一种测试针制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测试针，包括圆柱形的杆体和圆锥形的针头；所述针头的尾端与所述杆体固定连接，其中，所述针头的尾端的外缘上设置有环状的导电片，所述导电片的外径大于所述杆体的外径。该测试针的通用性好，可用于检测不同孔径大小的电镀通孔。测不同孔径大小的电镀通孔。测不同孔径大小的电镀通孔。

【技术实现步骤摘要】
一种测试针


[0001]本技术涉及测试装置
，尤其涉及一种测试针。

技术介绍

[0002]测试针又称探针，被广泛应用于电路板的测试中。在对电路板上的电镀通孔进行测试时，会将测试针的针头插入电镀通孔内，其中，需要保证针头的侧壁与电镀通孔的内壁相接触。
[0003]但现有的测试针通用性差，尤其是在测试大孔径的电镀通孔时，需要更换对应规格的测试针，才能避免出现接触不良的情况。而如何提高测试针的通用性，是目前亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种测试针，用以解决现有技术中的问题。
[0005]为解决上述问题，本技术提供了：一种测试针，包括圆柱形的杆体和圆锥形的针头；
[0006]所述针头的尾端与所述杆体固定连接，其中，所述针头的尾端的外缘上设置有环状的导电片，所述导电片的外径大于所述杆体的外径。
[0007]进一步地，所述针头与所述杆体可拆卸连接。
[0008]进一步地，所述针头与所述杆体螺纹连接。
[0009]进一步地，所述针头的尾端的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试针，其特征在于，包括圆柱形的杆体和圆锥形的针头；所述针头的尾端与所述杆体固定连接，其中，所述针头的尾端的外缘上设置有环状的导电片，所述导电片的外径大于所述杆体的外径。2.根据权利要求1所述的测试针，其特征在于，所述针头与所述杆体可拆卸连接。3.根据权利要求2所述的测试针，其特征在于，所述针头与所述杆体螺纹连接。4.根据权利要求3所述的测试针，其特征在于，所述针头的尾端的端面上设置有螺纹柱，所述杆体上设置有螺纹孔；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷红梅，李飞云，覃沿日，
申请(专利权)人：桂林海威科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：