一种测试机的升降机构制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测试机的升降机构，包括底板、传动组件和手柄；传动组件包括至少一个传动杆、至少一个转动块和至少一个滑块，传动杆与转动块、滑块连接，滑块用于连接测试机机箱；底板上设有通孔，测试机机箱穿过通孔，传动组件位于底板表面，手柄连接传动组件，手柄用于在外力作用下带动传动组件传动，使测试机在滑块的作用下进行运动。本实用新型专利技术将测试机机箱与传动组件活动连接，通过传动组件和手柄的配合，使测试机在滑块的作用下进行运动。进一步的，滑块内设置有具有坡度的滑动槽，使测试机在垂直于底板的平面上运动。便于测试机在实际应用中根据具体情况的变化调整位置，节省人工搬运时间，提高测试机的工作效率。提高测试机的工作效率。提高测试机的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试机的升降机构


[0001]本技术涉及半导体测试设备
，具体涉及一种测试机的升降机构。

技术介绍

[0002]测试机是用于检测芯片功能和性能的专用设备。测试机在对芯片进行检测时，往往需要流转不同位置进行加工。在现有技术中，测试机在转换位置时，通常是通过手工调整，而测试机也具有一定的体积和重量，致使操作不便，导致效率低下。
[0003]为此，研究一种测试机的升降机构，克服测试机在使用过程中位置移动不便的缺陷，使测试机易于实现升降功能，便于调整测试机位置，节省人工搬运时间，提高测试机工作效率，是本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]为了克服上述现有技术的缺陷，本技术提供了一种测试机的升降机构，具体技术方案如下所示：
[0005]一种测试机的升降机构，包括底板、传动组件和手柄；
[0006]所述传动组件包括至少一个传动杆、至少一个转动块和至少一个滑块，所述传动杆与所述转动块、所述滑块连接，所述滑块用于连接测试机机箱；
[0007]所述底板上设有通孔，所述测试机机箱穿过所述通孔，所述传动组件位于所述底板表面，所述手柄连接所述传动组件，所述手柄用于在外力作用下带动所述传动组件传动，使所述测试机在所述滑块的作用下进行运动。
[0008]在一个具体实施例中，所述底板所在的平面为第一平面，垂直于所述底板的平面为第二平面，所述手柄带动所述传动组件在所述第一平面内作水平运动，使所述测试机在所述滑块的作用下在所述第二平面作竖直运动。
[0009]在一个具体实施例中，所述滑块内设有滑动槽，所述测试机机箱设有凸起，所述滑动槽与所述凸起相适配，所述滑动槽用于将所述测试机机箱与所述滑块连接。
[0010]在一个具体实施例中，所述滑动槽具有坡度。
[0011]在一个具体实施例中，至少一个所述转动块设置在所述底板上，所述滑块设置在所述测试机机箱相对的侧边，所述传动杆连接相邻的所述转动块或相邻的所述转动块、所述滑块，所述转动块、所述滑块和所述传动杆围绕在所述通孔外侧。
[0012]在一个具体实施例中，所述传动组件还包括销，所述转动块上设有通孔，所述销与所述通孔相适配，当所述测试机滑动到目标高度时，所述销与所述通孔插接，锁定所述传动组件。
[0013]在一个具体实施例中，所述转动块分为固定部和转动部，所述固定部与所述底板固定，所述转动部位于所述固定部与所述底板之间。
[0014]在一个具体实施例中，所述底板上设有滑条，所述滑块位于所述滑条上，当所述传动组件传动时，所述滑块在所述滑条上滑动。
[0015]在一个具体实施例中，所述滑块和所述转动块上皆设有连接部，所述连接部用于和所述传动杆连接。
[0016]在一个具体实施例中，所述手柄与所述转动块可拆卸连接。
[0017]本技术至少具有以下有益效果：
[0018]本技术的一种测试机的升降机构，包括底板、传动组件和手柄；传动组件包括至少一个传动杆、至少一个转动块和至少一个滑块，传动杆与转动块、滑块连接，滑块用于连接测试机机箱；底板上设有通孔，测试机机箱穿过通孔，传动组件位于底板表面，手柄连接传动组件，手柄用于在外力作用下带动传动组件传动，使测试机在滑块的作用下进行运动。本技术将测试机机箱与传动组件活动连接，通过传动组件和手柄的配合，使测试机在滑块的作用下进行运动。便于测试机在实际应用中根据具体情况的变化调整位置，节省人工搬运时间，提高测试机的工作效率。
[0019]进一步的，在滑块内设置滑动槽，测试机设有凸起，凸起放置在滑动槽内，且滑动槽具有坡度，使测试机在垂直于底板的平面上运动。
[0020]进一步的，传动组件还包括销，转动块设有通孔，当所述测试机滑动到目标高度时，销与通孔插接，锁定传动组件，固定测试机的高度。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1为本技术的测试机的升降机构的结构示意图；
[0023]图2为本技术的测试机的升降机构的转动块的爆炸图；
[0024]图3为本技术的测试机的升降机构的滑块的结构示意图；
[0025]图4为本技术的测试机的升降机构的传动杆的结构示意图；
[0026]图5为本技术的测试机的升降机构的滑块和测试机的结构示意图。
[0027]附图标记：
[0028]1‑
底板；2
‑
传动组件；3
‑
手柄；4
‑
测试机机箱；11
‑
通孔；21
‑
传动杆；22
‑
第一转动块；23
‑
第二转动块；24
‑
第三转动块；25
‑
第四转动块；26
‑
第一滑块；27第二滑块；28
‑
滑条；29
‑
销；41
‑
凸起；211
‑
镂空部；221
‑
固定部；222
‑
转动部；223
‑
转动块连接部；224
‑
通孔；225
‑
中心柱；261
‑
滑动槽；262
‑
滑块连接部。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0030]参见图1和图2，本实施例提供了一种测试机的升降机构，包括底板1、传动组件2和手柄3。底板1设有用于使测试机机箱4穿过的通孔11，传动组件2设置在底板1的表面、且围
绕在通孔11的外侧，手柄3与传动组件2连接，手柄3用于在外力作用下使传动组件2传动，使测试机机箱4在传动组件2的作用下进行运动。
[0031]实施例1
[0032]如图1所示，传动组件2包括传动杆21、第一转动块22、第二转动块23、第三转动块24、第四转动块25、第一滑块26和第二滑块27，传动组件2呈方形连接，第一转动块22、第二转动块23、第三转动块24和第四转动块25呈方形分布在底板1上，第一转动块22、第二转动块23、第三转动块24和第四转动块25分别位于通孔11的外侧，四个转动块皆与底板1固定连接，使底板1支撑传动组件2。第一滑块26和第二滑块27设置在通孔11相对的侧边，第一滑块26位于第一转动块22、第二转动块23之间，第二滑块2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试机的升降机构，其特征在于，包括底板、传动组件和手柄；所述传动组件包括至少一个传动杆、至少一个转动块和至少一个滑块，所述传动杆与所述转动块、所述滑块连接，所述滑块用于连接测试机机箱；所述底板上设有通孔，所述测试机机箱穿过所述通孔，所述传动组件位于所述底板表面，所述手柄连接所述传动组件，所述手柄用于在外力作用下带动所述传动组件传动，使所述测试机在所述滑块的作用下进行运动。2.根据权利要求1所述的测试机的升降机构，其特征在于，所述底板所在的平面为第一平面，垂直于所述底板的平面为第二平面，所述手柄带动所述传动组件在所述第一平面内作水平运动，使所述测试机在所述滑块的作用下在所述第二平面作竖直运动。3.根据权利要求1所述的测试机的升降机构，其特征在于，所述滑块内设有滑动槽，所述测试机机箱设有凸起，所述滑动槽与所述凸起相适配，所述滑动槽用于将所述测试机机箱与所述滑块连接。4.根据权利要求3所述的测试机的升降机构，其特征在于，所述滑动槽具有坡度。5.根据权利要求1所述的测试机的升降机构，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈小栋，
申请(专利权)人：杭州加速科技有限公司，
类型：新型
国别省市：