一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组制造技术

本实用新型专利技术公开了一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组，涉及芯片检测技术领域。本实用新型专利技术包括底座、芯片，底座的长度方向上滑动连接有相机、检测组件,底座的宽度方向上连接有连接框，连接框位于检测组件和相机之间。本实用新型专利技术通过设置的检测组件，并且由于使用了多片反光镜以及半透半反镜片，使检测装置能够多维度检测产品的外观，相对于现有的模组，减少了模组的空间占用并且提升芯片检测指标，提高了芯片检测效率，通过设置的相机，相机可以更好的对芯片进行检测，从而提高了装置的实用性。用性。用性。

【技术实现步骤摘要】
一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组


[0001]本技术属于芯片检测
，特别是涉及一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组。

技术介绍

[0002]晶体管专利技术并大量生产之后，各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用，取代了真空管在电路中的功能与角色。到了20世纪中后期半导体制造技术进步，使得集成电路成为可能。相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件，集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片，是一个巨大的进步。集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管。
[0003]随着半导体行业的发展以及国家对半导体产业的支持，半导体行业现在需求的速度越来越快，检测要求也越来越高，在此前的光学检测模组对TO系列的产品需要使用两套模组分别对产品的尺寸外观进行检测，并且无法对产品的两侧面缺陷进行检测，产品的的管控存在空白区域。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组，解决了上述现有技术中无法对产品的两侧面缺陷进行检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组，其特征在于，包括：底座（1）、芯片（6），底座（1）的长度方向上滑动连接有相机（2）、检测组件（3）；底座（1）的宽度方向上连接有连接框（4），连接框（4）位于检测组件（3）和相机（2）之间；底座（1）的两侧均连接有连接组件（5），检测组件（3）位于两连接组件（5）之间，芯片（6）位于检测组件（3）内。2.如权利要求1所述的一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组，其特征在于，连接组件（5）包括：安装在底座（1）的水平方向连接的光源遮光板（501）和固定板（502），固定板（502）在远离相机（2）的一侧连接有定位板（504）。3.如权利要求1所述的一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组，其特征在于，检测组件（3）包括：滑动配合在底座（1）长度方向上的固定座（301）和支撑座（302）、装设在底座（1）一侧的背光光源支撑板（303）...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴玖术，
申请(专利权)人：东莞市伟顾德图像技术有限公司，
类型：新型
国别省市：