一种双工位晶片自动测试分选机制造技术

一种双工位晶片自动测试分选机，包括基座箱，其特征在于：所述基座箱的顶板上设置有圆盘振动上料器、工位切换机构、双工位取料机构和双工位卸料机构，所述工位切换机构包括左侧圆盘、右侧圆盘和支架，左侧圆盘和右侧圆盘底部中心分别安装有驱动其旋转的旋转气缸，左侧圆盘和右侧圆盘上间隔设置有若干个晶片放置座，左侧圆盘和右侧圆盘的四周设置有数个不同功能的晶片测试装置，所述左侧圆盘和右侧圆盘之间的基座箱顶板上设置有晶片投放孔，所述基座箱的箱体内安装有晶片收纳装置，所述晶片收纳装置位于晶片投放孔的正下方。本实用新型专利技术结构简单、集成度高、成本低、测试分选效率高。成本低、测试分选效率高。成本低、测试分选效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种双工位晶片自动测试分选机


[0001]本技术涉及晶片制作
，具体涉及一种双工位晶片自动测试分选机。

技术介绍

[0002]石英晶片是制作石英晶体元器件的基体，石英晶体元器件具有优良的频率稳定 性、品质因素高和成本低的优点；在频率稳定技术中，基本上都使用了压电石英晶片制作的元件；对石英晶片的频率进行精准的测量和分选是提高石英晶体元器件质量和生产效率的 一个重要工艺过程。
[0003]目前，厂家都是一般采用人工上料，经测试机测试后，人工分选，分选成本高、分选效率低，非常容易出错。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是克服现技术的缺陷和不足，提供一种结构简单、集成度高、成本低、测试分选效率高的双工位晶片自动测试分选机。
[0005]为实现以上目的，本技术的技术解决方案是：一种双工位晶片自动测试分选机，包括基座箱，其特征在于：所述基座箱的顶板上设置有圆盘振动上料器、工位切换机构、双工位取料机构和双工位卸料机构，所述双工位取料机构和双工位卸料机构分别位于工位切换机构的两端，所述工位切换机构包括左侧圆盘、右侧圆本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双工位晶片自动测试分选机，包括基座箱（1），其特征在于：所述基座箱（1）的顶板上设置有圆盘振动上料器（2）、工位切换机构（3）、双工位取料机构（4）和双工位卸料机构（5），所述双工位取料机构（4）和双工位卸料机构（5）分别位于工位切换机构（3）的两端，所述工位切换机构（3）包括左侧圆盘（61）、右侧圆盘（62）和支架（7），所述左侧圆盘（61）和右侧圆盘（62）分别安置在支架（7）上，左侧圆盘（61）和右侧圆盘（62）底部中心分别安装有驱动其旋转的旋转气缸（8），左侧圆盘（61）和右侧圆盘（62）上间隔设置有若干个晶片放置座（9），左侧圆盘（61）和右侧圆盘（62）的上方以及四周设置有数个不同功能的晶片测试装置（10），所述双工位取料机构（4）、双工位卸料机构（5）位于左侧圆盘（61）和右侧圆盘（62）之间，所述左侧圆盘（61）和右侧圆盘（62）之间的基座箱（1）顶板上设置有晶片投放孔（11），所述基座箱（1）的箱体内安装有晶片收纳装置（12），所述晶片收纳装置（12）位于晶片投放孔（11）的正下方。2.根据权利要求1所述的双工位晶片自动测试分选机，其特征在于：所述双工位取料机构（4）包括固定在基座箱（1）顶板上的取料机构支架（13）、固定在取料机构支架（13）上的滑轨（14）和滑动连接在...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘东东，张明，李天宝，汪晓虎，谢凡，朱成，
申请(专利权)人：泰晶科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：