液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组制造方法及图纸

一种液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组，其中，所述方法包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。由此，能够全面地检测LCM的ESD异常。地检测LCM的ESD异常。地检测LCM的ESD异常。

【技术实现步骤摘要】
液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组


[0001]本专利技术涉及硬件测试领域，具体地涉及一种液晶模组的静电问题处理方法及装置、存储介质、液晶模组。

技术介绍

[0002]液晶模组(Liquid Crystal Display Module，简称LCM或LCD Module)在各类终端(或平台)进行应用时，会出现一些静电释放(Electro-Static discharge，简称ESD)引起的不良现象，如液晶显示器(liquid crystal display，简称LCD)显示画面错乱、显示颜色不对(如出现红(Red，简称R)绿(Green，简称G)蓝(Blue，简称B)颜色反)、LCD驱动时序(GIP timing)错乱(如门面板(Gate in Panel，简称GIP)的时钟信号的高脉宽变窄等)、显示电压异常等。
[0003]传统地，通常通过两种方式来检测LCM由于ESD产生的异常：读取状态寄存器的值或者对TE信号检测，其中，TE信号为TE(tearing effect)输出引脚输出的信号，也可称为同步信号。然而，读取状态寄存器的值检测ESD异常时，无法检测不在状态寄存器所覆盖范围内的不良现象，而TE检测无法检测到不能使TE信号发生异常的不良现象。由此，传统的两种检测方式均无法全面地检测LCM的ESD异常。

技术实现思路

[0004]本专利技术解决的技术问题是如何全面地检测LCM的ESD异常。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种液晶模组的静电问题处理方法，包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。
[0006]可选的，所述预设存储器为一次性可编程存储器。
[0007]可选的，所述将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器，包括：通过所述一次性可编程存储器的重写功能将所述正常值写入所述正常值对应的寄存器。
[0008]可选的，所述正常值被烧录至所述预设存储器之后，还包括：开启所述一次性可编程存储器的重写功能，以通过所述一次性可编程存储器的重写功能将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器。
[0009]可选的，所述预设时间小于两次读取状态寄存器的值的间隔时间。
[0010]可选的，所述正常值对应的寄存器是通过如下方法定位的：根据静电释放时液晶模组的异常状态，确定待检测寄存器；对各个待检测寄存器进行检测，以定位一个或多个正常值对应的寄存器；其中，所述对各个待检测寄存器进行检测，包括：对各个待检测寄存器写入正常值，能够使所述液晶模组由异常状态恢复正常；或，对待检测寄存器写入异常值，能够使所述液晶模组的异常状态复现。
[0011]可选的，所述正常值对应的寄存器是通过如下方法定位的：在所述液晶模组由于
静电释放出现异常时，对所有寄存器写入正常值，检测液晶模块的工作状态；逐次减少写入正常值的寄存器的数量，且在每次写入后检测液晶模组的工作状态；将使得所述液晶模组的异常状态恢复正常的寄存器作为所述正常值对应的寄存器。
[0012]本专利技术实施例还提供一种液晶模组的静电问题处理装置，包括：寄存器写入模块，用于每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。
[0013]本专利技术实施例还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现任一项所述方法的步骤。
[0014]本专利技术实施例还提供一种液晶模组，包括寄存器、预设存储器和驱动IC，所述驱动IC执行任一项所述方法的步骤。
[0015]与现有技术相比，本专利技术实施例的技术方案具有以下有益效果：
[0016]本专利技术实施例提供一种液晶模组的静电问题处理方法，包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。较之现有技术，本专利技术的方案中，预先定位静电释放时可能出错的一个或多个寄存器，将这些寄存器的正常器存储至预设存储器中，并每隔预设时间(可为毫秒级)写入所述正常值对应的寄存器，从而定时复位这些易出错的寄存器。较之传统方法所能覆盖的寄存器范围广很多，预设存储器里能烧写的寄存器都能覆盖到；此方法只需改动Driver IC，能够适用于不能支持传统方法的平台；毫秒级别的复位间隔可以在用户发现异常之前，即通过复位寄存器克服异常，能够有效提高用户的使用体验。
[0017]进一步，在终端出厂之前，将正常值存储至预设存储器中，在其出厂之后解决ESD异常，终端的Driver IC能够自行解决因寄存器错乱而引起的ESD不良，而无需平台的驱动工程师支持，且该方法能够适用于不同的平台，使用范围更广。
[0018]进一步，直接通过OTP的重写功能完成正常值的写入。
[0019]进一步，本专利技术实施例提供了两种ESD不良的寄存器的定位方法，能够准确定位LCM中可能导致ESD不良的寄存器，以在预设存储器中存储这些寄存器的正常值，从而解决在终端运行时的ESD不良。
附图说明
[0020]图1为现有技术中的主机ESD检测流程的示意图；
[0021]图2为现有技术中一种正常TE信号的波形图；
[0022]图3为现有技术中一种主机和Driver IC的连接示意图；
[0023]图4为本专利技术实施例的一种液晶模组的静电问题处理方法的流程示意图；
[0024]图5为本专利技术实施例的一种主机与Driver IC的交互的示意图；
[0025]图6为本专利技术实施例的一种定位所述正常值对应的寄存器的方法的流程示意图；
[0026]图7为本专利技术实施例的另一种定位所述正常值对应的寄存器的方法的流程示意图；
[0027]图8为本专利技术实施例的一种液晶模组的静电问题处理装置的结构示意图。
具体实施方式
[0028]如
技术介绍
所言，现有技术中提供的两种传统检测方式均无法全面地检测LCM的ESD异常。
[0029]具体地，请参见图1，图1为现有技术中的主机ESD检测流程的示意图。一般采用两种传统检测方法：方法一也称作“读状态寄存器方法”，主机周期性读状态寄存器的值，方法一包括以下步骤：
[0030]步骤S111，存储驱动(Driver)IC的状态寄存器的初始值；
[0031]步骤S112，主机定时读IC的状态寄存器的值并与初始值进行对比；
[0032]若步骤S112中读取的值与初始值相同，执行步骤S1113，主机不动作；主机ESD检测流程结束。
[0033]若步骤S112中读取的值与初始值不相同，执行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶模组的静电问题处理方法，其特征在于，所述方法包括：每隔预设时间，将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器；其中，所述正常值被预先烧录至所述预设存储器，所述正常值对应的寄存器为预先定位的、静电释放时出错的寄存器，所述正常值对应一个或多个寄存器。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设存储器为一次性可编程存储器。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器，包括：通过所述一次性可编程存储器的重写功能将所述正常值写入所述正常值对应的寄存器。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述正常值被烧录至所述预设存储器之后，还包括：开启所述一次性可编程存储器的重写功能，以通过所述一次性可编程存储器的重写功能将预设存储器内的正常值写入所述正常值对应的寄存器。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设时间小于两次读取状态寄存器的值的间隔时间。6.根据权利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，所述正常值对应的寄存器是通过如下方法定位的：根据静电释放时液晶模组的异常状态，确定待检测寄存器；对各个待检测寄存器进行检测，以定位一个或多个正常值对应的寄存...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚军，
申请(专利权)人：格科微电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：