本实用新型专利技术公开了一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，包括测试箱，所述测试箱的前端两侧活动安装有提手，所述测试箱的上表面靠近前端固定安装有卡板，所述测试箱的前端面设有仪表指针，所述测试箱的前端面位于仪表指针的一侧设有显示屏，所述测试箱的前端面位于显示屏的下方两侧设有检测插孔，所述卡板的一端表面活动嵌设有锁紧旋钮，所述提手的两侧表面活动嵌设有定位插销。本实用新型专利技术所述的一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，通过设置的卡板和锁紧旋钮的相互配合，可以对多个发光二极管进行固定放置后的测试，通过设置的定位插销，可以对提手进行不同角度的固定，从而对测试箱进行稳定的支撑。而对测试箱进行稳定的支撑。而对测试箱进行稳定的支撑。
【技术实现步骤摘要】
一种发光二极管性能检测用的限压测试装置
[0001]本技术涉及限压测试装置领域，特别涉及一种发光二极管性能检测用的限压测试装置。
技术介绍
[0002]二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件，它具有单向导电性能，即给二极管阳极和阴极加上正向电压时，二极管导通，当给阳极和阴极加上反向电压时，二极管截止，因此，二极管的导通和截止，则相当于开关的接通与断开，二极管是最早诞生的半导体器件之一，其应用非常广泛，特别是在各种电子电路中，利用二极管和电阻、电容、电感等元器件进行合理的连接，构成不同功能的电路，可以实现对交流电整流、对调制信号检波、限幅和钳位以及对电源电压的稳压等多种功能，其中对二极管的正向或者反向限压电压通过耐压测试仪进行检测，从而确定二极管的质量是否合格；
[0003]然而现阶段的发光二极管性能检测用的限压测试装置存在一些不足，例如申请号为202021933383.5，其公开了“一种用于LED路灯发光二极管限压测试装置”，用于支撑检测仪器本体的支撑装置在不使用的时候不能隐藏放置，并且检测仪器本体不能对发光二极管进行有效的固定测试，只能用手拿着发光二极管进行测试。
技术实现思路
[0004]本技术的主要目的在于提供一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，可以有效解决
技术介绍
中的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0006]一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，包括测试箱，所述测试箱的前端两侧活动安装有提手，所述测试箱的上表面靠近前端固定安装有卡板，所述测试箱的前端面设有仪表指针，所述测试箱的前端面位于仪表指针的一侧设有显示屏，所述测试箱的前端面位于显示屏的下方两侧设有检测插孔，所述卡板的一端表面活动嵌设有锁紧旋钮，所述提手的两侧表面活动嵌设有定位插销。
[0007]优选的，所述测试箱的两侧表面靠近后端开设有散热口，所述测试箱的后端面固定安装有垫块，所述测试箱的两侧表面靠近前端开设有定位槽，所述测试箱的后端面靠近一侧活动安装有电源盖。
[0008]优选的，所述提手的表面套设有护套，所述提手的两侧表面开设有嵌设孔，所述嵌设孔的内表面开设有回弹槽，所述定位插销嵌设在嵌设孔中，所述提手通过活动轴与测试箱活动连接。
[0009]优选的，所述卡板的上表面位于后端开设有二极管槽，所述卡板的上表面位于二极管槽的前端两侧开设有引脚槽，所述引脚槽与二极管槽连通，所述卡板的上表面活动安装有盖板，所述盖板的下表面也开设有二极管槽和引脚槽，所述卡板的上表面靠近一端开设有插槽，所述插槽的内部一端表面开设有收纳槽，所述盖板的下表面靠近一端固定安装
有插板，所述插板的一端表面开设有锁槽，所述插板的内部开设有回转槽，所述回转槽与锁槽连通。
[0010]优选的，所述锁紧旋钮的后端面固定安装有锁柱，所述锁柱的后端面固定安装有锁块，所述锁柱的后端延伸于插槽的内部。
[0011]优选的，所述定位插销的后端面固定安装有定位柱，所述定位柱的表面固定套设有止挡环，所述定位柱的表面套设有弹簧，所述止挡环嵌设在回弹槽中，所述定位柱的后端嵌设在定位槽中。
[0012]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0013]本技术中，通过设置的卡板和锁紧旋钮的相互配合，可以对多个发光二极管进行固定放置后的测试，通过设置的定位插销，可以对提手进行不同角度的固定，从而对测试箱进行稳定的支撑。
附图说明
[0014]图1为本技术一种发光二极管性能检测用的限压测试装置的一侧整体结构图；
[0015]图2为本技术一种发光二极管性能检测用的限压测试装置的图1中A处放大图；
[0016]图3为本技术一种发光二极管性能检测用的限压测试装置的锁紧旋钮安装示意图的局部剖面图；
[0017]图4为本技术一种发光二极管性能检测用的限压测试装置的另一侧整体结构图；
[0018]图5为本技术一种发光二极管性能检测用的限压测试装置的定位插销安装示意图的局部剖面图。
[0019]图中：1、测试箱；101、散热口；102、垫块；103、定位槽；104、电源盖；2、提手；201、护套；202、嵌设孔；203、回弹槽；3、卡板；301、盖板；302、二极管槽；303、引脚槽；304、插槽；305、插板；306、收纳槽；4、仪表指针；5、显示屏；6、检测插孔；7、锁紧旋钮；701、锁柱；702、锁块；8、定位插销；801、定位柱；802、止挡环；803、弹簧。
具体实施方式
[0020]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0021]实施例1
[0022]如图1
‑
4所示一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，包括测试箱1，测试箱1的前端两侧活动安装有提手2，测试箱1的上表面靠近前端固定安装有卡板3，利用卡板3可以对多个发光二极管固定放置，测试箱1的前端面设有仪表指针4，测试箱1的前端面位于仪表指针4的一侧设有显示屏5，测试箱1的前端面位于显示屏5的下方两侧设有检测插孔6，卡板3的一端表面活动嵌设有锁紧旋钮7，提手2的两侧表面活动嵌设有定位插销8，利用定位插销8可以对提手2进行不同位置的固定，从而对测试箱1进行支撑；
[0023]测试箱1的两侧表面靠近后端开设有散热口101，测试箱1的后端面固定安装有垫
块102，测试箱1的两侧表面靠近前端开设有定位槽103，测试箱1的后端面靠近一侧活动安装有电源盖104；提手2的表面套设有护套201，提手2的两侧表面开设有嵌设孔202，嵌设孔202的内表面开设有回弹槽203，定位插销8嵌设在嵌设孔202中，提手2通过活动轴与测试箱1活动连接；卡板3的上表面位于后端开设有二极管槽302，卡板3的上表面位于二极管槽302的前端两侧开设有引脚槽303，引脚槽303与二极管槽302连通，卡板3的上表面活动安装有盖板301，盖板301的下表面也开设有二极管槽302和引脚槽303，卡板3的上表面靠近一端开设有插槽304，插槽304的内部一端表面开设有收纳槽306，盖板301的下表面靠近一端固定安装有插板305，插板305的一端表面开设有锁槽，插板305的内部开设有回转槽，回转槽与锁槽连通；锁紧旋钮7的后端面固定安装有锁柱701，锁柱701的后端面固定安装有锁块702，锁柱701的后端延伸于插槽304的内部；定位插销8的后端面固定安装有定位柱801，定位柱801的表面固定套设有止挡环802，定位柱801的表面套设有弹簧803，止挡环802嵌设在回弹槽203中，定位柱801的后端嵌设在定位槽103中。
[0024]实施例2
[0025]需要说明的是，本技术为一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，在使用时，可以把多个需要测试的发光二极管放置在卡板3的二极管槽302中，然后盖上盖板301，使得盖板301的插板305本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，其特征在于：包括测试箱(1)，所述测试箱(1)的前端两侧活动安装有提手(2)，所述测试箱(1)的上表面靠近前端固定安装有卡板(3)，所述测试箱(1)的前端面设有仪表指针(4)，所述测试箱(1)的前端面位于仪表指针(4)的一侧设有显示屏(5)，所述测试箱(1)的前端面位于显示屏(5)的下方两侧设有检测插孔(6)，所述卡板(3)的一端表面活动嵌设有锁紧旋钮(7)，所述提手(2)的两侧表面活动嵌设有定位插销(8)。2.根据权利要求1所述的一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，其特征在于：所述测试箱(1)的两侧表面靠近后端开设有散热口(101)，所述测试箱(1)的后端面固定安装有垫块(102)，所述测试箱(1)的两侧表面靠近前端开设有定位槽(103)，所述测试箱(1)的后端面靠近一侧活动安装有电源盖(104)。3.根据权利要求2所述的一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，其特征在于：所述提手(2)的表面套设有护套(201)，所述提手(2)的两侧表面开设有嵌设孔(202)，所述嵌设孔(202)的内表面开设有回弹槽(203)，所述定位插销(8)嵌设在嵌设孔(202)中，所述提手(2)通过活动轴与测试箱(1)活动连接。4.根据权利要求3所述的一种发光二极管性能检测用的限压测试装置，其特征在于：...
【专利技术属性】
技术研发人员：方林，胡建海，叶军，
申请(专利权)人：深圳市天瀛深源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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