测试功率输出级的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种测试功率输出级的方法和装置，其中所述功能输出级具有至少一个半桥，此半桥包括串联的且加有工作电压的上位和下位半导体开关，该至少一个半桥的半导体开关之间的节点构成输出端，本发明专利技术给出了由控制装置执行的下列相关步骤：在半导体开关未导通时测试，以确定输出端上的电压是否在预定中心容限带内；在上位半导体开关导通时测试，以确定输出端上的电压是否在预定高容限带内；在下位半导体开关导通时测试，以确定输出端上的电压是否在预定低容限带内。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测试功率输出级的方法和装置，所述功能输出级具有至少一个半桥，该半桥包括串联的、其上加有工作电压的上位和下位半导体开关，该至少一个半桥的半导体开关之间的连接点构成输出端。
技术介绍
设置了半导体开关的功率输出级除用于其他事物以外还在机动车中用于驱动负载、如直流电机。低阻功率MOSFET的迅速发展意味着甚至有可能以低成本驱动千瓦级的负载。在机动车中，有可能以物理上彼此隔开的方式设置功率输出级和负载，在这种情况下，负载馈电线路到地或到电池电压的短路可导致大故障电流。由于这些电路的耐受度、内阻和所用的大电流，通常在这些电路中不使用熔丝。此外，功率输出级中有故障的MOSFET可导致大故障电流流过。因此，本专利技术的目的是提供一种用于功率输出级的测试方法，以便在短路时切断工作电压或使工作电压一开始就完全不导通，从而保护功率输出级和机动车电源系统不受损坏。
技术实现思路
就本专利技术的方法而言，本专利技术目的是通过如下由控制装置执行的步骤来实现的-在半导体开关未导通时进行测试，以确定输出端上的电压是否在预定中心容限带内； -在上位半导体开关导通时进行测试，以确定输出端上的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试功率输出级的方法，所述功能输出级具有至少一个半桥，此半桥包括串联的且加有工作电压的上位和下位半导体开关，所述至少一个半桥的所述半导体开关之间的连接点构成输出端，其特征在于由控制装置执行下列步骤：－在所述半导体开关未导通时 进行测试，以确定所述输出端上的电压是否在预定中心容限带内；－在所述上位半导体开关导通时进行测试，以确定所述输出端上的电压是否在预定高容限带内；－在所述下位半导体开关导通时进行测试，以确定所述输出端上的电压是否在预定低容限带内 ，以及，当所有所述输出电压在所述相应的容限带内时，就确定所述输出功率级是正常的。

【技术特征摘要】
DE 2003-5-9 10320926.31.一种用于测试功率输出级的方法，所述功能输出级具有至少一个半桥，此半桥包括串联的且加有工作电压的上位和下位半导体开关，所述至少一个半桥的所述半导体开关之间的连接点构成输出端，其特征在于由控制装置执行下列步骤- 在所述半导体开关未导通时进行测试，以确定所述输出端上的电压是否在预定中心容限带内；- 在所述上位半导体开关导通时进行测试，以确定所述输出端上的电压是否在预定高容限带内；- 在所述下位半导体开关导通时进行测试，以确定所述输出端上的电压是否在预定低容限带内，以及，当所有所述输出电压在所述相应的容限带内时，就确定所述输出功率级是正常的。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述测试期间或之前，所述工作电压是通过限流装置提供的，并且一旦已确定所述功率输出级是正常的，就不加限流地提供所述工作电压。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述测试期间，所述半导体开关以在所述测试期间既不造成破坏又不影响负载或只轻微影响负载的方式短暂地导通，以及一旦已确定所述输出级是正常的，则向所述半导体开关提供用于正常操作的驱动脉冲。4.如前述权利要求之一所述的方法，其特征在于，对于具有至少两个半桥的功率输出级，在所述上位和下位半导体开关导通期间，连续对所述各个半桥中的每个半导体开关进行测试。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述不同的半桥的测试期间通过评估所述输出电压来识别所述输出端和负载之间的线路中断。6.一种用于测试功率输出级的装置，所述功能输出级具有至少一个半桥，此半桥包括串联的且加有工作电压的上位和下位半导体开关，所述至少一个半桥的所述半导体开关之间的连接点构成输出端，其特征在于所述至少一个半桥(7、8、9)的输出电压和所述工作电压可以提供给窗口比较器(20′)的输入端，所述窗口比较器(20′)与控制所述半导体开关(1，2，3，4，5，6)的驱动电路(21)的控制装置(20)相连，以及所述控制装置(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：W贝，P菲舍尔，M亨宁格尔，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]