用于对测量对象进行功能检验的组件制造技术

描述了一种用于对测量对象、即所谓的DUT进行功能检验的组件，所述测量对象呈医学植入物或医学植入物的至少一部分的形式。所述组件包括：测试信号发生器；测试模块，所述测试模块与测试信号发生器连接并且具有带有至少一个接触电极的第一接收结构，与DUT能松开地固定连接的适配模块能够在形成至少一个电接触的情况下被置入到所述第一接收结构中；以及控制和评估单元，所述控制和评估单元与测试信号发生器和测试模块间接地或直接地无线地或有线地连接。地连接。地连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于对测量对象进行功能检验的组件


[0001]本专利技术涉及一种用于测量对象、即所谓的DUT进行功能检验的组件，所述测量对象呈医学植入物或医学植入物的至少一部分的形式。

技术介绍

[0002]用于电刺激局部的体内区域的能植入的医学装置、例如用于心脏治疗的除颤、起搏器以及再同步应用、用于神经刺激治疗的措施、例如脊髓刺激、脑刺激或迷走神经刺激的能短暂植入的脉冲发生器(IPG)(仅举几例)通常具有流体密封地封闭的壳体，在所述壳体中包含用于产生电脉冲的部件、即呈电池或感应线圈形式的至少一个电源以及与所述电源连接的电路结构。此外，所谓的头部分大多与壳体衔接，在所述头部分中包含与能源或电路结构电连接的电接触组件，以头部分流体密封地封闭的插头组件能够插入到所述电接触组件中，所述插头组件与输入电线和输出电线触点接通用于在体内局部地施加电刺激信号以及必要时将体内局部地分接的电信号输送到存在于壳体侧的电路结构。
[0003]随着医学植入物的越来越大的功能范围，装配在植入物内部的电部件或电子部件的数量也增多，所述电部件或电子部件由于最小的空间需求而紧密包装地并且复杂地彼此连接地布置在至少一个电路板上。用于运行医学植入物所需的电能通过集成到植入物内部的电池或者通过感应能量传输被提供。
[0004]不仅为了改进并且制造植入物而且为了在医学植入物的大量生产中的质量控制和质量保证而检验和控制过程是必不可少的。为了排除在生产过程期间出现的故障的拖延，在整个生产过程期间、分别在医学植入物的不同的构建阶段对功能确定的部件进行测量技术检查。各个功能检验的可重复性和记录性在此相应地是特别重要的。
[0005]出版物US 2018/9931629 A1公开了一种用于对半导体元件组件进行功能检验的测试组件，其中，待检查的半导体元件组件布置在检验插座中，所述检验插座无线地被施加测试信号。
[0006]出版物US2002/0079912 A1公开一种用于电路板的检验组件，所述检验组件出于检验目的能够被插入到检验插座中并且能够被施加电检验信号。
[0007]出版物DE 20 2006 000 739 U1公开一种装置用于测试电子元件、特别是具有集成电路、触点插座的元件，待检验的元件能够与所述触点插座接触。

技术实现思路

[0008]本专利技术的任务在于，给出一种用于对测量对象进行功能检验的组件，所述测量对象优选地呈医学植入物或医学植入物的至少一部分的形式，从而可以安全地、可靠地并且以可靠的可重复性对制成的产品、优选地医学植入物或所述医学植入物的一部分进行功能检验，所述医学植入物不仅以小批量地而且以工业规模被制造，所述功能检验此外被记录，以满足保修要求。
[0009]本专利技术所基于的任务在权利要求1中给出。以有利的方式进一步改进专利技术构思的
特征可以由从属权利要求以及特别是参考绘图示出的实施例的进一步的说明的内容获知。
[0010]根据解决方案的用于对测量对象进行功能检验的组件基本上由测试信号发生器、测试模块、能置入到测试模块中的适配模块以及控制和评估单元组成，所述测量对象优选地以医学植入物或医学植入物的至少一部分的形式存在并且此外被称为DUT(Device Under Test，被测器件)。
[0011]优选地通过电接口与测试模块连接的测试信号发生器产生用于检验DUT所需的测试信号，所述测试信号通过测试模块间接地被传输到DUT。公知的具有能固定选择或自由选择地预给定的电测试信号的测试信号发生器原则上是适用的。根据待检验的DUT的类型和使用目的，测试信号发生器能够模拟例如EKG信号或者产生例如相应于神经电信号的电信号形式。优选地，测试信号发生器适用于产生具有能任意预给定的时间变化曲线和时间周期循环的电压，所述时间周期循环同样能够个别地被预给定。优选的测试信号发生器例如是模拟的或数字的功能发生器。
[0012]在最简单的实施方式中，优选地通过连接线缆与测试信号发生器连接的测试模块具有带有至少一个、优选地多个接触电极的第一接收结构，与DUT能松开地固定连接的适配模块能够在形成至少一个电接触的情况下被置入到所述第一接收结构中。
[0013]测试模块具有壳体，第一接收结构优选地以在壳体内部的凹进部的形式设置在所述壳体中，与DUT能松开地固定连接的适配模块能够在形成形状配合的情况下被置入到所述第一接收结构中。通过将适配模块置入到第一接收结构中而形成的形状配合连接确保适配模块在第一接收结构内部准确的安置并且由此也确保DUT相对于测试模块的第一接收结构准确的安置。同时形成安置在第一接收结构的凹进部的区域中的至少一个接触电极与适配模块之间的电连接。
[0014]对形状配合补充地，适配模块可选地通过附加的力配合连接而固定在测试模块上，例如通过设置适配模块和测试模块之间的施加弹簧力的夹紧连接或卡锁连接实现。替换的保持措施当然也可以直接地或间接地设置在测试模块上，所述保持措施能够将适配模块空间固定地相对于测试模块能松开地不动地固定。
[0015]通过将第一接收结构设置在测试模块内部确保，在准确地相同的检验条件下、即分别在遵循确定的空间位置和电接触的情况下可以检验多个分别结构相同地或不同地构造的DUT，所述DUT分别被置入到个别地与DUT相匹配的适配模块中，所述适配模块能够被置入到统一地构造的接收结构中。以所述方式可以实现对DUT能重复的、可靠的检验说明。
[0016]由此同一个测试模块被提供用于检验多个不同地预加工的DUT，所述DUT分别被置入到个别地与相应的DUT相匹配的适配模块中，该适配模块又能够被置入到测试盒的第一接收结构中。
[0017]为了对与适配模块连接的DUT进行检验，所述适配模块被置入到第一接收结构中，从测试发生器侧产生的测试信号通过测试模块和适配模块被传输到DUT。为此，根据安置在DUT上的、此外称为对电极的电触点的数量和布置，在测试模块上以及在适配模块侧设置对应的接触电极，测试信号以及可选地测试信号也可以通过所述接触电极在测试模块和DUT之间被传输。
[0018]控制和评估单元用于对检测到的测试信号进行检验和评估，所述控制和评估单元与测试信号发生器以及也与测试模块间接地或直接地连接。所述连接可以有线地或无线地
实现并且首先用于在各个部件之间传输控制和测试信号。控制和评估单元典型地以计算机或电脑的形式设计，所述计算机或电脑具有用于评估测试信号以及也纪录测试信号所需的所有部件或外围设备、例如存储器、监测器等。
[0019]在一个另外的实施方式中，测试模块具有相对于第一接收结构空间固定地布置的第二接收结构，为了电能和/或信号传输而与DUT无接触地相互作用的电附加部件、例如感应线圈和/或信号天线组件能够接合到所述第二接收结构中。
[0020]在具有感应线圈装置和/或天线装置的DUT的情况中，借助于置入第二接收结构的电附加部件可以检验DUT和外部的线圈和天线单元之间的无接触的能量和/或信号传输的功能能力。为此，第二接收结构优选地以在测试模块内部的抽屉式的凹进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于对测量对象、即所谓的DUT进行功能检验的组件，所述测量对象呈医学植入物或所述医学植入物的至少一部分的形式，所述组件具有：a)测试信号发生器，b)测试模块，所述测试模块与所述测试信号发生器连接并且具有带有至少一个接触电极的第一接收结构，与所述DUT能松开地固定连接的适配模块能够在形成至少一个电接触的情况下被置入到所述第一接收结构中，以及c)控制和评估单元，所述控制和评估单元与所述测试信号发生器和所述测试模块间接地或直接地无线地或有线地连接。2.根据权利要求1所述的组件，其特征在于，所述测试模块具有相对于所述第一接收结构空间固定地布置的第二接收结构，为了电能和/或信号传输而与所述DUT无接触地相互作用的电附加部件能够接合到所述第二接收结构中。3.根据权利要求2所述的组件，其特征在于，所述电附加部件包括感应线圈和/或信号天线。4.根据权利要求2或3所述的组件，其特征在于，所述控制和评估单元与所述电附加部件无线地或有线地连接。5.根据权利要求1至4中任一项所述的组件，其特征在于，所述第一接收结构具有能与所述适配模块接触的至少一个接触面，至少一个接触电极布置在该至少一个接触面上，该至少一个接触电极在适配模块置入到所述第一接收结构中的状态中力配合地并且形状配合地与安置在适配模块侧面的对电极接触。6.根据权利要求1至5中任一项所述的组件，其特征在于，所述适配模块具有带有至少一个接触电极的第三接收结构，所述DUT能够在形成至少一个电接触的情况下被置入到所述第三接收结构中。7.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：F，
申请(专利权)人：纽罗路普有限公司，
类型：发明
国别省市：