显微镜快速精准自动对焦方法、系统、计算机设备及介质技术方案

本发明专利技术属于图像分析技术领域，公开了一种显微镜快速精准自动对焦方法、系统、计算机设备及介质，包括：采用聚焦深度法不断改变被拍物体和显微镜镜头的距离搜寻最近清晰图像位置，并进行图像的采集；将采集的图像进行裁剪，并通过图像评价函数，得到每个图像的质量评价值，根据每个图像的质量评价值确定质量最好的图像，并获取所述质量最好的图像对应的焦距f0；采用分类离焦深度法判断是否属于对焦类别；切换下一个视野，再次利用分类离焦深度法进行判断，直至全局扫描结束。本发明专利技术能够在精度和效率上取得平衡，通过聚焦深度法和分类离焦深度法结合，实现对检测目标的精准采集，从而精准的得到检测目标信息，预判方案，从而降低劳动成本，实现显微镜高度自动化。实现显微镜高度自动化。实现显微镜高度自动化。

【技术实现步骤摘要】
显微镜快速精准自动对焦方法、系统、计算机设备及介质


[0001]本专利技术属于图像分析
，尤其涉及一种显微镜快速精准自动对焦方法、系统、计算机设备及介质。

技术介绍

[0002]目前，显微光学成像技术是一种集光学，机械、电子，传感器，计算机技术为一体的综合性学科。在集成电路，生物医学，材料分子等领域发挥着重要作用。在显微光学成像数字化系统中，最关键的是对焦策略，需要均衡精度和速度。传统人工显微镜操作方式存在效率低，精度低，时间长，无法复看的缺点。全自动显微光学成像数字化系统可以实现自动对焦，自动全局扫图以及智能分析等功能。为医疗辅诊断提供帮助。
[0003]在显微光学成像领域中，光学成像系统对一定范围内的物体，它的成像都存在着一个最清晰的成像图像位置，即系统的焦平面位置，它满足物像共扼原理，称为聚焦。系统成像远离这个位置，就会造成显微系统离焦，导致物体图像成像模糊不清。调节系统由离焦到聚焦的过程为对焦过程。即调节图像从模糊到清晰的过程。自动对焦的本质是通过传感器配合相应算法代替人眼对成像质量进行判断，并同时控制相关硬件对光学成像系统进行调整，使成像效果最佳。
[0004]当前大部分采用的对焦算法是基于数字图像的对焦算法，主要分为离焦深度法，对焦深度法。离焦深度法速度快，精度低，对焦深度法精度高，速度慢。因此，如何又快又准的实现自动对焦是当前亟待解决的问题。
[0005]通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：现有的对焦方法精度低，效率低，不能高效率精准的进行显微镜对焦。
[0006]解决以上问题及缺陷的难度为：无法快速精准对焦。
[0007]解决以上问题及缺陷的意义为：精准高效对焦，节省检测时间。

技术实现思路

[0008]针对现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种显微镜快速精准自动对焦方法、系统、计算机设备及介质。
[0009]本专利技术是这样实现的，一种显微镜快速精准自动对焦方法，所述显微镜快速精准自动对焦方法包括：
[0010]步骤一，采用聚焦深度法按一定步长改变被拍物体和显微镜镜头的距离，定位最清晰图像位置，为初步粗对焦定位提高图片；
[0011]步骤二，将采集的图像进行裁剪，并通过图像评价函数，得到每个图像的质量评价值，根据每个图像的质量评价值确定质量最好的图像，并获取所述质量最好的图像对应的焦距f0，达到初步对焦位置；
[0012]步骤三，采用分类离焦深度法判断是否属于对焦类别；切换下一个视野，再次利用分类离焦深度法进行判断，直至全局扫描结束。
[0013]进一步，步骤一中，所述采用聚焦深度法不断改变被拍物体和显微镜镜头的距离搜寻最近清晰图像位置，并进行图像的采集包括：
[0014]预先规划每次电机前进步长p1，范围R1，当进行第一次对焦，从初始位置按照步长p1，在范围内采集图片，采集图片个数N，以焦距大小命名图片，区分不同焦距图片。
[0015]进一步，步骤二中，所述通过图像评价函数，得到每个图像的质量评价值包括：
[0016]利用拉普拉斯算子对图像进行模板卷积得到图像的高频分量，对得到的图像的高频分量进行求和，所述高频分量和即每个图像的质量评价值；
[0017]所述拉普拉斯算子如下：
[0018][0019][0020]其中，g(x，y)表示每个像素的亮度，z(x，y)表示亮度为g(x，y)的像素进行滤波模板卷积后每个像素点值；f表示取均值；
[0021]梯度算子为水平方向和垂直方向两个，高通滤波算子一个，对应的算子矩阵如下：
[0022][0023]进一步，步骤三中，所述采用分类离焦深度法判断是否属于对焦类别包括：
[0024]首先，以f0为中心确定二次对焦范围r2；通过训练的离焦深度分类算法模型，判断f0所属的离焦量，根据指导原则，确定前进的步长，得到焦距f1所得的图像；
[0025]其次，计算图像所对应的离焦量，判断是否在对焦区域，如果不在，根据所在离焦区域分析前进步长；如果在，则对焦成功。
[0026]进一步，所述以f0为中心确定二次对焦范围r2包括：
[0027]取最大拉普拉斯值LM对应的焦距为中心，确定二次对焦范围；
[0028]具体包括：
[0029]取单峰曲线g前后两个点拟合近焦曲线，利用最小二乘法拟合计算得到参数a，b，c；所述单峰曲线g如下：
[0030]g＝a
·
exp(
‑
(x
‑
b)2/2c2)；
[0031]获取计算的所有图像中质量评价值，并将计算得到的质量评价值最大值减去质量评价值最小值的1/3得到截距y，计算公式如下：
[0032]y＝MIN(N)+(MAX(N)
‑
MIN(N))/3；
[0033]代入g函数中计算得到x0，x1；所述[x0，x1]即为二次对焦范围r2。
[0034]进一步，所述通过训练的离焦深度分类算法模型，判断f0所属的离焦量包括：
[0035]离焦深度分类算法模型将二次对焦范围按离焦量的划分，分为10等间隔，d＝(x1
‑
x0)/10，取整d；
[0036]按照距离分为5类训练，[x0，x0+3d]为类别class0；[x0+3d，x0+5d]为类别class2；[x0+5d，x0+6d]为类别class3；[x0+6d，x0+8d]为类别class4，[x0+8d，x0+10d]为类别class5；其中class3为对焦区域；
[0037]使用包括残差网络模块级联以及全连接层特征提取ResNet50深度卷积网络训练分类算法模型输出图像属于5类的概率，取概率最大的类别。
[0038]进一步，所述指导原则包括：
[0039]当图像位于类别1，电机前进步长为4；
[0040]当图像位于类别2，电机前进步长为2d；
[0041]当图像位于类别3，停止对焦；
[0042]当图像位于类别4，电机后退步长2d；
[0043]当图像位于类别5，电机后退步长2d；
[0044]进一步，所述步长p1小于二次聚焦范围r2的长度。
[0045]本专利技术的另一目的在于提供一种接收用户输入程序存储介质，所存储的计算机程序使电子设备执行所述显微镜快速精准自动对焦方法的步骤。
[0046]本专利技术的另一目的在于提供一种存储在计算机可读介质上的计算机程序产品，包括计算机可读程序，供于电子装置上执行时，提供用户输入接口以实施所述显微镜快速精准自动对焦方法的步骤。
[0047]本专利技术的另一目的在于提供一种实施所述显微镜快速精准自动对焦方法的显微镜快速精准自动对焦系统，所述显微镜快速精准自动对焦系统包括：
[0048]图像采集模块，用于采用聚焦深度法不断改变被拍物体和显微镜镜头的距离搜寻最近清晰图像位置，并进行图像的采集；
[0049]图像质量评价模块，用于将采集的图像进行裁剪，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显微镜快速精准自动对焦方法，其特征在于，所述显微镜快速精准自动对焦方法包括：步骤一，采用聚焦深度法不断改变被拍物体和显微镜镜头的距离搜寻最近清晰图像位置，并进行图像的采集；步骤二，将采集的图像进行裁剪，并通过图像评价函数，得到每个图像的质量评价值，根据每个图像的质量评价值确定质量最好的图像，并获取质量最好的图像对应的焦距f0；步骤三，采用分类离焦深度法判断是否属于对焦类别；切换下一个视野，再次利用分类离焦深度法进行判断，直至全局扫描结束。2.如权利要求1所述的显微镜快速精准自动对焦方法，其特征在于，步骤一中，所述采用聚焦深度法不断改变被拍物体和显微镜镜头的距离搜寻最近清晰图像位置，并进行图像的采集包括：预先规划每次电机前进步长p1，范围R1，当进行第一次对焦，从初始位置按照步长p1，在范围内采集图片，采集图片个数N，以焦距大小命名图片，区分不同焦距图片。3.如权利要求1所述的显微镜快速精准自动对焦方法，其特征在于，步骤二中，所述通过图像评价函数，得到每个图像的质量评价值包括：利用拉普拉斯算子对图像进行模板卷积得到图像的高频分量，对得到的图像的高频分量进行求和，所述高频分量和即每个图像的质量评价值；所述拉普拉斯算子如下：所述拉普拉斯算子如下：其中，g(x，y)表示每个像素的亮度，z(x，y)表示亮度为g(x，y)的像素进行滤波模板卷积后每个像素点值；f表示取均值；梯度算子为水平方向和垂直方向两个，高通滤波算子一个，对应的算子矩阵如下：4.如权利要求1所述的显微镜快速精准自动对焦方法，其特征在于，步骤三中，所述采用分类离焦深度法判断是否属于对焦类别包括：首先，以f0为中心确定二次对焦范围r2；通过训练的离焦深度分类算法模型，判断f0所属的离焦量，根据指导原则，确定前进的步长，得到焦距f1所得的图像；其次，计算图像所对应的离焦量，判断是否在对焦区域，如果不在，根据所在离焦区域分析前进步长；如果在，则对焦成功。5.如权利要求4所述的显微镜快速精准自动对焦方法，其特征在于，所述以f0为中心确定二次对焦范围r2包括：取最大拉普拉斯值LM对应的焦距为中心，确定二次对焦范围；具体包括：
取单峰曲线g前后两个点拟合近焦曲线，利用最小二乘法拟合计算得到参数a，b，c；所述单峰曲线g如下：g＝a
·
exp(
‑
(x
‑
b)2/2c2)；获取计算的所有图像中质量评价值，并将计算得到的质...

【专利技术属性】
技术研发人员：石磊，赵国军，刘律文，
申请(专利权)人：上海由格医疗技术有限公司，
类型：发明
国别省市：