按键寿命测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及电子产品按键寿命测试领域，具体公开了按键寿命测试设备，该按键寿命测试设备通过在测试台上设有上连接板与下连接板，并且在上连接板与下连接板上分别设有用于安装测试杆的连接块，通过使测试杆上下设置成双工位，提高测试效率，且连接块上设有第一U形孔，可使测试杆在第一U形孔的长度范围内根据产品规格进行上下调节，增加设备的通用性，并且上料板上设有呈方形的上料位，每个上料位内设有若干上料孔，可同时对多个产品进行上料测试，进一步提高测试效率。进一步提高测试效率。进一步提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
按键寿命测试设备


[0001]本技术涉及电子产品按键寿命测试领域，特别涉及了一种横向可同时对多种产品进行测试的高精度按键寿命测试设备。

技术介绍

[0002]随着人们生活水平的不断提升，大家对于各类电子产品的质量要求越来越高，每种电子产品在出厂前，都少不了质量检查这一关，按键在各类电子产品中普遍存在，自然也少不了对按键的寿命进行测试检查。
[0003]目前的按键寿命测试设备每个测试杆只对应一个上料位，且不能根据产品的规格调整测试杆位置来适应产品的测试，并且测试杆的工位也只是单工位分布，测试效率不高。
[0004]本申请所要解决的技术问题为：设计一款横向上、下双工位，可依据产品规格调整测试杆并同时对多种产品进行测试的高效率按键寿命测试设备。

技术实现思路

[0005]为了克服现有技术的不足，本技术的目的在于提供高效率的按键寿命测试设备。
[0006]本技术所采用的技术方案为：按键寿命测试设备，包括机架、用于对按键进行寿命测试的测试杆和用于安装测试杆的测试台、以及上料机构，测试台包括连接板和底板，连接板包括上连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.按键寿命测试设备，包括机架(1)、用于对按键进行寿命测试的测试杆(2)和用于安装测试杆(2)的测试台(3)、以及上料机构(4)，其特征在于，所述测试台(3)包括连接板(301)和底板(302)，所述连接板(301)包括上连接板(303)和下连接板(304)，所述上连接板(303)和下连接板(304)分别设有与之固定连接的连接块(305)，所述连接块(305)与测试杆(2)限位固定安装，所述连接板(301)上均设有若干用于安装连接块(305)的第一安装孔(306)，所述连接块(305)设有用于使之与连接板(301)安装的第一U形孔(307)，所述测试杆(2)在第一U形孔(307)的长度范围内上下调节移动，所述机架(1)设有与之固定安装的安装台(101)，所述底板(302)设有用于使测试台(3)与安装台(101)固定安装的第二U形孔(308)，所述安装台(101)对应第二U形孔(308)设有若干限位孔(102)，所述安装台(101)在第二U形孔(308)的长度范围内前后调节移动，所述上料机构(4)包括上料板(401)，所述上料板(401)表面对应测试台(3)设有呈方形的上料位(402)，所述上料位(402)包括若干上料孔(403)，所述上料孔(403)在上料位(402)四个方向数量相等，所述连接板(301)上设有用于夹紧固定连接块(305)使之不发生角度偏移的固定装置(5)。2.根据权利要求1所述的按键寿命测试设备，其特征在于，所述测试台(3)包括支撑板(309)，所述支撑板(309)上设有滑槽(310)，所述支撑板(309)通过使用第一螺钉穿过滑槽(310)与第一安装孔(306)限位锁紧使之与连接板(301)固定安装，所述支撑板(309)与...

【专利技术属性】
技术研发人员：李术林，
申请(专利权)人：佛山市顺德区艾测仪器设备有限公司，
类型：新型
国别省市：