【技术实现步骤摘要】
一种KTN薄膜及其制备方法
[0001]本专利技术属于功能薄膜材料
,具体涉及一种KTN薄膜及其制备方法。
技术介绍
[0002]钽铌酸钾(KTN)是一种具有热释电和非线性光学性质的材料,具有优异的电光效应和光折变效应。基于KTN薄膜的热释电器件在降低驱动电压、减小器件尺寸方面更具优势,更能满足未来激光器件小型化、集成化发展的需要。
[0003]众所周知,随着对薄膜器件微型化,小型化的发展趋势,对薄膜的集成也提出了严格的要求。通常情况下,在650℃的退火温度下,集成电路板的最长退火时间5min,在550℃的退火温度下,退火时间可以长达30min。为此开发高性能的且与生产工艺相结合的铁电薄膜已成为研究热点,其中如何选择较低退火的温度是薄膜集成化发展的趋势。
[0004]溶胶凝胶法因其操作简单广受欢迎,通常情况下,采用溶胶凝胶法制备KTN薄膜研究者尝试采用金属醇盐作为原料,而金属醇盐价格昂贵,不利于KTN薄膜的工业化发展需求。
[0005]综上,亟需一种新的KTN制备方法以满足生产需求。
专 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种KTN薄膜,其特征在于:所述KTN薄膜的分子式为K
1+Z
Ta1‑
X
‑
Y
Nb
Y
M
X
O3,各个元素的比例分别为K:Ta:Nb:M:O=(1+Z):(1
–
X
‑
Y):Y:X:3,M元素为Fe
3+
、Ti
4+
或两离子共掺;X为M元素的摩尔当量,0.06≤X≤0.16,Y为Nb元素的摩尔当量,0.48≤Y≤0.66,元素K过量加入,Z为K以重量计的过量百分数,当X为0.06≤X≤0.09,Z为8%
‑
12%;当X为0.09<X≤0.16,Z为5%
‑
7%。2.根据权利要求1所述的KTN薄膜,其特征在于:Y:X的范围为3:1~11:1,X范围为0.08
‑
0.13,Y范围为0.40
‑
0.65。3.根据权利要求2所述的KTN薄膜,其特征在于:Y:X的范围为5:1,X范围为0.10
‑
0.12,Y范围为0.50
‑
0.60。4.根据权利要求1所述的KTN薄膜,其特征在于:该薄膜共N层,13≤N≤15。5.根据权利要求4所述的KTN薄膜,其特征在于:该薄膜每层厚度为60
‑
70nm。6.一种制备权利要求1
‑
5任一项所述KTN薄膜的方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)前驱体溶液的制备:采用溶胶
‑
凝胶法,按化学计量比称取碳酸钾、氧化钽、氧化铌以及硝酸铁和/或钛酸四丁酯溶于异丙醇中,待完全溶解后依次加入乙酰丙酮,得混合溶液A,将混合溶液A搅拌后,向其加入乙醇,配制成前驱体溶液,将配制好的前驱体溶液,静置;(2)薄膜材料的制备:采用层层退火工艺,用旋涂法将第一层前驱体溶液沉积在ITO/玻璃衬底材料上,然后将材料放置在热板上烘干,将烘干的薄膜置于快速退火炉中进行二段式退火处理;然后按照相同的方法将其它层材料沉积在各自下层材料之上,反复上述旋涂与退火步骤数次直到薄膜厚度符合要求;(3)将达到厚度要求的薄膜在585℃~615℃范围内退火5min,得到铁和/或钛掺杂的钽铌酸钾薄膜。7.根据权利要求6所述的制备KTN薄膜的方法,其特征在于:步骤(2)中的烘干温度为195...
【专利技术属性】
技术研发人员:邱程程,王旭平,刘冰,禹化健,杨玉国,吕宪顺,
申请(专利权)人:山东省科学院新材料研究所,
类型:发明
国别省市:
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