一种基于旋光效应和比例测量进行脉冲强磁场校准的方法技术

本发明专利技术涉及一种基于旋光效应和比例测量的脉冲强磁场校准装置和校准方法，包括有光源部分、分光器、恒定磁场复现装置、脉冲磁场复现装置、检测装置及第一晶体与第二晶体；其中光源部分包括激光器和偏振片，检测装置由光强计以及差分比较器构成，恒定磁场复现装置由螺线管磁场线圈产生恒定磁场，脉冲磁场复现装置由脉冲磁场线圈产生脉冲磁场；恒定磁场所选择晶体与脉冲磁场复所选择晶体的长度比例控制10∶1～100∶1之间的若干组合。对比已有技术，能够避免平行极板的磁场分布不均匀导致测量不准确的问题，同时回避了旋光参数的准确测量问题，实现脉冲磁场与恒定磁场的数值比对，显著提高测量不确定度水平的效果。提高测量不确定度水平的效果。提高测量不确定度水平的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种基于旋光效应和比例测量进行脉冲强磁场校准的方法


[0001]本专利技术属于脉冲磁场计量
，涉及一种对脉冲强磁场量具进行校准的方法。

技术介绍

[0002]常见的脉冲强磁场量具有霍尔磁强计、B
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dot探头、TMR传感器等传感器或测量仪表，用于电子加速器、高压输电等场合。直线感应加速器是一种用于产生短时、高能、聚焦的电子束的科学仪器，组成部件包括：感应迭加型注入器、若干串联的感应加速腔、脉冲功率系统、束流输运、聚焦系统和控制系统等，在直线感应加速器研究中大量使用了磁探针、霍尔磁强计等脉冲强磁场量具来分析研究装置的磁场参数，来改进聚焦系统的磁透镜焦距、束流输运的束流发射强度和束流脉宽等因素，实现提升聚焦效果的目的，因此，需要保证脉冲强磁场量具的测量准确度达到更高的水平，以保证各型脉冲强磁场量具的计量特性一致，数据可比较。基于均匀脉冲磁场对脉冲磁场量具进行校准的方法，主要用于对测量不确定度水平优于5％水平的高准确度脉冲强磁场量具进行校准。
[0003]国际上对校准脉冲强磁场量具的技术难度有着较为一致的认识，普遍认为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于旋光效应和比例测量的脉冲强磁场校准装置，其特征在于：脉冲强磁场校准装置包括有光源部分、分光器、恒定磁场复现装置、脉冲磁场复现装置、检测装置及第一晶体与第二晶体；其中光源部分包括激光器和偏振片，检测装置由光强计以及差分比较器构成，恒定磁场复现装置由螺线管磁场线圈产生恒定磁场，脉冲磁场复现装置由脉冲磁场线圈产生脉冲磁场；恒定磁场所选择晶体与脉冲磁场复所选择晶体的长度比例控制10∶1～100∶1之间的若干组合。2.根据权利要求1所述的脉冲强磁场校准装置，其特征在于：恒定磁场晶体与脉冲磁场复晶体的长度比例控制为100∶1。3.根据权利要求1所述的脉冲强磁场校准装置，其特征在于：晶体选择维尔德系数较高的晶体。4.根据权利要求3所述的脉冲强磁场校准装置，其特征在于：晶体选择TGG晶体。5.根据权利要求1所述的脉冲强磁场校准装置，其特征在于：光源部分产生的偏振激光先通过均匀恒定磁场内的晶体、再通过均匀脉冲磁场内的晶体，相对于激光传播方向，脉冲磁场与恒定磁场方向相反。6.一种基于旋光效应和比例测量的脉冲强磁场校准装置的校准方法，其特征在于：具体步骤包括：步骤一、构建校准磁场：根据预设脉冲磁场的峰值磁感应强度和恒定磁场的磁感应强度，选择一定长度比例的第一晶体与第二晶体，长度比例控制10∶1～100∶1之间的若干组合；步骤二、由恒定磁场线圈复现均匀恒定磁场，第一晶体置于其中的磁场均匀区内，偏振激光的光路方向与复现恒定磁场的磁轴方向相同；步骤三、脉冲磁场线圈的磁场均匀区内置入第二晶体，偏振激光的光路方向与复现脉冲...

【专利技术属性】
技术研发人员：周鹰，包忠，张晓锋，王范，
申请(专利权)人：宜昌测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：