一种建筑采光评估方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种建筑采光评估方法、装置及存储介质，应用于采光评估技术领域，可解决如何在规划设计阶段对建筑采光进行评估的问题。该方法包括：创建建筑规划体块模型；根据建筑规划体块模型，设置建筑模拟参数；根据建筑模拟参数，确定建筑规划体块模型的立面光照度；将立面光照度与参考光照度进行比较，得到建筑规划体块模型的采光评估结果。得到建筑规划体块模型的采光评估结果。得到建筑规划体块模型的采光评估结果。

【技术实现步骤摘要】
一种建筑采光评估方法、装置及存储介质


[0001]本专利技术实施例涉及采光评估
，尤其涉及一种建筑采光评估方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，为了给建筑提供良好的光照环境，通常会再建筑外围护结构(墙、屋顶)上布置各种形式的采光口(窗口)，以使得太阳光可以照射到建筑内部，那么设计师在前期进行设计的时候，就同时需要考虑到建筑采光，由于建筑采光同时受规划设计和建筑设计两个步骤的影响，目前对于建筑采光的评估一般是在建筑设计完成之后进行，此时如果采光评估不合格，那么就需要重新进行规划设计和建筑设计，工作量较为繁琐。因此，如何在规划设计阶段对建筑采光进行评估就成为目前亟需解决的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种建筑采光评估方法、装置及存储介质，用以解决现有技术中如何在规划设计阶段对建筑采光进行评估的问题。
[0004]第一方面，提供一种建筑采光评估方法，该方法包括：创建建筑规划体块模型；
[0005]根据所述建筑规划体块模型，设置建筑模拟参数；
[0006]根据所述建筑模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种建筑采光评估方法，其特征在于，所述方法包括：创建建筑规划体块模型；根据所述建筑规划体块模型，设置建筑模拟参数；根据所述建筑模拟参数，确定所述建筑规划体块模型的立面光照度；将所述立面光照度与参考光照度进行比较，得到所述建筑规划体块模型的采光评估结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述建筑模拟参数，确定所述建筑规划体块模型的立面光照度，包括：根据所述建筑模拟参数，得到室内平均照度和窗户平均照度；根据所述建筑规划体块模型，确定室内照度要求值；根据所述室内平均照度、所述窗户平均照度和所述室内照度要求值，确定所述建筑规划体块模型的立面光照度。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述确定所述建筑规划体块模型的立面光照度之后，所述方法还包括：根据所述参考光照度设置光照度标识区间；根据所述建筑规划体块模型的立面光照度所处的光照度标识区间，得到标识后的建筑规划体块模型。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述将所述立面光照度与参考光照度进行比较，得到所述建筑规划体块模型的采光评估结果，包括：若所述立面光照度大于等于所述参考光照度，则所述建筑规划体块模型符合采光要求；若所述立面光照度小于所述参考光照度，则所述建筑规划体块模型不符合采光要求，重新设置所述建筑模拟参数。5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述建筑模拟参数，确定所述建筑规划体块模型的立面光照度，包括：获取网格尺寸，并根据所述网格尺寸将所述建筑规划体块模型划分为多个网格；...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓宇，朱子夜，李亚慧，
申请(专利权)人：深圳市建筑设计研究总院有限公司，
类型：发明
国别省市：