本申请提供一种金属制品平整度检测方法、装置及电子设备，该方法包括：在待测金属制品与电容区中的正极板形成电容器时，检测电容器的电容值；根据电容器在待测金属制品穿过电容区过程中的电容值变化情况，确定待测金属制品不同检测区域与正极板之间的距离；根据待测金属制品不同检测区域与正极板之间的距离，确定待测金属制品的平整度检测结果。上述方案提供的方法，通过使待测金属制品与电容区中的正极板形成电容器，以根据电容器的电容值变化情况，确定该待测金属制品的平整度检测结果，正极板本身制造成本较低，也就降低了金属制品平整度的检测成本。整度的检测成本。整度的检测成本。
【技术实现步骤摘要】
一种金属制品平整度检测方法、装置及电子设备
[0001]本申请涉及质量检测
，尤其涉及一种金属制品平整度检测方法、装置及电子设备。
技术介绍
[0002]目前，服务器等电子产品在生产制造的过程中，都需要采用多种金属元器件，如PIN针等，这些金属元器件的金属表面的平整度将影响产品质量，因此，如何对这样的金属制品进行平整度检测成为了不可忽略的问题。
[0003]在现有技术中，通常利用激光反射和视觉图像处理等技术进行平整度检测。但无论是激光反射技术还是视觉图像处理技术，都对检测设备的精度有较高要求，增加了检测成本。
技术实现思路
[0004]本申请提供一种金属制品平整度检测方法、装置及电子设备，以解决现有技术增加了金属制品平整度的检测成本等缺陷。
[0005]本申请第一个方面提供一种金属制品平整度检测方法，包括：
[0006]在待测金属制品与电容区中的正极板形成电容器时，检测所述电容器的电容值；
[0007]根据所述电容器在所述待测金属制品穿过所述电容区过程中的电容值变化情况，确定所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离；
[0008]根据所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，确定所述待测金属制品的平整度检测结果。
[0009]可选的，所述根据所述电容器在所述待测金属制品穿过所述电容区过程中的电容值变化情况，确定所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，包括：
[0010]获取所述待测金属制品的属性信息；其中，所述属性信息包括多种能够影响电容值的参数；
[0011]根据所述待测金属制品的属性信息和各所述检测区域所对应的电容器的电容值，确定所述待测金属制品各检测区域与所述正极板之间的距离。
[0012]可选的，所述待测金属制品的属性信息至少包括：所述待测金属制品的相对介电常数。
[0013]可选的，所述根据所述待测金属制品的属性信息和各所述检测区域所对应的电容器的电容值，确定所述待测金属制品各检测区域与所述正极板之间的距离，包括：
[0014]根据如下公式计算所述待测金属制品的检测区域与所述正极板之间的距离：
[0015][0016]其中，d表示待测金属制品的检测区域与所述正极板之间的距离，C表示该检测区域所对应的电容器的电容值，k表示静电力常量，ε
r
表示所述待测金属制品的相对介电常
数，S表示所述电容器的极板正对面积。
[0017]可选的，在检测所述电容器的电容值之前，所述方法还包括：
[0018]将所述待测金属制品的测试面划分为多个测试区域；其中，所述测试区域的长度与所述正极板的长度相同。
[0019]可选的，所述根据所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，确定所述待测金属制品的平整度检测结果，包括：
[0020]根据所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，确定各所述检测区域之间的高度差；
[0021]根据所述各所述检测区域之间的高度差，确定所述待测金属制品的平整度检测结果。
[0022]可选的，所述根据所述各所述检测区域之间的高度差，确定所述待测金属制品的平整度检测结果，包括：
[0023]根据所述各所述检测区域之间的高度差与预设的高度差阈值之间的大小关系，确定所述待测金属制品的平整度检测结果。
[0024]本申请第二个方面提供一种金属制品平整度检测装置，包括：
[0025]检测模块，用于在待测金属制品与电容区中的正极板形成电容器时，检测所述电容器的电容值；
[0026]距离确定模块，用于根据所述电容器在所述待测金属制品穿过所述电容区过程中的电容值变化情况，确定所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离；
[0027]结果确定模块，用于根据所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，确定所述待测金属制品的平整度检测结果。
[0028]可选的，所述距离确定模块，具体用于：
[0029]获取所述待测金属制品的属性信息；其中，所述属性信息包括多种能够影响电容值的参数；
[0030]根据所述待测金属制品的属性信息和各所述检测区域所对应的电容器的电容值，确定所述待测金属制品各检测区域与所述正极板之间的距离。
[0031]可选的，所述待测金属制品的属性信息至少包括：所述待测金属制品的相对介电常数。
[0032]可选的，所述距离确定模块，具体用于：
[0033]根据如下公式计算所述待测金属制品的检测区域与所述正极板之间的距离：
[0034][0035]其中，d表示待测金属制品的检测区域与所述正极板之间的距离，C表示该检测区域所对应的电容器的电容值，k表示静电力常量，ε
r
表示所述待测金属制品的相对介电常数，S表示所述电容器的极板正对面积。
[0036]可选的，所述装置还包括：
[0037]分区模块，用于将所述待测金属制品的测试面划分为多个测试区域；其中，所述测试区域的长度与所述正极板的长度相同。
[0038]可选的，所述结果确定模块，具体用于：
[0039]根据所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，确定各所述检测区域之间的高度差；
[0040]根据所述各所述检测区域之间的高度差，确定所述待测金属制品的平整度检测结果。
[0041]可选的，所述结果确定模块，具体用于：
[0042]根据所述各所述检测区域之间的高度差与预设的高度差阈值之间的大小关系，确定所述待测金属制品的平整度检测结果。
[0043]本申请第三个方面提供一种电子设备，包括：至少一个处理器和存储器；
[0044]所述存储器存储计算机执行指令；
[0045]所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述至少一个处理器执行如上第一个方面以及第一个方面各种可能的设计所述的方法。
[0046]本申请第四个方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，当处理器执行所述计算机执行指令时，实现如上第一个方面以及第一个方面各种可能的设计所述的方法。
[0047]本申请技术方案，具有如下优点：
[0048]本申请提供一种金属制品平整度检测方法、装置及电子设备，该方法包括：在待测金属制品与电容区中的正极板形成电容器时，检测电容器的电容值；根据电容器在待测金属制品穿过电容区过程中的电容值变化情况，确定待测金属制品不同检测区域与正极板之间的距离；根据待测金属制品不同检测区域与正极板之间的距离，确定待测金属制品的平整度检测结果。上述方案提供的方法，通过使待测金属制品与电容区中的正极板形成电容器，以根据电容器的电容值变化情况，确定该待测金属制品的平整度检测结果，正极板本身制造成本较低，也就降低了金属制品平整度的检测成本。
附图说明
[0049]为了更清楚地说明本申请实施例或现有本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种金属制品平整度检测方法，其特征在于，包括：在待测金属制品与电容区中的正极板形成电容器时，检测所述电容器的电容值；根据所述电容器在所述待测金属制品穿过所述电容区过程中的电容值变化情况，确定所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离；根据所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，确定所述待测金属制品的平整度检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电容器在所述待测金属制品穿过所述电容区过程中的电容值变化情况，确定所述待测金属制品不同检测区域与所述正极板之间的距离，包括：获取所述待测金属制品的属性信息；其中，所述属性信息包括多种能够影响电容值的参数；根据所述待测金属制品的属性信息和各所述检测区域所对应的电容器的电容值，确定所述待测金属制品各检测区域与所述正极板之间的距离。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测金属制品的属性信息至少包括：所述待测金属制品的相对介电常数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测金属制品的属性信息和各所述检测区域所对应的电容器的电容值，确定所述待测金属制品各检测区域与所述正极板之间的距离，包括：根据如下公式计算所述待测金属制品的检测区域与所述正极板之间的距离：其中，d表示待测金属制品的检测区域与所述正极板之间的距离，C表示该检测区域所对应的电容器的电容值，k表示静电力常量，ε
r
表示所述待测金属制品的相对介电常数，S表示所述电容器的极板正对面积。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在检测所述电容器的电容值之前，所述方法还包括：将所述待测金属制品...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡秋原，陈忠源，时文静，李加林，谢帅虎，王瑜，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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