一种富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法技术

本发明专利技术涉及体包裹体均一测温技术领域，具体公开了一种富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法，包括以下步骤：步骤1)包裹体样品的准备：制备含目标熔体包裹体石英薄片；步骤2)样品室的准备：将铼片固定在热液金刚石对顶砧下半部分的金刚石砧面上；步骤3)实验样品的装样：将含目标熔体包裹体石英薄片放入铼片的中央孔洞内；步骤4)预加热，调整样品室内气泡体积的大小；步骤5)加热均一测温：利用温度控制器对样品室进行升温加热，最终完全均一到熔体相中，测得完全均一温度；本发明专利技术将热液金刚石对顶砧应用到富挥发分熔体包裹体的均一温度测定实验中，既可以防止其发生爆裂或泄露，又能够实现原位实时观测，测得的均一温度数值更准确。数值更准确。数值更准确。

【技术实现步骤摘要】
一种富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法


[0001]本专利技术涉及熔体包裹体均一测温
，具体涉及一种富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法。

技术介绍

[0002]熔体包裹体是岩浆岩矿物结晶生长过程中捕获的天然岩浆样品。在高温高压的环境下被捕获后，熔体包裹体一直被密封在相对不可压缩的寄主矿物中，因此能够有效保存大量有关其寄主矿物形成时周围岩浆介质的物理化学信息。对熔体包裹体开展均一测温，能够反演其形成时的温度(成岩成矿温度)条件，是矿床学研究中非常重要的一个方面。
[0003]目前，开展熔体包裹体均一测温实验的设备主要为在1个大气压下加热的高温热台，如Linkam TS1500和Linkam TS1400XY热台等。Linkam系列高温热台可以在对熔体包裹体进行加热升温的同时，还能够原位观测熔体包裹体内发生的相态变化(如固相的初熔温度及完全消失温度、固相消失的先后顺序以及熔体包裹体是否达到完全均一状态等)。但是，由于熔体包裹体是在高温高压的环境下被捕获的，因此在1个大气压的条件下对其开展均一测温，会导致实验测得的均一温度值严重偏离其真实的捕获温度值。此外，与成矿作用有关的硅酸盐熔体包裹体通常富集H2O等挥发分，具有比较高的体系内压，在利用上述高温设备在1个大气压条件下，对这类包裹体进行加热均一的实验过程中，大多数的熔体包裹体会发生泄露或爆裂，导致无法测得熔体包裹体的均一温度值。通常，这类在1个大气压条件下对熔体包裹体进行加热升温的设备可以应用于低挥发分、低内压熔体包裹体的均一测温，而不适用于富挥发分、高内压的熔体包裹体。对于上述富挥发分的熔体包裹体，前人多采用冷封式高压釜、活塞圆筒等高温高压设备对其进行均一测温。上述高温高压设备在对熔体包裹体进行加热的同时，可以对其施加一定的外压力，从而可以有效避免熔体包裹体在升温过程中发生爆裂、泄露，且测得的均一温度相对更准确。但是，上述高温高压设备在对样品加热升温的过程中，无法进行原位的实时观测，导致测得的熔体包裹体均一温度被人为的高估。鉴于此，急需一种既能提供高温高压实验模拟环境，又能进行实时观测的实验方法对富挥发分熔体包裹体的均一温度进行准确测定。热液金刚石对顶砧可以在对样品进行加热的同时对样品施加一定的外压力，还可以对加热过程中发生的相变行为进行原位的实时观测，因此本专利技术将热液金刚石对顶砧应用到富挥发分熔体包裹体的均一测温实验研究中。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法，包括以下步骤：
[0006]步骤1)包裹体样品的准备：制备含目标熔体包裹体石英薄片；
[0007]步骤2)样品室的准备：对热液金刚石对顶砧样品室和铼片的清洗清洁，并将铼片固定在热液金刚石对顶砧下半部分的金刚石砧面上；
[0008]步骤3)实验样品的装样：将含目标熔体包裹体石英薄片放入铼片的中央孔洞内，滴去离子水并压合密封样品室，将热液金刚石对顶砧样品室移至光学显微镜的载物台上观察，并在电脑显示器上成像；
[0009]步骤4)预加热，调整样品室内气泡体积的大小：利用温度控制器对样品室加热，确定样品室内的整体密度，而样品室内整体密度大小的调节则是通过改变样品室气泡的体积大小实现，
[0010](1)如果气泡消失温度远低于预估值，说明样品室内整个水体系的密度过大，这时需要将加压螺丝旋松释放部分水出去，最终使气泡消失温度约等于预估值，再进行步骤5)中的操作，
[0011](2)如果气泡消失温度远高于预估值，说明样品室内整个水体系的密度过小，重复步骤3)
‑
4)，直至气泡消失温度约等于预估值，再进行步骤5中的操作；
[0012]步骤5)加热均一测温：利用温度控制器对样品室进行升温加热，观测和记录升温过程中熔体包裹体发生的相变温度，最终完全均一到熔体相中，此时测得的为熔体包裹体的完全均一温度。
[0013]具体的是，所述步骤1)中的包裹体样品的准备包括：
[0014](1)在光学显微镜下，采用50倍物镜进行熔体包裹体的岩相学观察，圈定出预研究的目标熔体包裹体；
[0015](2)预研究包裹体片的卸载及清洁，清洁采用酒精为75％的酒精试剂，包裹体片的浸泡时间为8小时；
[0016](3)含目标熔体包裹体石英薄片的切割，切割好的含熔体包裹体石英薄片的宽度和长度均应小于1.0mm。
[0017]具体的是，所述步骤2)中的样品室的准备包括：
[0018](1)热液金刚石对顶砧样品室的清洁；
[0019](2)对铼片进行超声波清洗，用超声波清洗机对铼片进行清洗的时间为2
‑
3分钟；
[0020](3)将铼片固定在热液金刚石对顶砧下半部分的金刚石砧面上。
[0021]具体的是，所述步骤3)中的实验样品的装样包括：
[0022](1)用尖头镊子将上述内含富挥发分熔体包裹体的石英薄片放入铼片的中央孔洞内；
[0023](2)用微量注射器吸取少量去离子水，滴在热液金刚石对顶砧上部金刚石压砧的表面，微量注射器的容量为5微升，滴在金刚石压砧表面水滴的大小以去离子水覆盖至金刚石压砧表面面积的1/2；
[0024](3)将热液金刚石对顶砧上部金刚石压砧迅速压合在金属铼片上，并用六角扳手将加压螺丝逐渐旋紧，使热液金刚石对顶砧上、下金刚石压砧和铼片组成的样品室处于密封状态；
[0025](4)安装好样品室外面的保护罩，并将热液金刚石对顶砧移至实验所用光学显微镜的载物台上；
[0026](5)打开温度控制器、电脑主机以及光学显微镜的电源开关；
[0027](6)双击电脑桌面上的温度控制和实时观测应用程序的图标；
[0028](7)调整光学显微镜的焦距，显微镜的物镜选择5倍的物镜镜头，先用目镜调整好焦距，再在应用程序的图像观察栏进行微调，使样品室内的图像清晰的显现在电脑显示器上。
[0029]具体的是，所述步骤4)中的预加热，调整样品室内气泡体积的大小，为了使加热过程中，样品室内产生的净水压力，即施加在熔体包裹体片上的外压力，与熔体包裹体内因升温而产生的内压力相等，需要确定一个合适的样品室内的整体密度，而样品室内整体密度大小的调节则是通过改变样品室气泡的体积大小来实现；气泡体积越大，对应的气泡消失温度越高，样品室内水体系的整体密度越小，反之，气泡体积越小，则其消失温度越低，样品室内水体系的整体密度越大。
[0030]具体的是，所述步骤4)中的温度控制器设定的升温速率开始时设置为20℃/分钟，至气泡即将消失时改为1℃/分钟。
[0031]具体的是，所述步骤5)中的加热均一测温通过热液金刚石对顶砧的温度控制器对样品室进行升温加热，观测和记录升温过程中发生的相变温度，升温过程中，不同的温度区间采用不同的升温速率，随着样品室内温度逐本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1)包裹体样品的准备：制备含目标熔体包裹体石英薄片；步骤2)样品室的准备：对热液金刚石对顶砧样品室和铼片的清洗清洁，并将铼片固定在热液金刚石对顶砧下半部分的金刚石砧面上；步骤3)实验样品的装样：将含目标熔体包裹体石英薄片放入铼片的中央孔洞内，滴去离子水并压合密封样品室，将热液金刚石对顶砧样品室移至光学显微镜的载物台上观察，并在电脑显示器上成像；步骤4)预加热，调整样品室内气泡体积的大小：利用温度控制器对样品室加热，确定样品室内的整体密度，而样品室内整体密度大小的调节则是通过改变样品室气泡的体积大小实现，(1)如果气泡消失温度远低于预估值，说明样品室内整个水体系的密度过大，这时需要将加压螺丝旋松释放部分水出去，最终使气泡消失温度约等于预估值，再进行步骤5)中的操作，(2)如果气泡消失温度远高于预估值，说明样品室内整个水体系的密度过小，重复步骤3)
‑
4)，直至气泡消失温度约等于预估值，再进行步骤5中的操作；步骤5)加热均一测温：利用温度控制器对样品室进行升温加热，观测和记录升温过程中熔体包裹体发生的相变温度，最终完全均一到熔体相中，此时测得的为熔体包裹体的完全均一温度。2.根据权利要求1所述的富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法，其特征在于，所述步骤1)中的包裹体样品的准备包括：(1)在光学显微镜下，采用50倍物镜进行熔体包裹体的岩相学观察，圈定出预研究的目标熔体包裹体；(2)预研究包裹体片的卸载及清洁，清洁采用酒精为75％的酒精试剂，包裹体片的浸泡时间为8小时；(3)含目标熔体包裹体石英薄片的切割，切割好的含熔体包裹体石英薄片的宽度和长度均应小于1.0mm。3.根据权利要求1所述的富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法，其特征在于，所述步骤2)中的样品室的准备包括：(1)热液金刚石对顶砧样品室的清洁；(2)对铼片进行超声波清洗，用超声波清洗机对铼片进行清洗的时间为2
‑
3分钟；(3)将铼片固定在热液金刚石对顶砧下半部分的金刚石砧面上。4.根据权利要求1所述的富挥发分熔体包裹体均一温度的准确测定方法，其特征在于，所述步骤3)中的实验样品的装样包括：(1)用尖头镊子将上述内含富挥发分熔体包裹体的石英薄片放入铼片的中央孔洞内；(2)用微量注射器吸取少量去离子水，滴在热液金刚石对顶砧上部金刚石压砧的表面，微量注射器的容量为5微升，滴在金刚石压砧表面水滴的大小以去离子水覆盖至金刚石压砧表面面积的1/2；(3)将热液金刚石对顶砧上部金刚石压砧迅速压合在金属铼片上，并用六角扳手将加压螺丝逐渐旋紧，使热液金刚石对顶砧上、下金刚石...

【专利技术属性】
技术研发人员：李胜虎，万贵龙，周长祥，李建康，朱传宝，徐东卓，孙非非，孙秀英，
申请(专利权)人：山东省地质科学研究院，
类型：发明
国别省市：