一种托盘抗弯挠度值检测工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种托盘抗弯挠度值检测工装，包括探针检测机构和托盘试验机构；探针检测机构包括升降平台、固定块和位移探针；升降平台的上表面呈水平面，升降平台上固定设有固定块，固定块内设有位移探针，位移探针伸出所述固定块；托盘试验机构包括托盘和抗压试验机；托盘设于所述抗压试验机上，托盘的上端压接有抗压试验机平台，抗压试验机平台对托盘施加压力；探针检测机构设于托盘试验机构的底端，位移探针的顶端与所述托盘的底端相接触。本实用新型专利技术提供的一种托盘抗弯挠度值检测工装，保证了位移探针测量杆与托盘被测平面的垂直度，位移探针的垂直姿态调整简单，测量精度高，工作效率提高。工作效率提高。工作效率提高。

【技术实现步骤摘要】
一种托盘抗弯挠度值检测工装


[0001]本技术涉及一种检测工装，尤其涉及一种托盘抗弯挠度值检测工装。

技术介绍

[0002]现有托盘的挠度抗弯挠度值检测一般采用百分表来测量。采用传统的百分表来测量托盘挠度的缺点：(1)测试精度不高；(2)测量时在托盘下方百分表的工作姿态调整困难；(3)传统百分表高度调节繁琐，难以保证测量杆与被测平面的垂直度。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术提出了一种托盘抗弯挠度值检测工装。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种托盘抗弯挠度值检测工装，包括探针检测机构和托盘试验机构；
[0006]所述探针检测机构包括升降平台、固定块和位移探针；所述升降平台的上表面呈水平面，所述升降平台上设有固定块，所述固定块内设有位移探针，所述位移探针伸出所述固定块；
[0007]所述托盘试验机构包括托盘和抗压试验机；所述托盘设于所述抗压试验机上，所述托盘的上端压接有抗压试验机平台，抗压试验机平台对托盘施加压力；所述探针检测机构设于所述托盘试验机构的底端，所述位移探针的顶端与所述托盘的底端相接触。
[0008]优选的，所述位移探针通过位移探针座设于所述固定块内。
[0009]优选的，所述固定块上拧入有紧定螺钉且紧定螺钉紧固压接在所述位移探针座侧面上。
[0010]与现有的技术相比，本技术的有益效果是：
[0011](1)采用探针检测机构取代了百分表，不仅可以轻松调节高度，而且保证了升降平台上的位移探针始终呈水平面，保证了位移探针测量杆与托盘被测平面的垂直度，位移探针的垂直姿态调整简单；
[0012](2)探针检测机构装配完成后，将探针检测机构放置在托盘试验机构下方，调整升降平台的高度，使得位移探针的顶端与所述托盘的底端相接触即可，探针检测机构与托盘试验机构相互配合安装的方式，安装非常简易，测量工序迅速，工作效率提高，测量精度高。探针检测机构与托盘试验机构相互配合安装的方式，安装非常简易，测量工序迅速，工作效率提高，测量精度高。
附图说明
[0013]图1为本技术的整体结构示意图；
[0014]图2为图1的A部放大图。
[0015]图中：1、升降平台；2、固定块；3、位移探针；4、托盘；5、抗压试验机；6、紧定螺钉；51、抗压试验机平台。
具体实施方式
[0016]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0017]在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0018]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0019]实施例：
[0020]参照图1
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2，一种托盘抗弯挠度值检测工装，包括探针检测机构和托盘试验机构；
[0021]探针检测机构包括升降平台1、固定块2和位移探针3；升降平台1的上表面呈水平面，升降平台1上设有固定块2。
[0022]固定块2内设有位移探针3，具体地：位移探针3通过位移探针座设于固定块2内，固定块2上拧入有紧定螺钉6且紧定螺钉6紧固压接在所述位移探针座侧面上。位移探针3伸出固定块2。
[0023]托盘试验机构包括托盘4和抗压试验机5；托盘4设于抗压试验机5上，托盘4的上端压接有抗压试验机平台51，抗压试验机平台51对托盘4施加压力；探针检测机构设于托盘试验机构的底端，位移探针3的顶端与所述托盘4的底端相接触。
[0024]本技术的工作原理为：
[0025]本托盘抗弯挠度值检测工装采用探针检测机构取代了百分表；
[0026]采用升降平台1，不仅可以轻松调节高度，而且保证了升降平台1上表面始终呈水平面，由此保证了升降平台1上的固定块2可以轻松调节高度及始终保持水平，由此保证了位移探针3测量杆与托盘被测平面的垂直度；
[0027]位移探针3通过紧定螺钉6固定于固定块2内，位移探针3的垂直姿态调整简单；
[0028]探针检测机构装配完成后，将探针检测机构放置在托盘试验机构下方(实现了模块化处理，再两者装配)，调整升降平台1的高度，使得位移探针3的顶端与所述托盘4的底端相接触即可，当抗压试验机平台51对托盘4施加压力时，位移探针3会读出位移变化，由此位移变化值，即可测量托盘抗弯挠度值；
[0029]探针检测机构与托盘试验机构相互配合安装的方式，安装非常简易，测量工序迅速，工作效率提高，测量精度高。
[0030]以上，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种托盘抗弯挠度值检测工装，其特征在于，包括探针检测机构和托盘试验机构；所述探针检测机构包括升降平台(1)、固定块(2)和位移探针(3)；所述升降平台(1)的上表面呈水平面，所述升降平台(1)上设有固定块(2)，所述固定块(2)内设有位移探针(3)，所述位移探针(3)伸出所述固定块(2)；所述托盘试验机构包括托盘(4)和抗压试验机(5)；所述托盘(4)设于所述抗压试验机(5)上，所述托盘(4)的上端压接有抗压试验机平台...

【专利技术属性】
技术研发人员：王华科，潘梦垚，田思思，
申请(专利权)人：无锡瀚科检测有限公司，
类型：新型
国别省市：