【技术实现步骤摘要】
一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法
[0001]本专利技术涉及岩体工程
,尤其涉及一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法。
技术介绍
[0002]当前,我国土木建筑、水利水电、交通铁路、石油采矿、甚至军事人防工程等各领域的建设都或多或少地涉及岩体的宏观力学性能。岩体既是工程的环境与对象,也是工程结构的重要材料。如水库大坝、地下厂房的基础建设,为保证结构的稳定性和耐久性,需充分考虑基岩的强度、变形特性及岩石的强度变化规律。从微观层面来看,岩体是由大量非均质的矿物颗粒胶结而成,矿物粒径尺寸的非均质程度对宏观力学特性影响十分明显。随着科技进步,岩体微观结构的研究从简单物性到实验测试不断发展,如采用CT扫描实验法三维可视化表征岩石微观结构,采用测井识别法识别岩石粒度,采用铸体薄片法研究岩石孔隙结构类型。
[0003]尽管学术界研究已经表明岩石颗粒结构的非均质度对其力学和强度特性影响明显,但仍然缺乏统一的广泛适用的岩石颗粒结构非均质度量化方法。因此,建立一个可统一比较不同颗粒结构的非均质度指标,并给出完整非均质度评价方法十分 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法,其特征在于,适用于矿物颗粒胶结而成的岩石颗粒结构非均质度评价,其主要包括如下步骤:S1.选取待测岩层,取样后将其制成岩样切片,获取微观颗粒结构图像;S2.采用粒度分布统计分析软件记录所述清晰边缘结构图中各颗粒水平方向与铅垂方向投影的最大边界值,计算单颗粒对应的平均粒度;S3.根据所述计算求得平均粒度,生成平均粒度分布图,并获得科学有效的粒度分布区间;S4.结合所述科学有效区间中的最大颗粒、最小颗粒、平均粒度值,根据如下的非均质度参数计算模型,求得非均质度指标;其中,为模型平均颗粒粒度,F为非均质度指标,D1,D2,D3分别为矿物颗粒的最小粒度、平均粒度、最大粒度;S5.基于所述非均质度指标定量评价岩石微观颗粒结构的非均质程度。2.根据权利要求1所述的一种岩石颗粒结构的非均质度评价方法,其特征在于:所述步骤S1中,包括如下步骤,切片、选取待测岩层,取样后利用切片机进行岩石切片;清洗、对切片后的岩石片进行清洗;打磨、对清洗后的岩石片进行抛光、以制成0...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘广,方怡秋,张振华,王静峰,姚华彦,
申请(专利权)人:合肥工业大学,
类型:发明
国别省市:
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