散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质技术方案

技术编号:33439110 阅读:14 留言:0更新日期:2022-05-19 00:26
本发明专利技术实施例提供一种散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质,涉及医疗影像技术领域。本发明专利技术实施例在获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像后,通过对各第一投影图像进行处理,得到各第一投影图像对应的第一散射分布图,根据各第一散射分布图,确定各第二投影图像对应的第二散射分布图,然后根据各第一散射分布图对各第一投影图像进行散射校正,以及根据各第二散射分布图对各第二投影图像进行散射校正。如此,实现了在单次扫描中完成投影图像的散射校正,减少了扫描时间和辐射剂量。描时间和辐射剂量。描时间和辐射剂量。

【技术实现步骤摘要】
散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及医疗影像
,具体而言,涉及一种散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]计算机断层成像(Computed Tomography,CT)技术在临床医学上的应用是20世纪医疗技术进步的重要标志之一。随着科学技术的发展,CT扫描方式发生了巨大的变化,锥束CT也已进入实用阶段。
[0003]锥束CT(Cone Beam CT,CBCT)是锥形束投照计算机重组断层影像设备,其原理是成像源例如X线球管以较低的射线量围绕待测对象做环形数字式投照。而将围绕待测对象多次数字投照后所获得的数据进行重建后,即可得到三维重建图像。
[0004]锥束CT成像过程中X线光子的散射会影响重建图像质量,如对比度下降,CT值不准确等。为了减少散射对重建图像质量的影响,通常会在成像源与待测对象之间设置光束阻挡阵列(Beam Stop Array,BSA),通过光束阻挡阵列计算整体的散射分布。但目前,通过光束阻挡阵列计算整体的散射分布时,通常需要多次扫描,增加了扫描时间和辐射剂量。

技术实现思路

[0005]基于上述研究,本专利技术实施例提供一种散射校正方法、成像系统、校正设备及可读存储介质,可以在单次扫描中,完成投影图像的散射校正,减少扫描时间和辐射剂量。
[0006]本专利技术的实施例可以通过以下方式实现:
[0007]第一方面,本专利技术实施例提供一种散射校正方法,所述方法包括:
[0008]获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像;所述第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像,所述第二投影图像为在未被所述阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像;
[0009]对各所述第一投影图像进行处理,得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图;
[0010]根据各所述第一散射分布图,确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图;
[0011]根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正,以及根据各所述第二散射分布图对各所述第二投影图像进行散射校正。
[0012]在可选的实施方式中,所述获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像的步骤包括:
[0013]若当前扫描角度为所述第一扫描角度,控制所述阻挡阵列板移动至成像视野中,获取被所述阻挡阵列板遮挡的第一投影图像;
[0014]若当前扫描角度为所述第二扫描角度,控制所述阻挡阵列板移动至成像视野外,获取未被所述阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
[0015]在可选的实施方式中,所述阻挡阵列板包括多个阻挡柱,所述第一投影图像中包
括多个与各所述阻挡柱对应的散射采样点,所述对各所述第一投影图像进行处理,得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图的步骤包括:
[0016]针对每个所述第一投影图像,获取该第一投影图像中各所述散射采样点的散射信号;
[0017]根据各所述散射采样点的散射信号,在各所述散射采样点之间进行插值,得到该第一投影图像对应的第一散射分布图。
[0018]在可选的实施方式中,所述根据各所述第一散射分布图,确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图的步骤包括:
[0019]将各所述第一扫描角度以及各所述第二扫描角度进行排序,根据排序后的各所述第一扫描角度以及各所述第二扫描角度,确定每个所述第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度;
[0020]针对每个所述第二扫描角度下的第二投影图像,根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图,确定得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
[0021]在可选的实施方式中,所述根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图,确定得到该第二投影图像对应的第二散射分布图的步骤包括:
[0022]以该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图为目标散射分布图,根据所述目标散射分布图中各像素点的散射信号,插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号;
[0023]根据该第二投影图像中各像素点的散射信号,得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。
[0024]在可选的实施方式中,所述根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正,以及根据各所述第二散射分布图对各所述第二投影图像进行散射校正的步骤包括:
[0025]针对每个所述第一投影图像,将该第一投影图像与该第一投影图像对应的第一散射分布图进行差值计算,以对该第一投影图像进行散射校正;
[0026]针对每个所述第二投影图像,将该第二投影图像与该第二投影图像对应的第二散射分布图进行差值计算,以对该第二投影图像进行散射校正。
[0027]在可选的实施方式中,所述根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正之后,所述方法还包括:
[0028]根据散射校正后的第一投影图像中的射线信号,对散射校正后的第一投影图像中被遮挡的区域进行插值。
[0029]第二方面,本专利技术实施例提供一种成像系统,包括:
[0030]机架:
[0031]成像源,设置于所述机架上;
[0032]成像器,与所述成像源相对设置于所述机架上;
[0033]阻挡阵列板,设置于所述成像源与所述成像器之间;
[0034]校正设备,与所述成像器连接,所述校正设备用于:
[0035]获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像;所述第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像,所述第二投影图像为在未被所述阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像;
[0036]对各所述第一投影图像进行处理,得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图;
[0037]根据各所述第一散射分布图,确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图;
[0038]根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正,以及根据各所述第二散射分布图对各所述第二投影图像进行散射校正。
[0039]在可选的实施方式中,所述成像系统还包括阵列板驱动装置,所述阵列板驱动装置分别与所述阻挡阵列板以及所述校正设备连接,用于在所述校正设备的控制下驱动所述阻挡阵列板移动;
[0040]若当前扫描角度为所述第一扫描角度,所述校正设备控制所述阵列板驱动装置驱动所述阻挡阵列板移动至成像视野中,以获取被所述阻挡阵列板遮挡的第一投影图像;
[0041]若当前扫描角度为所述第二扫描角度,所述校正设备控制所述阵列板驱动装置驱动所述阻挡阵列板移动至成像视野外,以获取未被所述阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。
[0042]第三方面,本专利技术实施例提供一种校正设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种散射校正方法,其特征在于,所述方法包括:获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像;所述第一投影图像为在被阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像,所述第二投影图像为在未被所述阻挡阵列板遮挡下获取得到的投影图像;对各所述第一投影图像进行处理,得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图;根据各所述第一散射分布图,确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图;根据各所述第一散射分布图对各所述第一投影图像进行散射校正,以及根据各所述第二散射分布图对各所述第二投影图像进行散射校正。2.根据权利要求1所述的散射校正方法,其特征在于,所述获取单次扫描中在预设的各第一扫描角度下的第一投影图像以及在预设的各第二扫描角度下的第二投影图像的步骤包括:若当前扫描角度为所述第一扫描角度,控制所述阻挡阵列板移动至成像视野中,获取被所述阻挡阵列板遮挡的第一投影图像;若当前扫描角度为所述第二扫描角度,控制所述阻挡阵列板移动至成像视野外,获取未被所述阻挡阵列板遮挡的第二投影图像。3.根据权利要求1所述的散射校正方法,其特征在于,所述阻挡阵列板包括多个阻挡柱,所述第一投影图像中包括多个与各所述阻挡柱对应的散射采样点,所述对各所述第一投影图像进行处理,得到各所述第一投影图像对应的第一散射分布图的步骤包括:针对每个所述第一投影图像,获取该第一投影图像中各所述散射采样点的散射信号;根据各所述散射采样点的散射信号,在各所述散射采样点之间进行插值,得到该第一投影图像对应的第一散射分布图。4.根据权利要求1所述的散射校正方法,其特征在于,所述根据各所述第一散射分布图,确定各所述第二投影图像对应的第二散射分布图的步骤包括:将各所述第一扫描角度以及各所述第二扫描角度进行排序,根据排序后的各所述第一扫描角度以及各所述第二扫描角度,确定每个所述第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度;针对每个所述第二扫描角度下的第二投影图像,根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图,确定得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。5.根据权利要求4所述的散射校正方法,其特征在于,所述根据该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图,确定得到该第二投影图像对应的第二散射分布图的步骤包括:以该第二扫描角度相邻的两个第一扫描角度下的第一投影图像对应的第一散射分布图为目标散射分布图,根据所述目标散射分布图中各像素点的散射信号,插值得到该第二投影图像中各像素点的散射信号;根据该第二投影图像中各像素点的散射信号,得到该第二投影图像对应的第二散射分布图。6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘达林闫浩常少杰
申请(专利权)人:西安大医集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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