【技术实现步骤摘要】
基于测试机接收端方向AC校准的自检验证装置及检验方法
[0001]本专利技术涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment,简称ATE)领域,尤其涉及一种基于测试机接收端方向AC校准的自检验证装置及检验方法。
技术介绍
[0002]随着芯片需求量不断增加,对芯片自动测试设备(ATE)要求也越来越高。在芯片测试前,测试机单板会先进行AC(交流电)校准。AC校准包括发送端与接收端的校准,测试机单板的AC校准精度影响着时钟信号的准确度。测试芯片时钟信号是芯片使用中必会用到的一个参数,一般测试机单板AC校准完后才会外接测试芯片进行应用。
[0003]通常,测试机校准完后往往都会进行自我校验,能快速排查出有问题的通道,减少实际应用时出现问题在进行排查带来的人力、物力以及时间开销。
[0004]目前,大部分半导体测试设备公司在数字板做完校准后,对于接收端方向通道可以直接使用或借助信号发射器发出的信号源来检测和排查被测接收端通道的性能。在借助信号发射器产生信号时,同一时刻选取测试机一个或多个被测通 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于测试机接收端方向AC校准的自检验证装置,用于检测数字板卡各数字通道的AC校准有效性测试后的自检;其特征在于,包括:数字板卡,包括M个通道(CH1、CH2…
CH
M
);其中,所述数字板卡已进行了AC校准,所述通道(CH1、CH2…
CH
M
)初步具备对芯片管脚驱动电流与电压的能力和与之对应的精确测量能力,所述M为正整数;测试连接模块,其包括N条连接线,所述数字板卡上的选取任意一个通道作为发送端通道,再将N个待测通道用N条等长度连接线与所述发送端通道连接;其中,M大于等于N;自检驱动模块,位于下位机中,用于接收上位机传送的用户指令,通过所述发送端通道按一固定频率发送第一数字信号到所述N个待测通道,以及接收所述N个待测通道在同一时间发回的N个第二数字信号,逐一比较所述N个第二数字信号与所述第一数字信号是否一致或者两者的差是否小于一定的阈值,如果是,所述通道的AC校准自检通过,否则所述通道的AC校准自检不通过。2.根据权利要求1所述的ATE设备AC校准有效性的检测装置,其特征在于,所述自检驱动模块由下位机中...
【专利技术属性】
技术研发人员:栾海平,
申请(专利权)人:上海御渡半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。