散射估计方法、成像系统、校正设备及存储介质技术方案

技术编号:33439117 阅读:14 留言:0更新日期:2022-05-19 00:26
本发明专利技术实施例提供一种散射估计方法、成像系统、校正设备和存储介质,涉及医疗影像技术领域。本发明专利技术实施例在获取成像射束通过阻挡阵列板形成的投影图像后,通过获取投影图像中与阻挡阵列板中各阻挡柱对应的散射采样点,根据每两个相邻的散射采样点的散射信号,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,得到插值采样点,然后根据各散射采样点以及各插值采样点的散射信号,得到投影图像对应的散射分布图。如此,通过设置阻挡阵列板对成像射束进行遮挡,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,然后根据各散射采样点以及各插值采样点的散射信号,可以有效估计出投影图像的散射分布,提高投影图像的散射估计的准确性。提高投影图像的散射估计的准确性。提高投影图像的散射估计的准确性。

【技术实现步骤摘要】
散射估计方法、成像系统、校正设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及医疗影像
,具体而言,涉及一种散射估计方法、成像 系统、校正设备及存储介质。

技术介绍

[0002]计算机断层成像(Computed Tomography,CT)技术在临床医学上的应用 是20世纪医疗技术进步的重要标志之一。随着科学技术的发展,CT扫描方式发 生了巨大的变化,锥束CT也已进入实用阶段。
[0003]锥束CT(Cone Beam CT,CBCT)是锥形束投照计算机重组断层影像设备, 其原理是成像源例如X线球管以较低的射线量围绕待测对象做环形数字式投照。 而将围绕待测对象多次数字投照后所获得的数据进行重建后,即可得到三维重 建图像。锥束CT成像过程中X线光子的散射会影响重建图像质量,如对比度下 降,CT值不准确等。目前,对于锥束CT成像过程中光子的散射估计的准确性还 有待提高。

技术实现思路

[0004]基于上述研究,本专利技术提供一种散射估计方法、成像系统、校正设备和存 储介质,可以提高散射估计的准确性。
[0005]本专利技术的实施例可以通过以下方式实现:
[0006]第一方面,本专利技术实施例提供一种散射估计方法,所述方法包括:
[0007]获取成像射束通过阻挡阵列板形成的投影图像,所述阻挡阵列板包括多个 阻挡柱;
[0008]获取所述投影图像中与各所述阻挡柱对应的散射采样点;
[0009]根据每两个相邻的散射采样点的散射信号,在每两个相邻的散射采样点之 间的空位进行插值,得到插值采样点;
[0010]根据各所述散射采样点以及各所述插值采样点的散射信号,得到所述投影 图像对应的散射分布图。
[0011]在可选的实施方式中,所述投影图像包括第一投影图像以及第二投影图像; 所述第一投影图像为未放置待测对象所形成的投影图像,所述第二投影图像为 放置待测对象所形成的投影图像;
[0012]所述获取所述投影图像中与各所述阻挡柱对应的散射采样点的步骤包括:
[0013]获取所述第一投影图像中被各所述阻挡柱遮挡的阴影区域的中心点;
[0014]根据各所述阴影区域的中心点,在所述第二投影图像中获取与各所述阴影 区域的中心点对应的目标点,将所述目标点设置为所述第二投影图像中的散射 采样点。
[0015]在可选的实施方式中,所述获取所述第一投影图像中被各所述阻挡柱遮 挡的阴影区域的中心点的步骤包括:
[0016]对所述第一投影图像中的像素进行分析处理,确定被各所述阻挡柱遮挡的 阴影
区域对应的阴影像素;
[0017]根据所述阴影像素,确定所述第一投影图像中被各所述阻挡柱遮挡的阴影 区域的中心点。
[0018]在可选的实施方式中,所述根据每两个相邻的散射采样点的散射信号,在 每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,得到插值采样点的步骤包括:
[0019]获取各所述散射采样点在设定像素范围内的散射信号;
[0020]根据每两个相邻的散射采样点在设定像素范围内的散射信号,在每两个相 邻的散射采样点之间的空位进行插值,得到插值采样点。
[0021]在可选的实施方式中,所述根据各所述散射采样点以及各所述插值采样点 的散射信号,得到所述投影图像对应的散射分布图的步骤包括:
[0022]根据各所述散射采样点在设定像素范围内的散射信号,以及各所述插值采 样点的散射信号,在各所述散射采样点与所述插值采样点之间进行插值或拟合, 得到散射分布图。
[0023]在可选的实施方式中,所述得到所述投影图像对应的散射分布图后,所述 方法还包括:
[0024]根据所述散射分布图,对所述投影图像进行校正,得到射线分布图。
[0025]在可选的实施方式中,所述根据所述散射分布图,对所述投影图像进行校 正,得到射线分布图的步骤包括:
[0026]确定所述投影图像中未被各所述阻挡柱遮挡的目标投影区域的射线信号;
[0027]确定所述散射分布图中与所述目标投影区域对应的目标散射区域的散射信 号;
[0028]根据所述目标散射区域的散射信号,对所述目标投影区域的射线信号进行 校正,得到射线分布图。
[0029]在可选的实施方式中,所述根据所述目标散射区域的散射信号,对所述目 标投影区域的射线信号进行校正,得到射线分布图的步骤包括:
[0030]对所述目标投影区域的射线信号以及所述目标散射区域的散射信号进行差 值计算,得到初始射线分布图;
[0031]根据各所述散射采样点的位置,确定得到所述初始射线分布图中待插值的 射线点;
[0032]根据所述初始射线分布图中的射线信号,对所述待插值的射线点进行插值, 得到射线分布图。
[0033]在可选的实施方式中,所述得到所述投影图像对应的散射分布图后,所述 方法还包括:
[0034]根据各所述散射采样点的位置,确定得到所述投影图像中待插值的射线点;
[0035]根据所述投影图像中的射线信号,对所述待插值的射线点进行插值,得到 插值后的投影图像;
[0036]根据所述散射分布图,对所述插值后的投影图像进行校正,得到射线分布 图。
[0037]在可选的实施方式中,所述对所述投影图像进行校正,得到射线分布图之 后,所述方法还包括:
[0038]根据所述射线分布图以及所述投影图像,计算衰减积分图像,根据所述衰 减积分
图像进行图像重建。
[0039]在可选的实施方式中,所述得到所述投影图像对应的散射分布图后,所述 方法还包括:
[0040]根据所述散射分布图,对所述投影图像进行校正,得到校正图像,根据所 述校正图像以及所述投影图像,计算得到衰减积分图像;
[0041]根据各所述散射采样点的位置,确定得到所述衰减积分图像中待插值的射 线点;
[0042]根据所述衰减积分图像中的射线衰减信号,对所述待插值的射线点进行插 值,得到插值后的衰减积分图像;
[0043]根据所述插值后的衰减积分图像进行图像重建。
[0044]第二方面,本专利技术实施例提供一种成像系统,所述成像系统包括:
[0045]机架;
[0046]成像源,设置于所述机架上;
[0047]成像器,与所述成像源相对设置于所述机架上;
[0048]阻挡阵列板,设置于所述成像源与所述成像器之间,所述阻挡阵列板包括 多个阻挡柱;
[0049]校正设备,与所述成像器连接,所述校正设备用于:
[0050]获取成像射束通过阻挡阵列板形成的投影图像,所述阻挡阵列板包括多个 阻挡柱;获取所述投影图像中与各所述阻挡柱对应的散射采样点;根据每两个 相邻的散射采样点的散射信号,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插 值,得到插值采样点;根据各所述散射采样点以及各所述插值采样点的散射信 号,得到所述投影图像对应的散射分布图。
[0051]在可选的实施方式中,所述本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种散射估计方法,其特征在于,所述方法包括:获取成像射束通过阻挡阵列板形成的投影图像,所述阻挡阵列板包括多个阻挡柱;获取所述投影图像中与各所述阻挡柱对应的散射采样点;根据每两个相邻的散射采样点的散射信号,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,得到插值采样点;根据各所述散射采样点以及各所述插值采样点的散射信号,得到所述投影图像对应的散射分布图。2.根据权利要求1所述的散射估计方法,其特征在于,所述投影图像包括第一投影图像以及第二投影图像;所述第一投影图像为未放置待测对象所形成的投影图像,所述第二投影图像为放置待测对象所形成的投影图像;所述获取所述投影图像中与各所述阻挡柱对应的散射采样点的步骤包括:获取所述第一投影图像中被各所述阻挡柱遮挡的阴影区域的中心点;根据各所述阴影区域的中心点,在所述第二投影图像中获取与各所述阴影区域的中心点对应的目标点,将所述目标点设置为所述第二投影图像中的散射采样点。3.根据权利要求2所述的散射估计方法,其特征在于,所述获取所述第一投影图像中被各所述阻挡柱遮挡的阴影区域的中心点的步骤包括:对所述第一投影图像中的像素进行分析处理,确定被各所述阻挡柱遮挡的阴影区域对应的阴影像素;根据所述阴影像素,确定所述第一投影图像中被各所述阻挡柱遮挡的阴影区域的中心点。4.根据权利要求1所述的散射估计方法,其特征在于,所述根据每两个相邻的散射采样点的散射信号,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,得到插值采样点的步骤包括:获取各所述散射采样点在设定像素范围内的散射信号;根据每两个相邻的散射采样点在设定像素范围内的散射信号,在每两个相邻的散射采样点之间的空位进行插值,得到插值采样点。5.根据权利要求4所述的散射估计方法,其特征在于,所述根据各所述散射采样点以及各所述插值采样点的散射信号,得到所述投影图像对应的散射分布图的步骤包括:根据各所述散射采样点在设定像素范围内的散射信号,以及各所述插值采样点的散射信号,在各所述散射采样点与各所述插值采样点之间进行插值或拟合,得到散射分布图。6.根据权利要求1所述的散射估计方法,其特征在于,所述得到所述投影图像对应的散射分布图后,所述方法还包括:根据所述散射分布图,对所述投影图像进行校正,得到射线分布图。7.根据权利要求6所述的散射估计方法,其特征在于,所述根据所述散射分布图,对所述投影图像进行校正,得到射线分布图的步骤包括:确定所述投影图像中未被各所述阻挡柱遮挡的目标投影区域的射线信号;确定所述散射分布图中与所述目标投影区域对应的目标散射区域的散射信号;根据所述目标散射区域的散射信号,对所述目标投影区域的射线信号进行校正,得到射线分布图。
8.根据权利要求7所述的散射估计方法,其特征在于,所述根据所述目标散射区域的散射信号,对所述目标投影区域的射线信号进行校正,得到射线分布图的步骤包括:对所述目标投影区域的射线信号以及所述目标散射区域的散射信号进行差值计算,得到初始射线分布图;根据各所述散射采...

【专利技术属性】
技术研发人员:闫浩刘达林常少杰
申请(专利权)人:西安大医集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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