用于探测光学器件的视觉和光学特性的组合探测器以及用于光学器件的相关的检验设备制造技术

用于探测光学器件(22)的至少一个能在视觉上识别的特性(d、r、o、t)和至少一个光学特性(s、z)的组合探测器(16)，其包括具有探测面(28)的图像传感器(26)和相位可视化元件(30)，相位可视化元件被构造成用于将从入射方向(24)射入的输入光束(20

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于探测光学器件的视觉和光学特性的组合探测器以及用于光学器件的相关的检验设备


[0001]本专利技术涉及一种用于探测光学器件的至少一个视觉特性和至少一个光学特性的组合探测器。本专利技术还涉及一种用于检验光学器件的设备。

技术介绍

[0002]在此和下文中，“光学器件”一方面理解为单个光学(即影响光传播的)结构元件、尤其是屈光(光折射)元件、例如透镜或光学棱镜、反射元件、例如镜子或分束器，或衍射(光衍射)元件。另一方面，“光学器件”也可以由多个光学结构元件的组合构成。
[0003]在制造过程期间或在维护中，必须定期检验光学器件的光学和视觉特性。
[0004]这种光学器件的“光学特性”在此理解为光学器件的表征光学器件对光传播的影响的特性。根据光学器件的类型，这包括屈光特性、例如折光力或非球面度(例如散光隐形眼镜的“环面”或“柱体”)、反射特性、例如反射的表面的形状、反射程度或光谱选择性，和/或衍射特性、例如衍射图案。光学器件的光学特性还包括由光学器件(有意或无意地)引起的波像差和成像特性(点图像函数、调制传输函数等)。根据光学器件的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.用于探测光学器件(22)的至少一个能在视觉上识别的特性(d、r、o、t)和至少一个光学特性(s、z)的组合探测器(16)，所述组合探测器包括具有探测面(28)的图像传感器(26)和相位可视化元件(30)，所述相位可视化元件被构造成用于将从入射方向(24)射入的输入光束(20“)转换成一个或多个输出光束(42)，在所述一个或多个输出光束中，所述输入光束(20“)的空间相位分布是视觉上可见的，其中，所述相位可视化元件(30)相对于所述图像传感器(26)的探测面(28)布置成使得所述一个或多个输出光束(42)仅落到所述探测面(28)的第一子区域(38)上，而所述探测面(28)的第二子区域(40)朝所述入射方向(24)暴露，用以探测不受所述相位可视化元件(30)影响的输入光束(20“)。2.根据权利要求1所述的组合探测器(16)，其中，所述相位可视化元件(30)包括微透镜装置(32)、孔板、干涉格栅或剪切干涉仪。3.根据权利要求1或2所述的组合探测器(16)，其中，所述第一子区域(38)和所述第二子区域(40)彼此同心地布置。4.根据权利要求1至3中任一项所述的组合探测器(16)，其中，所述相位可视化元件(30)直接固定、尤其是旋拧或夹紧或粘贴在所述图像传感器(26)的探测面(28)之前或之上。5.根据权利要求1至4中任一项所述的组合探测器(16)，其中，所述图像传感器(26)是CCD芯片或光电二极管阵列。6.用于检验光学器件(22)的设备(2)，所述设备具有用于产生测量光束(20)的光源(4)和根据权利要求1至5中任一项所述的组合探测器(16)。7.根据权利要求6所述的设备(2)，所述设备包括在所述测量光束(20)的光路中布置在所述光源(4)和所述组合探测器(16)之间的样品支架(8)，所述样品支架用于固定要检验的光学器件(22)。8.根据权利要求6或7所述的设备(2)，所述设备包括光学元件(72)，所述光学元件用于平衡输入光束(20“)的射到所述相位可视化元件(30)上的那部分...

【专利技术属性】
技术研发人员：于尔根，
申请(专利权)人：光科精密有限公司，
类型：发明
国别省市：