本实用新型专利技术公开了快轴透镜综合性能测试装置，该快轴透镜综合性能测试装置，包括激光器、被测快轴透镜、慢轴透镜、衰减分光膜片、光斑测试组件、功率测试组件和温度测试组件，被测快轴透镜、慢轴透镜和衰减分光膜片沿激光器的激光光束方向依次设置；激光器的激光光束经被测快轴透镜后，经慢轴透镜形成准直光斑，再经过衰减分光膜片分为透射光和反射光，透射光和反射光中的一束光进入光斑测试组件，另一束光进入功率测试组件；温度测试组件设置于被测快轴透镜侧方。本实用新型专利技术中，分别通过光斑测试组件、功率测试组件或温度测试组件测试被测快轴透镜的输出光斑分布、输出光能量或工作温度的至少一个性能，可实现综合测试。可实现综合测试。可实现综合测试。
【技术实现步骤摘要】
快轴透镜综合性能测试装置
[0001]本技术涉及半导体激光器
，特别涉及快轴透镜综合性能测试装置。
技术介绍
[0002]半导体激光器输出光束在两个相互垂直的平面内的发散角相差很大，光束横截面的光斑是椭圆斑。需要将输出光束在两个平面内分别整形，通常是用一前一后两个柱形透镜分别整形，紧贴激光芯片的是快轴准直透镜，后跟的是慢轴准直透镜。快轴准直透镜的凸柱面是非球面，加工困难而价贵，其性能直接决定了激光器输出光束向光纤的耦合性能。
[0003]快轴透镜能否满足客户使用，通常有三个重要性能指标需测试，即光斑检测、功率检测和温升检测，行业现有技术是：非球面透镜对发散激光的准直效果的判断方法是，用类似于CCD相机的光斑分析仪检测准直后的光斑形状，然后做定性或定量的判断；非球面透镜对激光的能量耦合效果的判断方法是，用类似于碳斗的功率检测设备检测输出光束的光能量，然后做定性或定量的判断；在通强电流输出强光时，非球面透镜自身的温升的判断方法是，用类似于非接触红外热像仪的设备检测非球面透镜的温度，然后做定性或定量的判断。
[0004]目前，对于上述三个指标的检测，分三个工位进行检测与生产：第一步，先在小电流，即小输出光功率下，用CCD监控检测光斑形状是否合格，合格则将FAC透镜粘接在芯片上。向激光器芯片提供电流的方法，通常是用两个弹簧探针，接触芯片的正负极，因为通过的电流小，所以探针是合适的。第二步，将粘接好FAC透镜的激光器通上中等电流，测试输出光功率。第三步将激光器模块放置在制冷散热设备上通上高电流，即高输出光功率，然后用热像仪测试FAC透镜的温度。显然，第二步和第三步时弹簧探针电极已不太适用，需要激光器绑定好金线和电极后，通大电流进行测试。
[0005]以上过程繁杂且不经济，不能迅速判断快轴透镜合格与否，需要将快轴透镜固定之后，发现性能不佳时再做破坏性拆解。对于半导体光纤激光器生产厂商而言，需要在将快轴透镜胶合固定于激光器、激光器绑定金线与电极之前，检验其综合光学性能。
技术实现思路
[0006]（一）要解决的技术问题
[0007]本技术可以解决现有的快轴透镜性能检测不便，难以对多个参数进行检测，影响检测的效率，且容易损坏快轴透镜的难题。
[0008]（二）技术方案
[0009]为了实现上述目的，第一方面，本技术提供了一种快轴透镜综合性能测试装置，包括：
[0010]激光器，所述激光器用于提供激光光束作为测试光源；
[0011]被测快轴透镜，所述被测快轴透镜通过夹持机构设置于激光器输出端；
[0012]慢轴透镜；
[0013]衰减分光膜片；
[0014]光斑测试组件，所述光斑测试组件包括光斑分析仪或感光卡，所述光斑测试组件用于对所述被测快轴透镜进行光斑检测；
[0015]功率测试组件，所述功率测试组件包括光功率计、碳斗或积分球，所述功率测试组件用于测试所述被测快轴透镜的输出光能量；
[0016]温度测试组件，所述温度测试组件包括非接触式温度检测仪或接触式热敏探测设备，所述温度测试组件用于测试所述被测快轴透镜的工作温度；
[0017]所述被测快轴透镜、慢轴透镜和衰减分光膜片沿所述激光器的激光光束方向依次设置；
[0018]所述激光器的激光光束经所述被测快轴透镜后，经所述慢轴透镜形成准直光斑，再经过所述衰减分光膜片分为透射光和反射光，透射光和反射光中的一束光进入光斑测试组件，另一束光进入功率测试组件；
[0019]所述温度测试组件设置于被测快轴透镜侧方。
[0020]作为本技术的一种优选技术方案，所述激光器为半导体激光器，所述激光器与热沉、制冷器中的至少一个相连接，或者所述激光器依次与热沉、制冷器相连接。
[0021]作为本技术的一种优选技术方案，所述激光器与可调恒流电源之间通过电连接，所述激光器的驱动功率可调节。
[0022]作为本技术的一种优选技术方案，所述激光器、夹持机构、慢轴透镜、衰减分光膜片、光斑测试组件、功率测试组件、温度测试组件分别固定或者可调节的设置在测试平台上。
[0023]第二方面，本技术提供一种快轴透镜综合性能测试装置的使用方法，包括以下步骤：
[0024]夹持机构将被测快轴透镜置于激光器输出端；
[0025]激光器的激光光束经快轴透镜、慢轴透镜后形成近方形光斑，经衰减分光膜片后分束；
[0026]通过可调恒流电源调节激光器的驱动功率，分别通过光斑测试组件、功率测试组件或温度测试组件测试被测快轴透镜的输出光斑分布、输出光能量或工作温度的至少一个性能，获取测试数据后，夹持机构移动并取出被测快轴透镜。
[0027]所述可调恒流电源、光斑测试组件、功率测试组件、温度测试组件分别与控制终端相连接，由控制终端控制测试操作及数据记录，所述控制终端包括计算机或平板电脑。
[0028]第三方面，本技术还提供了一种用于快轴透镜综合性能测试装置的测试平台，所述测试平台包括支撑座、移动件、第一支撑架、第二支撑架、第三支撑架。
[0029]所述支撑座安装于所述测试平台的上部，所述激光器安装于所述支撑座上。
[0030]所述移动件安装于所述测试平台邻近所述支撑座的上部，所述光斑测试组件安装于所述移动件的输出端。
[0031]所述第一支撑架安装于所述测试平台邻近所述激光器的上部，所述温度测试组件安装于所述第一支撑架的下部。
[0032]所述第二支撑架安装于所述测试平台邻近所述支撑座的上部，所述功率检测仪安装于所述第二支撑架的上部。
[0033]所述第三支撑架安装于所述测试平台邻近激光器的侧部，所述第三支撑架的侧部
安装有两个摄像头，一个所述摄像头处于激光器的上部，另一个所述摄像头处于激光器的侧部。
[0034]作为本技术的一种优选技术方案，所述夹持机构包括六维调节架和夹爪，所述六维调节架安装于所述测试平台的上部，所述夹爪安装于所述六维调节架的输出端，所述夹爪的内侧安装被测快轴透镜，被测快轴透镜经所述六维调节架调整后与激光器的输出端相对。
[0035]所述夹爪设置有两个，两个所述夹爪与所述六维调节架的输出端之间分别设置有推杆，所述推杆是电动推杆或者气动推杆，所述推杆的输出端与所述夹爪相连。
[0036]作为本技术的一种优选技术方案，所述被测快轴透镜的装载和卸载可以通过人工或者机械臂完成。
[0037]作为本技术的一种优选技术方案，六维调节架和夹爪的控制均通过控制终端完成。
[0038]（三）有益效果
[0039]1.本技术提供的快轴透镜综合性能测试装置，分别通过光斑测试组件、功率测试组件或温度测试组件测试被测快轴透镜的输出光斑分布、输出光能量或工作温度的至少一个性能，简便的实现综合性能的检测；
[0040]2.本技术提供的快轴透镜综合性能测试装置，在进行综合测试时，仅需要固定一次被测快轴透镜，即可完本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于，包括：激光器(250)，所述激光器(250)用于提供激光光束作为测试光源；被测快轴透镜(330)；慢轴透镜(410)；衰减分光膜片(420)；光斑测试组件(400)；功率测试组件(600)；温度测试组件(500)；所述被测快轴透镜(330)、慢轴透镜(410)和衰减分光膜片(420)沿所述激光器(250)的激光光束方向依次设置；所述激光器(250)的激光光束经所述被测快轴透镜(330)后，经所述慢轴透镜(410)形成准直光斑，再经过所述衰减分光膜片(420)分为透射光和反射光，透射光和反射光中的一束光进入光斑测试组件(400)，另一束光进入功率测试组件(600)；所述温度测试组件(500)设置于被测快轴透镜(330)侧方。2.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述激光器(250)为半导体激光器，所述激光器(250)与热沉(240)、制冷器(230)中的至少一个相连接，或者所述激光器(250)依次与热沉(240)和制冷器(230)相连接。3.根据权利要求1所述的快轴透镜综合性能测试装置，其特征在于：所述被测快轴透镜(330)通过夹持机构(300)设置于所述激光器(250)输出端。...
【专利技术属性】
技术研发人员：王龙祥，
申请(专利权)人：王龙祥，
类型：新型
国别省市：
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