者添加一个或多个其它特征、步骤、操作、元件、部件、和/或它们的组合。
[0026]尽管可以在文中使用术语第一、第二、第三等来描述多个元件、部件、区域、层和/或部段，但是，这些元件、部件、区域、层和/或部段不应被这些术语所限制。这些术语可以仅用来将一个元件、部件、区域、层或部段与另一区域、层或部段区分开。除非上下文明确地指出，否则诸如“第一”、“第二”之类的术语以及其它数字术语在文中使用时并不暗示顺序或者次序。因此，以下讨论的第一元件、部件、区域、层或部段在不脱离示例实施方式的教导的情况下可以被称作第二元件、部件、区域、层或部段。
[0027]为了便于描述，可以在文中使用空间相对关系术语来描述如图中示出的一个元件或者特征相对于另一元件或者特征的关系，这些相对关系术语例如为“内部”、“外部”、“内侧”、“外侧”、“下面”、“下方”、“上面”、“上方”等。这种空间相对关系术语意于包括除图中描绘的方位之外的在使用或者操作中装置的不同方位。例如，如果在图中的装置翻转，那么描述为“在其它元件或者特征下面”或者“在其它元件或者特征下方”的元件将随后定向为“在其它元件或者特征上面”或者“在其它元件或者特征上方”。因此，示例术语“在
……
下方”可以包括在上和在下的方位。装置可以另外定向(旋转90度或者在其它方向)并且文中使用的空间相对关系描述符相应地进行解释。
[0028]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0029]需要说明的是，在本申请中，由「一数值至另一数值」表示的范围，是一种避免在说明书中一一列举该范围中的所有数值的概要性表示方式。因此，某一特定数值范围的记载，涵盖该数值范围内的任意数值以及由该数值范围内的任意数值界定出的较小数值范围，如同在说明书中明文写出该任意数值和该较小数值范围一样。
[0030]请参阅图1，本申请一实施例的检测装置10包括匀光结构100、光源组件200、图像收集单元300及载物台400，载物台400用于承载待测物500，匀光结构100位于载物台400的上方，光源组件200位于匀光结构100的侧表面，图像收集单元300位于匀光结构100的上方。本实施例的检测装置10可用在显微镜上。
[0031]请一并参阅图1及图2，匀光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：匀光结构及光源组件，所述匀光结构包括透明基体及设置于所述透明基体的多个匀光单元，所述透明基体包括第一表面、与所述第一表面相对设置的第二表面及连接所述第一表面与所述第二表面的多个侧表面，所述光源组件位于所述透明基体的至少一个侧表面，多个所述匀光单元设置于所述第一表面，所述匀光单元用于将光源组件发出的光线反射后入射至待测物。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，多个所述匀光单元在所述第一表面的投影的面积之和与所述第一表面的面积之比大于0，且小于等于50％。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，匀光单元的截面的边线与第一表面之间的夹角为35
°‑
55
°
。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述匀光结构还包括透明胶层，所述透明胶层设置于所述第一表面，所述匀光单元设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴丽莹，
申请(专利权)人：吴丽莹，
类型：发明
国别省市：