冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质。包括：将带有目标元素浓度标签值和光谱特征值的物料样本，按照浓度标签值，等距离划分为预设数量的段，标记每段包括的物料样本的数量；根据每段包括的物料样本的数量中的最大值，和每段包括的物料样本的数量，得到每段对应的权重；构建回归方程；根据每段对应的权重和回归方程，构建加权损失函数；将每段包括的物料样本的浓度标签值和光谱特征值代入加权损失函数，根据加权损失函数确定述回归方程系数，使用回归方程完成物料样本分布不均衡的回归优化。能够解决物料样本目标元素浓度分布不均衡情况下的小样本LIBS光谱数据欠拟合问题，提升小样本LIBS光谱的预测精度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及冶金光谱分析
，特别涉及一种冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]在冶金光谱分析领域内采集到的光谱样本数据根据浓度分布往往是不均衡的，如铜冶炼中的冰铜节点为了确保下一道工序的合理进行，冰铜中的铜元素浓度都是控制在一定范围内的，超出该浓度范围的物料往往是少数情况，所以采集到的浓度范围以外的冰铜光谱数据是较少的，但是这种少数情况也是用户更为关注的情况，对于此类问题解决样本分布不均衡的回归准确性更为关键。
[0003]由于采集到的浓度范围以外的冰铜光谱数据较少，所以使用常规的物料样本浓度分布不均衡的光谱特征回归分析方法出现了欠拟合的情况，并因此造成光谱分析准确性不足，无法对超出浓度范围的物料的少数情况做出准确预测。

技术实现思路

[0004]为了至少部分地解决现有技术存在的技术问题，专利技术人做出本专利技术，通过具体实施方式，提供一种冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质。
[0005]第一方面，本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种冶金光谱特征回归方法，其特征在于，包括以下步骤：将带有目标元素浓度标签值和光谱特征值的物料样本，按照所述浓度标签值，标定在表示浓度标签值的线段上，将所述标定了物料样本的线段等距离划分为预设数量的段，标记每段包括的物料样本的数量；根据所述每段包括的物料样本的数量中的最大值，和所述每段包括的物料样本的数量，得到每段对应的权重，i为段的序号；根据所述浓度标签值和光谱特征值，构建回归方程；根据所述每段对应的权重和所述回归方程，构建加权损失函数；将每段包括的物料样本的浓度标签值和光谱特征值代入所述加权损失函数，求解损失函数最小值对应的所述回归方程的系数，从而确定回归方程；根据确定的回归方程，完成物料样本分布不均衡的回归优化。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述标定了物料样本的线段等距离划分为预设数量的段，包括以下步骤：将所述物料样本中的最大浓度标签值减去最小浓度标签值，除以段的预设数量，得到每段长度，按照所述每段长度，等距离划分所述标定了物料样本的线段。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每段包括的物料样本的数量中的最大值，和所述每段包括的物料样本的数量，得到每段对应的权重，i为段的序号，包括以下步骤：每段对应的权重通过下式得到：其中，为所述每段包括的物料样本的数量中的最大值，为所述每段包括的物料样本的数量，i为段的序号。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述浓度标签值和光谱特征值，构建回归方程，包括以下步骤：根据所述每段包括的物料样本的数量，构建物料样本数量集合，i为段的序号，表示第i段包括的物料样本的数量；根据每段包括的物料样本的浓度标签值，构建物料样本浓度标签值集合，其中表示第i段的第个物料样本的浓度标签值；根据每段包括的物料样本的光谱特征值，构建物料样本光谱特征值集合，其中
表示第i段的第个物料样本的光谱特征值；根据所述物料样本浓度标签值集合和物料样本光谱特征值集合，构建回归方程。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述物料样本浓度标签值集合和物料样本光谱特征值集合，构建回归方程，包括以下步骤：根据所述物料样本浓度标签值集合和物料样本光谱...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘从元，张兵，贾军伟，
申请(专利权)人：合肥金星智控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：