一种半导体器件的测试验证平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体器件的测试验证平台，验证板外侧设置有检验组件，承载板顶面滑动安装有滑板，滑板顶面总部开设有转槽，转槽内部转动安装有定位圆，定位圆顶面均匀开设有卡孔，检验槽内部两侧均安装有滑轨，位于同一个检验槽的两个滑轨分别滑动安装于量块两侧，量块中部开设有导向槽，导向槽内部通过连接弹簧连接有导管，位于验证板同一侧的导管均连接于拉板侧面，定位胶圈内部镶嵌有磁板，验证板背面设置有收集组件，本实用新型专利技术通过将半导体的引脚卡接于卡孔内，量块挤压半导体进行测量，松动后，转动转槽内的定位圆即可进行多角度的测量，且多个检验槽内同时进行检测，方便进行对比的同时检验效率也更高。方便进行对比的同时检验效率也更高。方便进行对比的同时检验效率也更高。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体器件的测试验证平台


[0001]本技术涉及半导体
，具体为一种半导体器件的测试验证平台。

技术介绍

[0002]工艺验证是通过试生产，对设备、原材料和零配件、工艺和操作规程以及生产环境等进行分析，确认生产系统所生产的产品能达到质量要求，以保证投产后产品能够稳定地符合各项质量要求，半导体器件常见的工艺验证为抽样后从外观、尺寸、耐压耐热等方面进行检测。
[0003]但是目前市场上的半导体器件在对尺寸进行检测时，常利用游标卡尺一个个测量，耗费时间长，操作繁琐，速度慢，且不易进行对比，检测效率低下。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种半导体器件的测试验证平台，可以有效解决上述
技术介绍
中提出的半导体器件在对尺寸进行检测时，常利用游标卡尺一个个测量，耗费时间长，操作繁琐，速度慢，且不易进行对比，检测效率低下的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：包括验证板，所述验证板外侧设置有检验组件，所述检验组件包括推板、承载板、转槽、定位圆、卡孔、检验槽、量块和磁板；
[0006]所述卡孔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件的测试验证平台，包括验证板(1)，其特征在于：所述验证板(1)外侧设置有检验组件(2)，所述检验组件(2)包括推板(202)、承载板(203)、转槽(205)、定位圆(206)、卡孔(207)、检验槽(208)、量块(210)和磁板(216)；所述卡孔(207)内连接半导体的引脚，量块(210)挤压半导体进行测量，松动后，转动转槽(205)内的定位圆(206)即可进行多角度的测量，操作简单，多个检验槽(208)内同时进行检测，推动推板(202)，将检验槽内的承载板顶起，半导体抬升，再拆下磁板(216)，承载板(203)失去磁性，取下检验后的半导体。2.根据权利要求1所述的一种半导体器件的测试验证平台，其特征在于，所述检验组件(2)包括推动槽(201)、推板(202)、承载板(203)、滑板(204)、转槽(205)、定位圆(206)、卡孔(207)、检验槽(208)、滑轨(209)、量块(210)、导向槽(211)、连接弹簧(212)、导管(213)、拉板(214)、定位胶圈(215)、磁板(216)、拉把(217)和弹性复位胶条(218)所述推动槽(201)开设于验证板(1)底面中部，所述推动槽(201)内部滑动安装有推板(202)，所述推板(202)两侧对称焊接有承载板(203)，所述承载板(203)顶面滑动安装有滑板(204)，所述推板(202)顶面两侧靠近滑板(204)处安装有弹性复位胶条(218)，所述滑板(204)顶面总部开设有转槽(205)，所述转槽(205)内部转动安装有定位圆(206)，所述定位圆(206)顶面均匀开设有卡孔(207)，所述验证板(1)对应承载板(203)处开设有检验槽(208)，所述检验槽(208)内部两侧均安装有滑轨(209)，位于同一个所述检验槽(208)的两个滑轨(209)分别滑动安装于量块(210)两侧，所述量块(210)中部开设有导向槽(211)，所述导向槽(211)内部通过连...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁家禄，虞强龙，
申请(专利权)人：密科南京新能源光电科技研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：