用于线性测量的光学标尺或磁性标尺制造技术

本发明专利技术提供一种用于线性测量的光学标尺或磁性标尺。光学标尺或磁性标尺(实际上是用于大长度线性测量的模块化标尺)为如下类型的光学标尺或磁性标尺：光学标尺或磁性标尺包括：尺架(P)、单个钢带(2)以及读取滑块(R)，尺架(P)由一个或更多个模块组成，一个或更多个模块在工具机上相互组装和对准，单个钢带(2)承载标尺光栅并容纳在设置在尺架(P)内的连续凹槽中，读取滑块(R)在尺架(P)内滑动以执行标尺光栅或磁性带的读取。钢带(2)通过钢带(2)的承载标尺光栅的表面并通过钢带(2)的其整个长度上没有机械约束的引导边缘形成读取滑块(R)的唯一滑动引导件。的唯一滑动引导件。的唯一滑动引导件。

【技术实现步骤摘要】
用于线性测量的光学标尺或磁性标尺


[0001]本专利技术涉及一种用于线性测量的光学标尺(optical scale)或磁性标尺，该光学标尺或磁性标尺同样采用用于大长度测量的模块化形式(version)，用于在工具机(tool machine)上或其它类型的机器上的应用。

技术介绍

[0002]如本领域技术人员所熟知的，“光学标尺”或“磁性标尺”是指用于测量线性移动的仪器。特别地，在代表了光学标尺或磁性标尺的优选和最大应用领域的工具机中，光学标尺或磁性标尺用于测量机器的移动部分(通常称为“机器托架”)沿着与机器的固定部分(通常称为“机器结构”或“机床”)成一体的引导件的线性移动。基于通过所述光学标尺或磁性标尺检测到的测量，工具机可对工件执行精密加工。为了描述的简洁起见，以下将仅参考光学标尺进行描述，但是应当理解，本专利技术同样地针对两种类型的标尺，即，设置有要被光学检测的标尺光栅的标尺或设置有磁性带序列(sequence)的标尺。
[0003]在本专利技术的光学标尺对象中，刻印在不锈钢支撑件上的标尺光栅被容纳在称为“尺架(scale...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于线性测量的光学标尺或磁性标尺，所述线性测量也是大长度线性测量，所述光学标尺或磁性标尺为如下类型的光学标尺或磁性标尺：所述光学标尺或磁性标尺包括尺架(P)、单个钢带(2)以及读取滑块(R)，所述尺架(P)由一个或更多个模块组成，所述一个或更多个模块在工具机或另一类型的机器上相互组装和对准，所述单个钢带(2)承载标尺光栅并容纳在设置在所述尺架(P)内的连续凹槽中，所述读取滑块(R)在所述尺架(P)内滑动以执行所述标尺光栅的读取，其特征在于，所述钢带(2)通过所述钢带(2)的承载所述标尺光栅的表面并通过所述钢带(2)的其整个长度上没有机械约束的引导边缘形成所述读取滑块(R)的唯一滑动引导件。2.根据权利要求1所述的光学标尺或磁性标尺，其中，所述钢带(2)与设置在所述尺架中并具有预定横截面的凹槽(1)对应地紧固到所述尺架(P)，所述钢带(2)的与所述引导边缘相反的紧固边缘由于所述凹槽(1)的壁与容纳在所述钢带中形成的在所述钢带的所述紧固边缘附近的对应孔(3)内的多个保持元件(4)之间的相互作用而被容纳并保持在所述凹槽(1)中，所述保持元件(4)具有与所述凹槽(1)的预定横截面的形状和尺寸一致的形状和尺寸。3.根据权利要求2所述的光学标尺或磁性标尺，其中，所述保持元件(4)在相...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：绩伟测量，
类型：发明
国别省市：