一种用于变频器线束的测试装置制造方法及图纸

技术编号:33214775 阅读:19 留言:0更新日期:2022-04-27 16:52
本实用新型专利技术涉及一种用于变频器线束的测试装置,包括基座,所述基座上开设有两组插排孔,两组插排孔分别插设有探针引线,其中,一组插排孔中所插设的探针引线嵌设在插排孔中构成插接母头,另一组插排孔中所插设的探针引线突出于插排孔构成插接公头,每根探针引线包括导线、设置于导线一端的探针,所述探针采用是弹簧针,导线的另一端接入与测试仪器相连的连接端子。本申请能够根据变频器线束的端子调整基座处的探针引线,便于进行不同的变频器线束的测试,提高测试装置的普适性,同时可实现对于变频器线束的端子处是否到位,检测效果更好。好。好。

【技术实现步骤摘要】
一种用于变频器线束的测试装置


[0001]本技术涉及一种用于变频器线束的测试装置。

技术介绍

[0002]变频器线束是变频器内部传输控制信号和电信号的关键线束,其通常是由铜材冲制而成的接触件端子(连接器)与电线电缆压接后,外面再塑压绝缘体或外加金属壳体等,以线束捆扎形成连接电路的组件。对变频器线束进行测试,目前具有专用的测试仪器,而进行线束与测试仪器的对接时是采用专用的连接头或者连接治具进行对接,从而完成导线导通性、阻抗、耐压等方面的测试,但是针对目前这款连接器是穿板式,业界无对应的测试头。

技术实现思路

[0003]本技术目的是要提供一种用于变频器线束的测试装置,其能够根据变频器线束的端子调整基座处的探针引线,便于进行不同的变频器线束的测试,提高测试装置的普适性,同时可实现对于变频器线束的端子处是否到位,检测效果更好。
[0004]为达到上述目的,本技术采用的技术方案是:
[0005]一种用于变频器线束的测试装置,包括基座,所述基座上开设有两组插排孔,两组插排孔分别插设有探针引线,其中,一组插排孔中所插设的探针引线嵌设在插排孔中构成插接母头,另一组插排孔中所插设的探针引线突出于插排孔构成插接公头,每根探针引线包括导线、设置于导线一端的探针,所述探针采用是弹簧针,导线的另一端接入与测试仪器相连的连接端子。
[0006]对于上述技术方案,申请人还有进一步的优化措施。
[0007]可选地,所述基座包括底部的电木板、固定在电木板上的橡胶治具,所述橡胶治具上的插排孔沿着橡胶治具的宽度方向设置,构成错位设置的所述两组插排孔。
[0008]进一步地,在所述橡胶治具上对应于两组所述插排孔的位置开设有插槽,并且在所述橡胶治具的表面固定有透明盖板。
[0009]可选地,在所述插接公头处设置有防护罩壳,且所述防护罩壳的内侧具有对接变频器线束的母头端子的定位条。
[0010]由于上述技术方案运用,本技术与现有技术相比具有下列优点:
[0011]本技术的用于变频器线束的测试装置,其能够根据变频器线束的端子排布设置调整基座处的探针引线的位置,从而提高检测的便利性和实用性,便于进行线束与测试装置进行快速对接,而所采用的弹簧针作为探针,只有当变频器线束端头处的端子抵接探针并顶推到位的情况下才能够保证探针与端子间的可靠电连接,如此能够在进行线束的电性能测试的同时实现对端子插接可靠性的测试。
附图说明
[0012]后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本技术的一些具体实
施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解,这些附图未必是按比例绘制的。附图中:
[0013]图1是根据本技术一个实施例的用于变频器线束的测试装置的结构示意图;
[0014]图2为图1所示测试装置中的探针引线的结构示意图。
[0015]其中,附图标记说明如下:
[0016]1、基座,11、电木板,12、橡胶治具,13、插排孔,14、插槽,15、透明盖板;
[0017]2、探针引线,21、连接端子,22、导线,23、探针;
[0018]31、外套管,32、内套管,33、复位弹簧。
具体实施方式
[0019]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0020]在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或组件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0021]此外,下面所描述的本技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
[0022]本实施例描述了一种用于变频器线束的测试装置,如图1所示,包括基座1,所述基座1上开设有两组插排孔13,两组插排孔13分别插设有探针23引线2,其中,一组插排孔13中所插设的探针23引线2嵌设在插排孔13中构成插接母头,另一组插排孔13中所插设的探针23引线2突出于插排孔13构成插接公头,每根探针23引线2包括导线22、设置于导线22一端的探针23,所述探针23采用是弹簧针,导线22的另一端接入与测试仪器相连的连接端子21。如图2所示,弹簧针采用的双套管的铜管结构,包括圆筒状的外套管31和内套管32的形式,外套管31的中部具有柱状空腔,内套管32套设在柱状空腔中并且内套管32底部具有复位弹簧33。
[0023]具体说来,所述基座1包括底部的电木板11、固定在电木板11上的橡胶治具12,所述橡胶治具12上的插排孔13沿着橡胶治具12的宽度方向设置,构成错位设置的所述两组插排孔13,在所述橡胶治具12上对应于两组所述插排孔13的位置开设有插槽14,并且在所述橡胶治具12的表面固定有透明盖板15。
[0024]另外,在所述插接公头处设置有防护罩壳,且所述防护罩壳的内侧具有对接变频器线束的母头端子的定位条。
[0025]综上可知,本实施例的用于变频器线束的测试装置,其能够根据变频器线束的端子排布设置调整基座1处的探针23引线2的位置,从而提高检测的便利性和实用性,便于进行线束与测试装置进行快速对接,而所采用的弹簧针作为探针23,只有当变频器线束端头处的端子抵接探针23并顶推到位的情况下才能够保证探针23与端子间的可靠电连接,如此
能够在进行线束的电性能测试的同时实现对端子插接可靠性的测试。
[0026]上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并据以实施,并不能以此限制本技术的保护范围,凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本技术的保护范围之内。
本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于变频器线束的测试装置,其特征在于,包括基座,所述基座上开设有两组插排孔,两组插排孔分别插设有探针引线,其中,一组插排孔中所插设的探针引线嵌设在插排孔中构成插接母头,另一组插排孔中所插设的探针引线突出于插排孔构成插接公头,每根探针引线包括导线、设置于导线一端的探针,所述探针采用是弹簧针,导线的另一端接入与测试仪器相连的连接端子。2.根据权利要求1所述的用于变频器线束的测试装置,其特征在于,所述基座包括底部的电木板、...

【专利技术属性】
技术研发人员:葛振宇张华
申请(专利权)人:昆山凯颖电子有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1