智能选频微波水分测量仪制造技术

技术编号:33451703 阅读:98 留言:0更新日期:2022-05-19 00:35
本发明专利技术公开了一种智能选频微波水分测量仪,包括测量设备与智能测量分析系统,所述测量设备包括控制柜、两个竖直支架,两个所述竖直支架的相对侧壁支架固定连接有下水平支架与上水平支架,所述下水平支架与上水平支架上分别安装有微波发射探头与微波接收探头;所述智能测量分析系统包括设置在控制柜内的RAM微处理器微型工业电脑。本发明专利技术通过基于相位差和阻尼衰减两者计算出来一个计算量,并引进人工智能算法和大数据分析,对水分含量的变化有明显的响应,故不需进行高度补偿、密度补偿以及温度补偿就能实现精确测量,因此无需配备额外的补偿用的温度传感器或者高度传感器。的补偿用的温度传感器或者高度传感器。的补偿用的温度传感器或者高度传感器。

【技术实现步骤摘要】
智能选频微波水分测量仪


[0001]本专利技术涉及微波水分测量
,尤其涉及智能选频微波水分测量仪。

技术介绍

[0002]由于水分子具有较强的极性,当微波也就是电磁波透射介质时,其部分电磁能会被水分子吸收,而被吸收后的电磁波会产生相位差和振幅衰减。这也是传统微波测量水分仪的原理。
[0003]但是利用电磁波的相位差测量水分含量时,往往受到自身频率的限制,而使用阻尼衰减测量又会受到温度影响。因此以上两者传统测量方式都受到物料密度变化的影响,物料颗粒,形状变化的影响,后期必须通过各种补偿用的传感器进行各种形式的补偿,不仅设备复杂,也导致设备成本高昂,随之而来的维护及检修工作也十分冗杂。鉴于此,本申请文件提出一种智能选频微波水分测量仪。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的智能选频微波水分测量仪。
[0005]为了实现上述目的,本专利技术采用了如下技术方案:
[0006]智能选频微波水分测量仪,包括测量设备与智能测量分析系统,所述测量设备包括控制柜、两个竖直支本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种智能选频微波水分测量仪,包括测量设备与智能测量分析系统,其特征在于,所述测量设备包括控制柜(1)、两个竖直支架(2),两个所述竖直支架(2)的相对侧壁支架固定连接有下水平支架(5)与上水平支架(6),所述下水平支架(5)与上水平支架(6)上分别安装有微波发射探头(3)与微波接收探头(4);所述智能测量分析系统包括设置在控制柜(1)内的RAM微处理器微型工业电脑,且所述微波发射探头(3)与微波接收探头(4)与RAM微处理器微型工业电脑连接,所述RAM微处理器微型工业电脑连接有频率发生器控制系统,所述频率发生器控制系统用于控制微波发射频率,所述RAM微处理器微型工业电脑连接有监控系统与校准系统,且所述监控系统用于对实时监测被测物质截面水分的分布情况,所述校准系统用于提供逼近算法,且每种算法可自由更换和调整。2.根据权利要求1所述的一种智能选频微波水分测量仪,其特征在于,所述上水平支架(6)的侧壁开设有气槽(7),所述气槽(7)内密封滑动连接有推塞(8),且所述推塞(8)通过导电弹簧(9)连接在气槽(7)内壁上,所述上水平支架(6)上设有与气槽(7)相通的进气...

【专利技术属性】
技术研发人员:尹志远
申请(专利权)人:青岛众志测控技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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