一种快速检测衰减片的工装制造技术

本实用新型专利技术涉及一种快速检测衰减片的工装，包括测试基座，测试基座上立置有旋压组件，所述的测试基座的上座面上开设有供衰减片放置的器件槽，所述的旋压组件包括固定设置于器件槽旁侧的底板，底板上立置有立柱，立柱的上端转动铰接有转体，转体的悬伸端设置有套筒件，套筒件的轴心垂直指向所述的器件槽，套筒件内套置有压轴，套筒件的上部设置有盖帽，所述的盖帽与套筒件内的压轴之间设置有压紧弹簧，所述的盖帽相对压轴轴长方向高度可调，压轴的上端延伸至套筒件外，压轴的上端设置螺帽，压轴的下端延伸至器件槽处，压轴的下端设置压头。测试方便，且效率高，本实用新型专利技术主要用于解决衰减器内部关键部件衰减片的快速检测。于解决衰减器内部关键部件衰减片的快速检测。于解决衰减器内部关键部件衰减片的快速检测。

【技术实现步骤摘要】
一种快速检测衰减片的工装


[0001]本技术涉及微波
，具体涉及一种快速检测衰减片的工装。

技术介绍

[0002]衰减器是具有不同的衰减量值无源器件，用于分布系统延伸链路尾端与天线辐射输出的额定覆盖功率电平的适配，在通信系统中应用广泛。衰减片是衰减器的核心部件。传统检测衰减片的工装需要手工焊接固定衰减片，然后进行参数测试，过程繁琐而且耗时，效率还不高。

技术实现思路

[0003]为了解决
技术介绍
中的问题，本技术提供一种快速检测衰减片的工装，测试方便，且效率高，本技术主要用于解决衰减器内部关键部件衰减片的快速检测。
[0004]为了实现上述效果，本技术采用以下技术方案：一种快速检测衰减片的工装，包括测试基座，测试基座上立置有旋压组件，所述的测试基座的上座面上开设有供衰减片放置的器件槽，所述的旋压组件包括固定设置于器件槽旁侧的底板，底板上立置有立柱，立柱的上端转动铰接有转体，转体的悬伸端设置有套筒件，套筒件的轴心垂直指向所述的器件槽，套筒件内套置有压轴，套筒件的上部设置有盖帽，所述的盖帽与套筒件内的压轴之间设置有压紧弹簧，所述的盖帽相对压轴轴长方向高度可调，压轴的上端延伸至套筒件外，压轴的上端设置螺帽，压轴的下端延伸至器件槽处，压轴的下端设置压头。
[0005]进一步的，立柱的上端设置有调节转体转动摩擦阻力的调节帽。
[0006]再进一步的，所述的旋压组件包括沿器件槽槽长方向依次设置的左旋压组件、右旋压组件。
[0007]再进一步的，所述的右旋压组件、左旋压组件高低布置。
[0008]再进一步的，所述的器件槽沿其槽长方向开设有多组测试位模板。
[0009]再进一步的，所述的压头为非金属材料压头。
[0010]再进一步的，立柱的上端设置台阶，转体的转动铰接端套置于立柱台阶的连接轴上，连接轴的上方开设螺纹，所述的调节帽螺纹连接于立柱的连接轴上方。
[0011]再进一步的，所述的盖帽、压紧弹簧套置于压轴上，套筒件内的压轴位于压紧弹簧的下方设置凸环，压紧弹簧的下端抵于所述的凸环上、上端抵于所述的盖帽上，所述的盖帽与套筒件间螺纹连接。
[0012]本技术的有益效果为：本技术的一种快速检测衰减片的工装，简化操作过程，减少检测过程中对衰减片的损坏程度，提高测试效率和便捷性。
附图说明
[0013]图1为本技术的一个视角的立体结构图；
[0014]图2为本技术的另一个视角的立体结构图；
[0015]图3为本技术的俯视结构图；
[0016]图4为本技术的一个视角剖视结构图(右旋压组件30处)；
[0017]图5为本技术的另一个视角剖视结构图(左旋压组件20处)。
具体实施方式
[0018]下面结合附图对本技术进行详细说明。
[0019]一种快速检测衰减片的工装，包括测试基座10，测试基座10上立置有旋压组件，所述的测试基座10的上座面上开设有供衰减片放置的器件槽11，所述的旋压组件包括固定设置于器件槽11旁侧的底板1，底板1上立置有立柱2，立柱2的上端转动铰接有转体4，转体4的悬伸端设置有套筒件，套筒件的轴心垂直指向所述的器件槽11，套筒件内套置有压轴7，套筒件的上部设置有盖帽6，所述的盖帽6与套筒件内的压轴7之间设置有压紧弹簧9，所述的盖帽6相对压轴7轴长方向高度可调，压轴7的上端延伸至套筒件外，压轴7的上端设置螺帽5，压轴7的下端延伸至器件槽11处，压轴7的下端设置压头8。
[0020]进一步的，立柱2的上端设置有调节转体4转动摩擦阻力的调节帽3。
[0021]再进一步的，所述的旋压组件包括沿器件槽11槽长方向依次设置的左旋压组件20、右旋压组件30。
[0022]再进一步的，所述的右旋压组件30、左旋压组件20高低布置。
[0023]再进一步的，所述的器件槽11沿其槽长方向开设有多组测试位模板12。
[0024]再进一步的，所述的压头8为非金属材料压头。
[0025]再进一步的，立柱2的上端设置台阶，转体4的转动铰接端套置于立柱2台阶的连接轴上，连接轴的上方开设螺纹，所述的调节帽3螺纹连接于立柱2的连接轴上方。
[0026]再进一步的，所述的盖帽6、压紧弹簧9套置于压轴7上，套筒件内的压轴7位于压紧弹簧9的下方设置凸环，压紧弹簧9的下端抵于所述的凸环上、上端抵于所述的盖帽6上，所述的盖帽6与套筒件间螺纹连接。
[0027]参照附图，本技术的一种快速检测衰减片的工装，简化操作过程，减少检测过程中对衰减片的损坏程度，提高测试效率和便捷性。
[0028]具体的，本技术工装包括测试基座10、旋压组件，旋压组件包括低高错落的左旋压组件20、右旋压组件30。测试基座10的器件槽11上集成固定有测试相关的所有器件，即衰减片放置于测试基座10的测试位置(测试位模板12)上，左旋压组件20和右旋压组件30用于将衰减片固定在测试线路板(即测试位模板12)上。
[0029]本技术被测衰减片可快速压紧固定到被测电路(即测试位模板12所在区域)中，免焊接。工装中左、右旋压组件20、30可左右自由旋转和上下移动，并自动压紧。压紧部即压头8(与衰减片接触)采用非金属材料制作，良好的绝缘和耐磨性能，保证测试性能。本技术工装采用人性化设计，体积小巧灵活，操作简单可靠，可反复多次使用。
[0030]进一步具体的，本技术结构主要包括测试基座10、左旋压组件20、右旋压组件30。测试基座10预先集成固定完整的测试器件(除被测衰减片)，将被测衰减片放置到测试基座10指定位置(即器件槽11)后，旋转左旋压组件20和右旋压组件30，分别压紧衰减片的左侧和右侧，将衰减片固定。本技术工装核心结构左、右旋压组件20、30，如图4、5所示，所述的左、右旋压组件20、30结构均是包括底板1、立柱2、调节帽3、转体4、螺帽5、盖帽6、压
轴7和压头8，其中，转体4的套筒件内位于盖帽6下方预埋有压紧弹簧9，当向上提拉螺帽5时，压紧弹簧9被拉紧，到拉紧位置后松开螺帽5，弹力通过压轴7和压头8的向下传导，压紧弹簧9复位可压紧下面的被测件，(转动)调节盖帽6可以调节(压紧弹簧9)压紧力的大小，即可调节被测件压紧力的大小。转体4为主要旋转零件，由调节帽3固定在立柱2上，调节帽3的旋动可调节转体4的旋转摩擦力，这样以匹配操作人员合适的操作力度和工装使用效果。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速检测衰减片的工装，其特征在于：包括测试基座(10)，测试基座(10)上立置有旋压组件，所述的测试基座(10)的上座面上开设有供衰减片放置的器件槽(11)，所述的旋压组件包括固定设置于器件槽(11)旁侧的底板(1)，底板(1)上立置有立柱(2)，立柱(2)的上端转动铰接有转体(4)，转体(4)的悬伸端设置有套筒件，套筒件的轴心垂直指向所述的器件槽(11)，套筒件内套置有压轴(7)，套筒件的上部设置有盖帽(6)，所述的盖帽(6)与套筒件内的压轴(7)之间设置有压紧弹簧(9)，所述的盖帽(6)相对压轴(7)轴长方向高度可调，压轴(7)的上端延伸至套筒件外，压轴(7)的上端设置螺帽(5)，压轴(7)的下端延伸至器件槽(11)处，压轴(7)的下端设置压头(8)。2.根据权利要求1所述的一种快速检测衰减片的工装，其特征在于：立柱(2)的上端设置有调节转体(4)转动摩擦阻力的调节帽(3)。3.根据权利要求1或2所述的一种快速检测衰减片的工装，其特征在于：所述的旋压组件包括沿器件槽(11)...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨国胜，刘亚龙，吴晓明，戎续侠，王战，
申请(专利权)人：合肥海特微波科技有限公司，
类型：新型
国别省市：