指示射线探伤中心和射线照射面积的装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种指示射线探伤中心和射线照射面积的装置，包括依次连接的固定壳体、初级光路光阑和次级光路光阑，固定壳体内侧面上安装有中心光源和环形光源，初级光路光阑和次级光路光阑上均分别开设有中心狭缝和环形狭缝，中心光源、初级光路光阑和次级光路光阑中心狭缝的中点位于同一轴线上，环形光源与初级光路光阑和次级光路光阑的环形狭缝位于同一射线发散锥面上。采用本发明专利技术装置可有效解决不同尺寸规格零部件的射线探伤准确定位、高质量成像问题，能高效解决复杂多壁件的射线探伤难题，装置简单、轻便、易操作，能够大大提高探伤质量和工作效率，效果显著、经济实用，且有助于设备延寿。于设备延寿。于设备延寿。

【技术实现步骤摘要】
指示射线探伤中心和射线照射面积的装置


[0001]本专利技术属于材料分析测试装置
，涉及指示射线探伤中心和射线照射面积的装置。

技术介绍

[0002]射线探伤采用屏蔽式铅房，将射线源和被测工件置于其中进行射线探伤作业，射线探伤作业中，为获得清晰、全面的图像，往往采用调节射线源的位置和样品的位置，使被测零部件处于恰当的射线照射范围内。被测件的位置对射线探伤结果的准确性有直接影响，如果被测件感兴趣区未处在射线辐照面的适当区域，很难对该区域进行高质量射线探伤与质量评估。
[0003]射线辐照时严禁人员在铅房内滞留，因此不能在射线辐照时人工调整被测件的位置，被测件的摆放和调整需要依据经验在辐照前放好，由于经验预估的方式难以准确确定射线照射范围和范围中心，被测件的摆放位置往往不理想；另一方面由于受铅房大小、射线源和样品台自身活动范围的限制，实践中难以很好地解决不同几何形状和大小的构件的位置摆放问题；对感兴趣区的精确探伤只能采用反复调试的方法，才能获得高质量的影像照片，工作量大、效率低，且短时间内反复加/卸载高压影响设备使用寿命。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种指示射线探伤中心和射线照射面积的装置，其特征在于，包括依次连接的固定壳体(1)、初级光路光阑(2)和次级光路光阑(4)，固定壳体(1)内侧面上安装有中心光源(5)和环形光源(6)，初级光路光阑(2)和次级光路光阑(4)上均分别开设有中心狭缝和环形狭缝，中心光源(5)、初级光路光阑(2)和次级光路光阑(4)中心狭缝的中点位于同一轴线上，环形光源(6)与初级光路光阑(2)和次级光路光阑(4)的环形狭缝位于同一射线发散锥面上。2.根据权利要求1所述的一种指示射线探伤中心和射线照射面积的装置，其特征在于，所述初级光路光阑(2)为圆板状结构，表面开设有“十字形”狭缝A(21)和环形狭缝A(22)，环形狭缝A(22)以“十字形”狭缝A(21)中心为圆点。3.根据权利要求2所述的一种指示射线探伤中心和射线照射面积的装置，其特征在于，所述次级光路光阑(4)为圆板状结构，表面开设有“十字形”狭缝B(41)和环形狭缝B(42)，环形狭缝...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫富华，王辉，齐丽娜，母晓明，祁晨，薛静，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第十二研究所，
类型：发明
国别省市：