调平检测平台的方法和检测系统技术方案

技术编号:33201101 阅读:18 留言:0更新日期:2022-04-24 00:38
本发明专利技术提供一种调平检测平台的方法和检测系统。该方法包括:在检测平台上放置板状件,板状件的边缘伸出到检测平台之外;测量的步骤:使测距装置在边缘的下方或上方沿边缘水平移动,并在移动过程中在多个预定测量位置测量到边缘的垂直距离;确定最低位置的步骤:根据垂直距离确定检测平台的最低位置;计算高度差的步骤:计算检测平台的最低位置与检测平台所在的基准面之间的高度差;以及垫高的步骤:根据高度差将靠近最低位置的区域垫高,以使检测平台水平。利用调平后的检测平台进行视觉检测时,可以避免视觉检测机构沿着检测平台的边缘进行扫描时在不同位置处到显示面板的距离不等,从而避免对视觉检测的结果产生影响。从而避免对视觉检测的结果产生影响。从而避免对视觉检测的结果产生影响。

【技术实现步骤摘要】
调平检测平台的方法和检测系统


[0001]本专利技术涉及显示面板检测
,具体地,涉及一种调平检测平台的方法以及用于执行该方法的检测系统。

技术介绍

[0002]面板检测装置可以通过其上的视觉检测模块对显示面板的基板和/或集成电路(IC)的外观进行检测,还可以检测导电粒子压痕。导电粒子压痕检测用于检测显示面板的连接(bonding)段在玻璃上芯片(chip on glass, COG)和玻璃上薄膜(film on glass,FOG)后各向异性导电膜(Anisotropic Conductive Film,ACF)的导电粒子的压痕情况或者玻璃上 IC(IC on film,COF)产品ACF导电粒子的压痕情况。
[0003]在检测过程中,机械手将显示面板放置在检测平台上,检测平台将显示面板运送给视觉检测模块进行线扫。视觉检测模块中的各个相机在水平面内沿着检测平台的边缘行走,以对显示面板及bonding段进行检测。尤其是其中负责导电粒子压痕检测的DIC相机,其精度较高,因此需要保证检测平台是水平的,以减少对测量精度的影响。
专本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种调平检测平台的方法,其特征在于,所述方法包括:在所述检测平台上放置板状件,所述板状件的边缘伸出到所述检测平台之外;测量的步骤:使测距装置在所述边缘的下方或上方沿所述边缘水平移动,并在移动过程中在多个预定测量位置测量到所述边缘的垂直距离;确定最低位置的步骤:根据所述垂直距离确定所述检测平台的最低位置;计算高度差的步骤:计算所述检测平台的最低位置与所述检测平台所在的基准面之间的高度差;以及垫高的步骤:根据所述高度差将靠近所述最低位置的区域垫高,以使所述检测平台水平。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定最低位置的步骤包括:绘制所述垂直距离相对于多个所述预定测量位置的水平位置的关系曲线;以及根据所述关系曲线确定所述检测平台的最低位置。3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述垫高的步骤之后,所述方法还包括:沿着远离所述测距装置的方向移动所述检测平台;旋转所述检测平台;朝向所述测距装置移回所述检测平台,以使所述板状件的下一边缘位于所述测距装置的下方或上方;以及重复执行所述测量的步骤、所述确定最低位置的步骤、所述计算高度差的步骤和所述垫高的步骤。4.如权利要求1

3中任一项所述的方法,其特征在于,所述垫高的步骤包括:将所述检测平台的连接点作为支点,所述检测平台与所述检测平台下方的支撑装置在所述连接点处通过紧固件连接;根据h=H
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d/D确定用于垫高所述检测平台的垫高物的高度,其中,h是所述垫高物的高度,H是所述高度差,D是所述最低位置到所述支点的距离,d是所述垫高物到所述支点的距离,所述垫高物位于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱小明马从高王兴忠陈志坤张郡炜
申请(专利权)人:苏州镁伽科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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