本实用新型专利技术公开了薄膜方阻测量装置，包括压夹探头组件，压夹探头组件包括两个压夹探头结构，两个压夹探头结构之间形成有检测空间；其中一个压夹探头结构设置为第一压夹探头、另一压夹探头结构设置为第二压夹探头，第一压夹探头设置于第二压夹探头的上方；探头驱动组件，探头驱动组件与压夹探头结构向另一压夹探头结构靠近或远离；电阻计，电阻计与压夹探头组件相连。在本薄膜方阻测量装置工作时，两个压夹探头结构的探针分别与双面金属膜的两个面进行接触，并且同时对双面金属膜的两个面的方阻进行测量，避免了以前测量双面金属膜时需要人工将双面金属膜进行翻转的过程，提高了检测的效率，并且避免了翻转过程中工作人员对双面金属膜造成损坏。面金属膜造成损坏。面金属膜造成损坏。
【技术实现步骤摘要】
薄膜方阻测量装置
[0001]本技术涉及电子产品测量设备
，特别是薄膜方阻测量装置。
技术介绍
[0002]现有的方阻测试仪通常只能对电容薄膜的单面进行检测，当遇到无结构双面金属膜时，工作人员测量好一个面之后需要将电容薄膜翻转，随后检测第二个面，在翻转过程中，如果工作人员用力过大，则可能会使电容薄膜损坏，对于无结构双面金属膜的检测过程较为麻烦，检测效率较低。
技术实现思路
[0003]本技术要解决的技术问题是：提供薄膜方阻测量装置，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。
[0004]本技术解决其技术问题的解决方案是：
[0005]薄膜方阻测量装置，其特征在于：设有相互正交的X方向、Y方向和Z方向；所述薄膜方阻测量装置包括：压夹探头组件，所述压夹探头组件包括两个压夹探头结构，两个所述压夹探头结构之间形成有检测空间；其中一个所述压夹探头结构设置为第一压夹探头、另一所述压夹探头结构设置为第二压夹探头，所述第一压夹探头设置于所述第二压夹探头的上方；探头驱动组件，所述探头驱动组件与所述压夹探头结构向另一所述压夹探头结构靠近或远离；电阻计，所述电阻计与所述压夹探头组件相连。
[0006]通过上述方案，在本薄膜方阻测量装置工作时，第一压夹探头和第二压夹探头对电容薄膜进行压紧，两个压夹探头结构分别与双面金属膜的两个面进行接触，并且同时对双面金属膜的两个面的方阻进行测量，避免了以前测量无结构双面金属膜时需要人工将双面金属膜进行翻转的过程，提高了检测的效率，并且避免了翻转过程中工作人员对双面金属膜造成损坏。
[0007]作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括承托桌，所述探头驱动组件安装于所述承托桌，所述第二压夹探头与所述承托桌相对固定。
[0008]通过上述方案，承托桌用于安装压夹探头结构，与此同时，承托桌可为工作人员的手部提供一个放置支撑的平面。
[0009]作为上述技术方案的进一步改进，所述承托桌设有外观尺寸检查窗口，所述外观尺寸检查窗口为透光构件，所述承托桌安装有检查灯，所述检查灯设置于所述外观尺寸检查窗口下方。
[0010]通过上述方案，光线透过外观尺寸检查窗口，使双面金属膜的外轮廓更清晰可见，便于工作人员检查双面金属膜的外观以及尺寸。
[0011]作为上述技术方案的进一步改进，所述承托桌固定连接有膜卷放置件，所述膜卷放置件包括竖直部和水平部，所述竖直部沿Z方向延伸，所述水平部沿Y方向延伸，所述水平部的一端设为连接端、另一端设为悬空端，所述竖直部和所述连接端相对固定。
[0012]通过上述方案，双面金属膜卷套设于水平部，可避免双面金属膜卷随意放置导致双面金属膜卷过度扭曲导致双面金属膜损坏。
[0013]作为上述技术方案的进一步改进，所述压夹探头组件的数量为至少两个，两个所述压夹探头组件均与所述承托桌相对固定，至少两个所述压夹探头组件沿X方向排布。
[0014]通过上述方案，两个压夹探头组件能同时对双面金属膜的两处进行检测，能有效提高检测效率。
[0015]作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括脚踏开关，所述脚踏开关与所述探头驱动组件电性连接。
[0016]通过上述方案，通过脚踏开关控制薄膜方阻测量装置的探头驱动组件的启闭，使工作人员的双手能压住电容薄膜的两端，拉平电容薄膜的待检测部分，保证了检测精度。
[0017]作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括切替盒，两个所述压夹探头组件均与所述切替盒电性连接，所述切替盒与所述电阻计电性连接，所述切替盒用于控制其中一个所述压夹探头组件与所述电阻计电性连接。
[0018]通过上述方案，切替盒用于切换两个信号通道，使电阻计依次显示薄膜不同位置上的上表面方阻以及下表面方阻，方便工作人员记录。
[0019]作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括用于手动对薄膜进行检测的检测探针。
[0020]通过上述技术方案，工作人员可手持检测探针对有结构的电容薄膜进行测量，增强本薄膜方阻测量装置对不同的电容薄膜的适配性。
[0021]作为上述技术方案的进一步改进，所述检测探针包括用于对低方阻有结构的电容薄膜进行测量的PSP探针、用于对高方阻有结构的电容薄膜进行测量的ASP探针。
[0022]通过上述技术方案，对于方阻值不同的有结构的电容薄膜采用不同的探针进行测量，有利于提高本薄膜方阻测量装置的测量精度。
[0023]作为上述技术方案的进一步改进，所述薄膜方阻测量装置还包括切替盒，所述压夹探头组件和所述检测探针均与所述切替盒电性连接，所述切替盒与所述电阻计电性连接，所述切替盒用于控制探头组件或检测探针与所述电阻计电性连接。
[0024]通过上述方案，电阻计接收电阻信号进行检测确认发送到控制器，控制器收集到信号进行处理在触摸屏上显示数值，触摸屏有显示数据和录入设定数据的功能。检查测量时，先确认是薄膜品种，在触摸屏上选用到相应的通道，然后设置相应的参数。使工作人员能更方便地比对不同的电容薄膜及对应的方阻范围，保证了良品率。
[0025]本技术的有益效果是：在本薄膜方阻测量装置工作时，两个压夹探头结构的探针分别与双面金属膜的两个面进行接触，并且同时对双面金属膜的两个面的方阻进行测量，避免了以前测量双面金属膜时需要人工将双面金属膜进行翻转的过程，提高了检测的效率，并且避免了翻转过程中工作人员对双面金属膜造成损坏。
[0026]本技术用于电子产品测量设备
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单说明。显然，所描述的附图只是本技术的一部分实施例，而不是全
部实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他设计方案和附图。
[0028]图1是本技术实施例的整体结构示意图；
[0029]图2是图1中A部分的局部放大示意图。
[0030]图中，100、承托桌；110、外观尺寸检查窗口；200、压夹探头组件；210、第一压夹探头；220、第二压夹探头；300、探头驱动组件；310、直线驱动装置；320、固定座；330、摆杆；340、连接杆； 400、切替盒；500、电阻计；600、控制器；700、触摸屏；800、脚踏开关；900、膜卷放置件。
具体实施方式
[0031]以下将结合实施例和附图对本技术的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本技术的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本技术的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本技术的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本技术保护的范围。另外，文中所提到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.薄膜方阻测量装置，其特征在于：设有相互正交的X方向、Y方向和Z方向；所述薄膜方阻测量装置包括：压夹探头组件(200)，所述压夹探头组件(200)包括两个压夹探头结构，两个所述压夹探头结构之间形成有检测空间；其中一个所述压夹探头结构设置为第一压夹探头(210)、另一所述压夹探头结构设置为第二压夹探头(220)，所述第一压夹探头(210)设置于所述第二压夹探头(220)的上方；探头驱动组件(300)，所述探头驱动组件(300)与所述压夹探头结构向另一所述压夹探头结构靠近或远离；电阻计(500)，所述电阻计(500)与所述压夹探头组件(200)相连。2.根据权利要求1所述的薄膜方阻测量装置，其特征在于：所述薄膜方阻测量装置还包括承托桌(100)，所述探头驱动组件(300)安装于所述承托桌(100)，所述第二压夹探头(220)与所述承托桌(100)相对固定。3.根据权利要求2所述的薄膜方阻测量装置，其特征在于：所述承托桌(100)设有外观尺寸检查窗口(110)，所述外观尺寸检查窗口(110)为透光构件，所述承托桌(100)安装有检查灯，所述检查灯设置于所述外观尺寸检查窗口(110)下方。4.根据权利要求2所述的薄膜方阻测量装置，其特征在于：所述承托桌(100)固定连接有膜卷放置件(900)，所述膜卷放置件(900)包括竖直部和水平部，所述竖直部沿Z方向延伸，所述水平部沿Y方向延伸，所述水平部的一端设为连接端、另一端设为悬空端，所述竖直部和所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶长，
申请(专利权)人：松下电子部品江门有限公司，
类型：新型
国别省市：
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