一种用于测量端面锥槽直径的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于测量端面锥槽直径的测量装置，属于穿甲弹弹拖的智造测量技术领域，具体为一种检测端面锥槽直径的测量装置，包括定位套、测量衬套、圆柱销；定位套顶部环形平面分为两个高低不同的半圆面；定位套的底部环形面均布若干个凸台；凸台高度大于工件的端面锥槽深度；测量衬套圆柱体的外圆直径和定位套的内表面直径相同，测量衬套底部环形面均布若干个凸台，内表面是与端面锥槽锥度一致的锥面；在测量时，将测量装置整体装配后，插入工件端面锥形槽中，当测量衬套(2)的H面在定位套(1)的F面和G面之间，工件直径合格。该装置设计结构简洁、紧凑，装配方式简单；利于产品批量生产，同时也提高了检测效率。同时也提高了检测效率。同时也提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量端面锥槽直径的测量装置


[0001]本技术属于穿甲弹弹拖的智造测量
，具体为一种判别高低来检测端面锥槽直径的测量装置。

技术介绍

[0002]如图1所示，按产品要求，测量端面锥槽在高度a的直径φb尺寸。目前，不能直接测量出结果，同时产品批量大，数量众多，购买先进的测量设备进行批量检测耗费时长，成本高，效率低。
[0003]因此，需要通过设计和制造新的专用测量装置，来判断工件是否合格。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种用于测量端面锥槽直径的测量装置，为一种确定弹拖端面锥槽a点直径是否满足公差范围要求的工具(如图 1)。
[0005]本技术的技术方案，一种用于测量端面锥槽直径的测量装置，其特征在于，包括定位套、测量衬套、圆柱销；定位套外形为圆柱体，顶部环形平面分为两个高低不同的半圆面，高的面称为G 面，低的面称为F面；两个面的落差值＝被测点对应的直径公差差值 /(2*tan d
°
)，d
°
为待测点所在圆周面的锥度；定位套的底部环形面均布若干个凸台，凸台是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测量端面锥槽直径的测量装置，其特征在于，包括定位套(1)、测量衬套(2)、圆柱销(3)；定位套(1)外形为圆柱体，顶部环形平面分为两个高低不同的半圆面，高的面称为G面，低的面称为F面；两个面的落差值＝被测点对应的直径公差差值/(2*tan d
°
)，d
°
为待测点所在圆周面的锥度；定位套(1)的底部环形面均布若干个凸台，凸台是定位套的薄壁圆环的一部分；凸台高度大于工件的端面锥槽深度；测量衬套(2)外形为圆柱体，顶部为环形平面，称为H面；测量衬套(2)圆柱体的外圆直径和定位套(1)的内表面直径相同，测量衬套(2)底部环形面均布若干个测量衬套的凸台，测量衬套的凸台是测量衬套的薄壁圆环的一部分，测量衬套的凸台外表圆是圆柱形，内表面是与端面锥槽锥度一致的锥面；测量衬套的凸台的最下端内周直径与工件端面锥槽内待测点的直径相同。2.根据权利要求1所述的一种用于测量端面锥槽直径的测量装置，其特征在于，定位套(1)凸台为三个，凸台放置于工件端面锥槽内时，凸台的下表面与工件端面锥槽的底部接触。3.根据权利要求1所述的一种用于测量端面锥槽直径的测量装置，其特征在于，定位套(1)与测量衬套(2)两者间隙配合。4.根据权利要求1所述的一种用...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑晓迪，魏平亮，赵浩，豆亚锋，王艳芳，马文斌，王磊，刘颖，候肖飞，刘翔，王碧荣，孙鲁艳，谢海洋，
申请(专利权)人：国营第八〇三厂，
类型：新型
国别省市：