检测方法和检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测方法和一种检测装置。检测方法包括：获取第一样品的标定基准；对第一样品进行检测，得到第一检测参数；根据标定基准与第一检测参数得到校准系数；根据校准系数获得待测样品的检测结果；其中，第一样品放置于第一滤光件上方，第二滤光件位于第一样品与信号分析装置之间。通过上述方法，可以通过一台检测装置对多种样品进行检测，并能够确保检测结果的准确性。扩大了检测装置的可检测范围，实现了仅通过一台检测装置即可对多种检测物进行检测的技术效果。还可以通过第二滤光片对第一样品的发射光光强进行调整，以满足检测装置的量程范围。测装置的量程范围。测装置的量程范围。

【技术实现步骤摘要】
检测方法和检测装置


[0001]本专利技术属于防伪检测
，具体而言，涉及一种检测方法和一种检测装置。

技术介绍

[0002]现有技术中，不同种类的检测样品在相同的激发条件下，由于单位体积或面积的防伪特征物质含量差异较大，防伪特征物质所产生的发射光的强度相差较大，由于发射光的光强跨度过大，同一检测装置难以满足对多种样品的检测需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此，本专利技术的第一方面提出了一种检测方法。
[0005]本专利技术的第二方面提出了一种检测装置。
[0006]有鉴于此，本专利技术第一方面提出了一种检测方法，包括：获取第一样品的标定基准；对第一样品进行检测，得到第一检测参数；根据标定基准与第一检测参数得到校准系数；根据校准系数获得待测样品的检测结果；其中，第一样品放置于第一滤光件上方，第二滤光件位于第一样品与信号分析装置之间。
[0007]本专利技术提出了一种检测方法，用于对检测物进行检测。该检测方法可用于对多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，包括：获取第一样品的标定基准；对所述第一样品进行检测，得到第一检测参数；根据所述标定基准与所述第一检测参数得到校准系数；根据所述校准系数获得待测样品的检测结果；其中，所述第一样品放置于第一滤光件上方，第二滤光件位于所述第一样品与信号分析装置之间。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：对放置于所述第一滤光件上方的第一待测样品进行检测，得到第二检测参数；根据所述校准系数与所述第二检测参数得到第一检测结果。3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述校准系数获得待测样品的检测结果，具体包括：对放置于所述第一滤光件下方的第二待测样品进行检测，得到第三检测参数；根据所述校准系数与所述第三检测参数得到第二检测结果。4.一种检测装置，其特征在于，包括：主体，包括样品仓，所述样品仓用于放置检测物；光源，设于所述主体，所述光源能够发出激发光；所述激发光能够照射所述检测物，以使所述检测物发出发射光；光调整部，设于所述样品仓，所述光调整部能够调整所述发射光的光强；信号分析装置，设于所述主体，用于接收所述发射光并对所述发射光进行分析。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张晓明，田翀，魏先印，纪磊，朱强，赵静，
申请(专利权)人：中国印钞造币总公司，
类型：发明
国别省市：