校正参数计算方法、位移量计算方法、校正参数计算装置及位移量计算装置制造方法及图纸

校正参数计算方法包括：第1取得步骤(S11)，从第1摄像装置(10)取得通过对对象物(60)进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤(S12)，从第2摄像装置(20)取得距对象物(60)的第2距离数据、以及通过对对象物(60)进行摄像而得到的第2图像数据；建立对应步骤(S13)，将第1图像数据及第2图像数据中的对象物(60)的位置建立对应；估计步骤(S14)，估计第1摄像装置(10)的位置；距离计算步骤(S15)，计算从第1摄像装置(10)到对象物(60)的第1距离数据；以及参数计算步骤(S16)，使用第1距离数据计算用于将对象物(60)的像素位移量换算为实际尺寸位移量的校正参数。位移量的校正参数。位移量的校正参数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】校正参数计算方法、位移量计算方法、校正参数计算装置及位移量计算装置


[0001]本公开涉及计算用于使用图像对表示对象物的运动的位移的实际尺寸值即实际尺寸位移量进行计测的校正参数的校正参数计算方法、位移量计算方法、校正参数计算装置及位移量计算装置。

技术介绍

[0002]以往，公开了一种摄像装置，使用由相机对对象物进行摄像而得到的图像数据、以及由激光距离计等距离计测装置计测的距对象物的距离测定值，以非接触方式测定对象物周围的状态(参照专利文献1)。例如在对象物是桥梁的情况下，状态是桥梁的挠曲量等。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特许第5281610号公报

技术实现思路

[0006]专利技术所要解决的课题
[0007]但是，在专利文献1的摄像装置中，为了高精度地测定对象物的状态，需要以相机的光轴与距离计测装置的光轴平行的方式设置相机和距离计测装置。因此，在专利文献1中公开了使用安装器材，该安装器材用于以相机的光轴与距离计测装置的光轴平行的方式安装相机和距离计测装置。像这样，在专利文献1的摄像装置中，为了高精度地计测物体的状态需要准备安装器材，难以高精度而且容易地计测位移的实际尺寸值。
[0008]于是，本公开涉及在使用图像计测位移时能够高精度而且容易地将位移量换算为实际尺寸值的校正参数计算方法等。
[0009]用于解决课题的手段
[0010]本公开的一个方式所涉及的校正参数计算方法计算用于使用图像对实际尺寸位移量进行计测的校正参数，该实际尺寸位移量是表示对象物的运动的位移的实际尺寸值，所述校正参数计算方法包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物进行摄像而得到的第2图像数据；建立对应步骤，将所述第1图像数据中的所述对象物的位置与所述第2图像数据中的所述对象物的位置建立对应；估计步骤，基于建立对应结果以及所述第2距离数据，估计所述第1摄像装置相对于所述第2摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算步骤，使用所述第1距离数据，计算用于将所述对象物的计测点的像素位移量换算为实际尺寸位移量的所述校正参数，所述对象物的计测点的像素位移量基于由所述第1摄像装置在相互不同的定时摄像的2个以上的第3图像数据。
[0011]本公开的一个方式所涉及的校正参数计算方法计算用于使用图像对实际尺寸位移量进行计测的校正参数，该实际尺寸位移量是表示对象物的运动的位移的实际尺寸值，所述校正参数计算方法包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物和所述第1摄像装置进行摄像而得到的第2图像数据；对所述第2图像数据中的第1摄像装置的形状进行检测的步骤；估计步骤，基于检测结果，估计所述第1摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算步骤，使用所述第1距离数据，计算用于将所述对象物的计测点的像素位移量换算为实际尺寸位移量的所述校正参数，所述对象物的计测点的像素位移量基于由所述第1摄像装置在相互不同的定时摄像的2个以上的第3图像数据。
[0012]另外，本公开的一个方式所涉及的校正参数计算方法计算用于使用图像对实际尺寸物理量进行计测的校正参数，该实际尺寸物理量是对象物在实际空间中的物理量的实际尺寸值，所述校正参数计算方法包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物进行摄像而得到的第2图像数据；建立对应步骤，将所述第1图像数据中的所述对象物的位置与所述第2图像数据中的所述对象物的位置建立对应；估计步骤，基于建立对应结果以及所述第2距离数据，估计所述第1摄像装置相对于所述第2摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算步骤，使用所述第1距离数据，计算用于将所述对象物的计测点在像素上的物理量换算为所述实际空间上的物理量的所述校正参数，所述对象物的计测点在像素上的物理量基于由所述第1摄像装置摄像的第3图像数据。
[0013]另外，本公开的一个方式所涉及的校正参数计算方法计算用于使用图像对对象物在实际空间中的物理量进行计测的校正参数，包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物和所述第1摄像装置进行摄像而得到的第2图像数据；对所述第2图像数据中的第1摄像装置的形状进行检测的步骤；估计步骤，基于检测结果，估计所述第1摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算步骤，使用所述第1距离数据，计算用于将所述对象物的计测点的像素物理量换算为所述实际空间上的实际尺寸物理量的所述校正参数，该对象物的计测点的像素物理量基于由所述第1摄像装置摄像的第3图像数据。
[0014]本公开的一个方式所涉及的位移量计算方法包括：第4取得步骤，取得通过使用上述校正参数计算方法计算的所述校正参数；第5取得步骤，取得所述2个以上的第3图像数据；以及换算步骤，基于所述校正参数，将所述2个以上的第3图像数据中的所述像素位移量换算为所述实际尺寸位移量。
[0015]本公开的一个方式所涉及的校正参数计算装置计算用于使用图像对实际尺寸位
移量进行计测的校正参数，该实际尺寸位移量是表示对象物的运动的位移的实际尺寸值，所述校正参数计算装置具备：第1取得部，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得部，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物进行摄像而得到的第2图像数据；匹配部，将所述第1图像数据中的所述对象物的位置与所述第2图像数据中的所述对象物的位置建立对应；位置估计部，基于建立对应结果以及所述第2距离数据，估计所述第1摄像装置相对于所述第2摄像装置的位置；距离计算部，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算部，使用所述第1距离数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种校正参数计算方法，计算用于使用图像对实际尺寸位移量进行计测的校正参数，该实际尺寸位移量是表示对象物的运动的位移的实际尺寸值，所述校正参数计算方法包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物进行摄像而得到的第2图像数据；建立对应步骤，将所述第1图像数据中的所述对象物的位置与所述第2图像数据中的所述对象物的位置建立对应；估计步骤，基于建立对应结果以及所述第2距离数据，估计所述第1摄像装置相对于所述第2摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算步骤，使用所述第1距离数据，计算用于将所述对象物的计测点的像素位移量换算为实际尺寸位移量的所述校正参数，所述对象物的计测点的像素位移量基于由所述第1摄像装置在相互不同的定时摄像的2个以上的第3图像数据。2.一种校正参数计算方法，计算用于使用图像对实际尺寸位移量进行计测的校正参数，该实际尺寸位移量是表示对象物的运动的位移的实际尺寸值，所述校正参数计算方法包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物和所述第1摄像装置进行摄像而得到的第2图像数据；对所述第2图像数据中的第1摄像装置的形状进行检测的步骤；估计步骤，基于检测结果，估计所述第1摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算步骤，使用所述第1距离数据，计算用于将所述对象物的计测点的像素位移量换算为实际尺寸位移量的所述校正参数，所述对象物的计测点的像素位移量基于由所述第1摄像装置在相互不同的定时摄像的2个以上的第3图像数据。3.如权利要求1或者2所述的校正参数计算方法，所述对象物中的要计测所述位移的计测点有2个以上，在所述距离计算步骤中，计算从2个以上的计测点各自到所述第1摄像装置的2个以上的所述第1距离数据，在所述参数计算步骤中，基于2个以上的所述第1距离数据，按所述2个以上的计测点中的每个计测点，计算与该计测点对应的校正值作为所述校正参数。4.如权利要求3所述的校正参数计算方法，在所述距离计算步骤中，计算从包括所述2个以上的计测点在内的所述对象物的多个表面点各自到所述第1摄像装置的多个所述第1距离数据，
在所述参数计算步骤中，基于多个所述第1距离数据，按所述多个表面点中的每个表面点计算与该表面点对应的校正值，基于计算出的多个校正值生成校正值映射作为所述校正参数。5.如权利要求1～4中任一项所述的校正参数计算方法，还包括：第3取得步骤，取得表示所述对象物的位移的方向的位移方向信息，在所述参数计算步骤中，还使用所述位移方向信息计算所述校正参数。6.如权利要求1～5中任一项所述的校正参数计算方法，所述第1摄像装置具有第1相机，所述第2摄像装置具有摄像所述第2图像数据的第2相机、以及计测所述第2距离数据的深度传感器，所述第1相机比所述第2相机分辨率高或者帧率高。7.一种校正参数计算方法，计算用于使用图像对实际尺寸物理量进行计测的校正参数，该实际尺寸物理量是对象物在实际空间中的物理量的实际尺寸值，所述校正参数计算方法包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物进行摄像而得到的第2图像数据；建立对应步骤，将所述第1图像数据中的所述对象物的位置与所述第2图像数据中的所述对象物的位置建立对应；估计步骤，基于建立对应结果以及所述第2距离数据，估计所述第1摄像装置相对于所述第2摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，计算从所述第1摄像装置到所述对象物的第1距离数据；以及参数计算步骤，使用所述第1距离数据，计算用于将所述对象物的计测点在像素上的物理量换算为所述实际空间上的物理量的所述校正参数，所述对象物的计测点在像素上的物理量基于由所述第1摄像装置摄像的第3图像数据。8.一种校正参数计算方法，计算用于使用图像对对象物在实际空间中的物理量进行计测的校正参数，包括：第1取得步骤，从第1摄像装置取得通过对所述对象物进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤，从所述第2摄像装置，取得从被配置在与所述第1摄像装置不同的位置的第2摄像装置到所述对象物的第2距离数据、以及通过对所述对象物和所述第1摄像装置进行摄像而得到的第2图像数据；对所述第2图像数据中的第1摄像装置的形状进行检测的步骤；估计步骤，基于检测结果，估计所述第1摄像装置的位置；距离计算步骤，基于所述第1摄像装置的位置以及所述第2距离数据，...

【专利技术属性】
技术研发人员：今川太郎，野田晃浩，丸山悠树，日下博也，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：