用于Sigma-DeltaADC的过载处理方法和系统技术方案

本发明专利技术一种用于Sigma

【技术实现步骤摘要】
用于Sigma
‑
DeltaADC的过载处理方法和系统


[0001]本专利技术涉及信号处理
，更特别地，涉及一种用于Sigma
‑
Delta ADC的过载处理方法和系统。

技术介绍

[0002]随着超大规模集成电路技术的飞速发展，采用一片式传感器信号采集和智能计算，可使系统具有更高的可靠性和更低的成本。如何用尽量简单合适的结构和低的功耗来实现系统需要的功能，成为科学研究和产品开发的热点。Sigma
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Delta ADC（analog to digital converter，模数转换器）在高精度AD转换领域有着广泛的应用，并且在目前小尺寸CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体）工艺下能很好地集成在芯片系统中。
[0003]在Sigma Delta ADC中经常存在过载现象，即积分器的理论输出超过了实际电路能够处理的范围。在现有的处理Sigma Delta ADC过载的方法中，一般是使用复位积分器或者对ADC本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于Sigma
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Delta ADC的过载处理方法，其特征在于，包括如下步骤：检测输入信号的幅值；根据输入信号的幅值与ADC的输入信号量程的比较结果，生成控制信号；以及根据所述控制信号，动态调整Sigma
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Delta ADC的前馈系数或反馈系数。2.根据权利要求1所述的用于Sigma
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Delta ADC的过载处理方法，其特征在于，在根据输入信号的幅值与ADC的输入信号量程的比较结果，生成控制信号的步骤中，如果输入信号的幅值大于ADC的输入信号量程，则所述控制信号为低电平；如果输入信号的幅值小于ADC的输入信号量程，则所述控制信号为高电平。3.根据权利要求2所述的用于Sigma
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Delta ADC的过载处理方法，其特征在于，根据所述控制信号，动态调整Sigma
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Delta ADC的前馈系数或反馈系数的步骤包括：根据所述控制信号，生成控制码；根据所述控制码，控制Sigma
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Delta ADC中的积分器的多个采样电容的连接来调整Sigma
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Delta ADC的前馈系数或反馈系数。4.根据权利要求3所述的用于Sigma
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Delta ADC的过载处理方法，其特征在于，如果所述控制信号为高电平，则控制每个积分器中的所有采样电容都使能；如果所述控制信号为低电平，则控...

【专利技术属性】
技术研发人员：张际宝，李炜，廖火荣，李建峰，
申请(专利权)人：深圳市爱普特微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：