一种自动光学检测方法及AOI设备技术

本申请提供了一种自动光学检测方法及AOI设备。其中，自动光学检测方法包括：通过输送装置将待测PCB输送至预检测装置；通过预检测装置对各光电产品的产品身份标签进行扫描，得到各光电产品的产品身份信息；通过输送装置将待测PCB输送至AOI装置；通过AOI装置对各光电产品进行光学检测，得到检测结果；若检测结果指示不存在不良光电产品，则通过输送装置将待测PCB输送至合格品下料位；若检测结果指示存在不良光电产品，则通过AOI装置对不良光电产品进行打点标记；将检测结果与各光电产品的产品身份信息关联输出；其中，待测PCB包括基板和贴设于基板的多个附带产品身份标签的光电产品。本申请能够有效地提升AOI设备的自动化程度。本申请能够有效地提升AOI设备的自动化程度。本申请能够有效地提升AOI设备的自动化程度。

【技术实现步骤摘要】
一种自动光学检测方法及AOI设备


[0001]本申请涉及自动光学检测
，尤其涉及一种自动光学检测方法及AOI设备。

技术介绍

[0002]AOI(Automated Optical Inspection，自动光学检测)设备是一种基于光学原理对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI设备的检测过程为：通过摄像头自动扫描待测PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)，以对待测PCB的图像进行采集；将待测PCB的图像与数据库中合格PCB的图像进行对比，以检测出待测PCB上所存在的缺陷；将待测PCB上所存在的缺陷在相应的图像上标示出来；维修人员通过查看这些标示，对待测PCB进行维修；其中，待测PCB上通常设有多个光电产品。
[0003]相关技术中，通过AOI设备对待测PCB进行检测时，不仅需要操作员手持扫描枪对待测PCB上各光电产品的二维码进行扫描，还需要操作员根据检测结果，通过手持的油性笔对待测PCB上存在缺陷的位置进行标记，这就表明一台AOI设备至少需要一名操作员，而操作员一旦离开AOI设备，整台AOI设备所进行的检测工作将会停滞不前，从而降低了AOI设备的自动化程度，进而降低了AOI设备的检测效率，同时也增大了人工成本。
[0004]因此，有必要对上述AOI设备的结构及其检测方法进行改进。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种自动光学检测方法及AOI设备，旨在解决相关技术中AOI设备的自动化程度较低的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本申请实施例第一方面提供了一种自动光学检测方法，包括：
[0007]通过输送装置将待测PCB输送至预检测装置；其中，所述待测PCB包括基板和贴设于所述基板的多个附带产品身份标签的光电产品；
[0008]通过所述预检测装置对各所述光电产品的产品身份标签进行扫描，得到各所述光电产品的产品身份信息；
[0009]通过所述输送装置将所述待测PCB输送至AOI装置；
[0010]通过所述AOI装置对各所述光电产品进行光学检测，得到检测结果；
[0011]若所述检测结果指示不存在不良光电产品，则通过所述输送装置将所述待测PCB输送至合格品下料位；若所述检测结果指示存在不良光电产品，则通过所述AOI装置对所述不良光电产品进行打点标记；
[0012]将所述检测结果与各所述光电产品的产品身份信息关联输出。
[0013]本申请实施例第二方面提供了一种AOI设备，包括机台、输送装置、预检测装置和AOI装置；所述输送装置设置在所述机台上，所述预检测装置和所述AOI装置均设置在所述机台上，且均位于所述输送装置的一侧或分别位于所述输送装置相对的两侧；其中，所述AOI设备用于对待测PCB进行光学检测，且所述AOI设备对所述待测PCB进行光学检测时，实
现如本申请实施例第一方面所述的自动光学检测方法。
[0014]从上述描述可知，与相关技术相比，本申请的有益效果在于：
[0015]以输送装置、预检测装置和AOI装置构成的AOI设备对待测PCB进行检测，此过程为：通过输送装置将待测PCB输送至预检测装置；通过预检测装置对各光电产品的产品身份标签进行扫描，得到各光电产品的产品身份信息；通过输送装置将待测PCB输送至AOI装置；通过AOI装置对各光电产品进行光学检测，得到检测结果；若检测结果指示不存在不良光电产品，则通过输送装置将待测PCB输送至合格品下料位；若检测结果指示存在不良光电产品，则通过AOI装置对不良光电产品进行打点标记；将检测结果与各光电产品的产品身份信息关联输出。由此可见，本申请并不需要操作员手持扫描枪对各光电产品的产品身份标签进行扫描，也不需要操作员手持油性笔对不良光电产品进行打点标记，这些均由AOI设备自动执行，从而提升了AOI设备的自动化程度和检测效率，减少了人工成本，同时也在真正意义上实现了一台AOI设备配备零操作员的目标。
【附图说明】
[0016]为了更清楚地说明相关技术或本申请实施例中的技术方案，下面将对相关技术或本申请实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，而并非是全部实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本申请实施例提供的自动光学检测方法的流程示意图；
[0018]图2为本申请实施例提供的待测PCB的结构示意图；
[0019]图3为本申请实施例提供的图1中步骤104之前的第一种流程示意图；
[0020]图4为本申请实施例提供的图1中步骤104之前的第二种流程示意图；
[0021]图5为本申请实施例提供的图1中步骤104之前的第三种流程示意图；
[0022]图6为本申请实施例提供的图1中步骤104之前的第四种流程示意图；
[0023]图7为本申请实施例提供的图6中步骤605之后的流程示意图；
[0024]图8为本申请实施例提供的AOI设备的结构示意图。
【具体实施方式】
[0025]为了使本申请的目的、技术方案以及优点更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例以及相应的附图，对本申请进行清楚、完整地描述，其中，自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。应当理解的是，下面所描述的本申请的各个实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请，也即基于本申请的各个实施例，本领域的普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，下面所描述的本申请的各个实施例中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0026]相关技术中，通过AOI设备对待测PCB进行检测时，不仅需要操作员手持扫描枪对待测PCB上各光电产品的二维码进行扫描，还需要操作员根据检测结果，通过手持的油性笔对待测PCB上存在缺陷的位置进行标记，这就表明一台AOI设备至少需要一名操作员，而操作员一旦离开AOI设备，整台AOI设备所进行的检测工作将会停滞不前，从而降低了AOI设备
的自动化程度，进而降低了AOI设备的检测效率，同时也增大了人工成本。为此，本申请实施例提供了一种自动光学检测方法。
[0027]请参阅图1，图1为本申请实施例提供的自动光学检测方法的流程示意图；从图1中可以看出，本申请实施例提供的自动光学检测方法包括如下步骤101至108。
[0028]步骤101、通过输送装置将待测PCB输送至预检测装置。
[0029]在本申请实施例中，待测PCB包括基板和贴设于基板的多个光电产品；其中，每个光电产品均附带有相应的产品身份标签，该产品身份标签可以包括但不限于二维码、条形码和电子标签。作为一种示例，请进一步参阅图2，图2为本申请实施例提供的待测PCB的结构示意图；从图2中可以看出，该示例所给出的待测PCB包括6个光电产品，当然，也并非仅限于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动光学检测方法，其特征在于，包括：通过输送装置将待测PCB输送至预检测装置；其中，所述待测PCB包括基板和贴设于所述基板的多个附带产品身份标签的光电产品；通过所述预检测装置对各所述光电产品的产品身份标签进行扫描，得到各所述光电产品的产品身份信息；通过所述输送装置将所述待测PCB输送至AOI装置；通过所述AOI装置对各所述光电产品进行光学检测，得到检测结果；若所述检测结果指示不存在不良光电产品，则通过所述输送装置将所述待测PCB输送至合格品下料位；若所述检测结果指示存在不良光电产品，则通过所述AOI装置对所述不良光电产品进行打点标记；将所述检测结果与各所述光电产品的产品身份信息关联输出。2.如权利要求1所述的自动光学检测方法，其特征在于，所述通过所述AOI装置对各所述光电产品进行光学检测之前，还包括：通过所述预检测装置对所述待测PCB进行拍摄，得到目标图像；通过所述预检测装置将所述目标图像和各所述光电产品的产品身份信息传输至显示装置进行关联显示；所述通过所述AOI装置对所述不良光电产品进行打点标记之后，还包括：通过所述输送装置将所述待测PCB输送至残次品下料位；所述将所述检测结果与各所述光电产品的产品身份信息关联输出，包括：在所述显示装置所显示的所述目标图像中各所述光电产品的产品身份信息处显示所述检测结果。3.如权利要求2所述的自动光学检测方法，其特征在于，所述待测PCB所包括的各所述光电产品的类型与所述待测PCB之间具有对应关系；所述通过所述AOI装置对各所述光电产品进行光学检测之前，还包括：通过所述预检测装置对各所述光电产品进行拍摄，得到各所述光电产品的实际图像，以及将各所述光电产品的实际图像与预设数据库进行对比，得到对比结果；其中，所述预设数据库包括与所述待测PCB构成所述对应关系的多个所述光电产品的标准图像；若所述对比结果为所述对应关系未被破坏，则通过所述输送装置将所述待测PCB输送至所述AOI装置进行光学检测；其中，所述对应关系未被破坏指示不存在贴设错误的所述光电产品；若所述对比结果为所述对应关系被破坏，则通过所述输送装置将所述待测PCB输送至所述AOI装置；其中，所述对应关系被破坏指示存在贴设错误的所述光电产品；通过所述AOI装置对贴设错误的所述光电产品进行打点标记，以及将打点标记的结果传输至所述显示装置，对所述显示装置所显示的内容进行更新；通过所述输送装置将所述待测PCB输送至所述残次品下料位。4.如权利要求2所述的自动光学检测方法，其特征在于，所述通过所述AOI装置对各所述光电产品进行光学检测之前，还包括：通过所述预检测装置对各所述光电产品的外形尺寸进行测量；通过所述预检测装置将各所述光电产品的外形尺寸与相应的尺寸标准进行比较，得到
比较结果；若所述比较结果为各所述光电产品的外形尺寸均与相应的所述尺寸标准一致，则通过所述输送装置将所述待测PCB输送至所述AOI装置进行光学检测；若所述比较结果为存在外形尺寸与相应所述尺寸标准不一致的所述光电产品，则通过所述输送装置将所述待测PCB输送至所述AOI装置；通过所述AOI装置对外形尺寸与相应所述尺寸标准不一致的所述光电产品进行打点标记，以及将打点标记的结果传输至所述显示装置，对所述显示装置所显示的内容进行更新；通过所述输送装置将所述待测PCB输送至所述残次品下料位。5.如权利要求2所述的自动光学检测方法，其特征在于，所述通过所述AOI装置对各所述光电产品进行光学检测之前，还包括：通过所述预检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈纪辉，彭寒勤，黄君彬，杨勇，付全飞，童小琴，
申请(专利权)人：深圳市埃尔法光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：