一种信息预处理模块电路测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种信息预处理模块电路测试系统，包括测试电路板工装，待测所述信息预处理模块电路固定插装在所述测试电路板工装上，所述测试电路板工装电连接至待测信息预处理模块电路与测试源表，用于为待测信息预处理模块电路提供电连接接口和相应参数的测试电原理结构；测试源表电连接至测试电路板工装，用于进行电参数测试包括提供源入及信号数据采集，所述测试源表连接至测试主机，用于实现自动测试并上传至测试主机；所述所述测试电路板工装包括信号输入控制电路、交流参数测量控制电路和直流参数测量控制电路。制电路和直流参数测量控制电路。制电路和直流参数测量控制电路。

【技术实现步骤摘要】
一种信息预处理模块电路测试系统


[0001]本专利技术涉及集成电路测试领域，具体而言，涉及混合集成电路测试，进一步来说，特别涉及一种信息预处理模块电路测试系统。

技术介绍

[0002]目前，对于一些专用混合集成电路的测试，没有通用的测试方法，因此以往的混合集成电路测试，都是采用人工手动测试，需要两个测试操作工配合才能进行测试。传统的测试方法为：一个操作工通过手动搬动开关，使测试硬件调节到对应参数的测试电路，通过人工读取仪表的数据，通过口述的方式让另一个测试操作工记录测试数据；这种测试方式工作效率很低，而且容易使测试数据的读取和记录发生错记或者漏记的现象，或者因为误操作硬件测试电路的切换开关，引起测试电路的错误搭接从而导致器件烧毁。
[0003]由于混合集成电路的生产成本高、价格昂贵，因此如果因为读数、记录数据和硬件操作上所发生的错误都会给企业带来巨大的损失，而且工人的工作量特别大，测试的准确性和一致性都无法保证。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种工作效率高、能够保证测试的准确性和一致性的信息预处理模块电路测试系统。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种信息预处理模块电路测试系统，包括：
[0007]测试电路板工装，待测信息预处理模块电路固定插装在所述测试电路板工装上，所述测试电路板工装电连接至待测信息预处理模块电路与测试源表，用于为待测信息预处理模块电路提供电连接接口和相应参数的测试电原理结构，通过切换测试电路板工装上的继电器，搭建相应参数的电路结构，实现相应的电参数测试；
[0008]测试源表，所述测试源表电连接至测试电路板工装，用于进行电参数测试包括提供源入及信号数据采集；所述测试源表连接至测试主机，用于实现自动测试，并将测试数据上传至测试主机；
[0009]所述测试电路板工装包括：
[0010]信号输入控制电路，其输入端电连接测试源表的程控信号源，其输出端分别电连接待测信息预处理模块电路的二组信号输入端，用于控制程控信号源输出的相应信号接入待测信息预处理模块电路的二组信号输入端；
[0011]交流参数测量控制电路，其输入端分别电连接待测信息预处理模块电路的三组信号输出端，其输出端分别通过设在测试电路板工装上的测量端接口与测试源表的程控示波器电连接，用于测试待测信息预处理模块电路的交流参数；
[0012]直流参数测量控制电路，其输入端分别电连接待测信息预处理模块电路的三组信号输出端，其输出端通过设在测试电路板工装上的测量信号输出端口或者依次通过设在测
试电路板工装上的差分信号放大电路和测量信号输出端口与测试源表的程控数据采集器电连接，用于测试待测信息预处理模块电路的直流参数。
[0013]作为进一步优选，所述信号输入控制电路包括一个分压电路和二个继电器S4、S5，分压电路的二个电压输出端分别与继电器S4、S5的常闭触点一端电连接，继电器S4、S5的常闭触点另一端接地；继电器S4、S5的公共触点两端分别连接待测信息预处理模块电路的二组信号输入端；继电器S4、S5的常开触点两端分别电连接噪声信号源的信号输出端；用于通过继电器的控制将程控信号源输出的可控信号或噪声信号源输出的噪声信号接入待测信息预处理模块电路。
[0014]作为进一步优选，所述交流参数测量控制电路包括二个继电器S1、S2，继电器S1的一对常闭触点两端分别电连接待测信息预处理模块电路的第一信号输出端和10V基准引脚，继电器S1的一对常开触点两端分别电连接待测信息预处理模块电路的5V基准引脚和第二信号输出端，继电器S1的一对公共触点两端分别与设在测试电路板工装上的二个测量端接口J1和J2电连接；
[0015]继电器S2的一个常闭触点电连接待测信息预处理模块电路的
‑
10V基准引脚，继电器S2的一个公共触点与设在测试电路板工装上的一个测量端接口J3电连接，继电器S2的一个常开触点与待测信息预处理模块电路的第三信号输出端电连接。
[0016]作为进一步优选，所述直流参数测量控制电路包括继电器S3、S6和S7，继电器S3、S6和S7的一对公共触点两端分别与待测信息预处理模块电路的三组信号输出端一一对应电连接，继电器S3、S6和S7的一对常闭触点两端分别与设在测试电路板工装上的测量信号输出端口J4、J7和J13一一对应电连接，继电器S3、S6和S7的一对常开触点两端分别电连接所述差分信号放大电路。
[0017]作为进一步优选，所述差分信号放大电路包括三个运放U1、U2和U3，三个运放U1、U2和U3的二个输入端分别与所述继电器S3、S6和S7的一对常开触点两端对应电联接；运放U1的输出端与测量信号输出端口J5电连接，运放U2、U3的输出端分别与测量信号输出端口J8电连接；用于对待测信息预处理模块电路的三组输出信号分别进行差分放大后再传给所述程控示波器。
[0018]作为进一步优选，所述测试源表包括程控电源、程控信号源、程控矩阵开关模块、程控示波器和程控数据采集器；所述程控电源与设在所述测试电路板工装上的电源接口电连接，用于为测试电路板工装供电；所述程控信号源的输出端与信号输入控制电路中的分压电路输入端电连接，用于输出可控信号至信号输入控制电路；所述程控矩阵开关模块的多个控制通道常开触点分别与测试电路板工装上的每个继电器电连接，用于控制各个继电器的动作，从而搭建相应参数的测试电路结构；所述程控示波器的输入端与设在测试电路板工装上的测量端接口电连接，用于测试待测信息预处理模块电路的交流参数；所述程控数据采集器的输入端与设在测试电路板工装上的测量信号输出端口电连接，用于测试待测信息预处理模块电路的直流参数。
[0019]作为进一步优选，所述程控示波器为四台，其中一台程控示波器连接所述测量端接口，其余三台程控示波器分别与设在测试电路板工装上的测量信号输出端口电连接，用于监测待测信息预处理模块电路的直流输出波形，检测是否有自激现象。
[0020]作为进一步优选，所述继电器S3、S6和S7的一对常闭触点两端分别通过一个负载
电阻接地，用于在一定负载下对待测信息预处理模块电路输出的直流电压进行测试，确保输出的直流电压具有一定的带载能力。
[0021]作为进一步优选，所述运放U1、U2和U3分别采用OP07，每个运放的输出端与反相输入端之间分别连接有电阻，其二个电源输入端分别通过一个电容接地，其二个输入端分别通过一个限流电阻与对应的继电器S3、S6或S7电连接。
[0022]本专利技术的有益效果：
[0023]1、由于所述测试电路板工装包括设在PCB板上的信号输入控制电路、交流参数测量控制电路和直流参数测量控制电路，通过信号输入控制电路中的继电器控制能够将程控信号源输出的交流可控信号或噪声信号源输出的噪声信号接入待测信息预处理模块的信号输入端，从而实现在二种不同的输入信号下对待测信息预处理模块进行测试。
[0024]2、通过交流参数测量控制本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信息预处理模块电路测试系统，其特征在于，包括：测试电路板工装，待测信息预处理模块电路固定插装在所述测试电路板工装上，所述测试电路板工装电连接至待测信息预处理模块电路与测试源表，用于为待测信息预处理模块电路提供电连接接口和相应参数的测试电原理结构，通过切换测试电路板工装上的继电器，搭建相应参数的电路结构，实现相应的电参数测试；测试源表，其分别电连接至测试电路板工装，用于进行电参数测试包括提供源入及信号数据采集；所述测试源表连接至测试主机，用于实现自动测试，并将测试数据上传至测试主机；所述测试电路板工装包括：信号输入控制电路，其输入端电连接测试源表的程控信号源，其输出端分别电连接待测信息预处理模块电路的二组信号输入端，用于控制程控信号源输出的相应信号接入待测信息预处理模块电路的二组信号输入端；交流参数测量控制电路，其输入端分别电连接待测信息预处理模块电路的三组信号输出端，其输出端分别通过设在测试电路板工装上的测量端接口与测试源表的程控示波器电连接，用于测试待测信息预处理模块电路的交流参数；直流参数测量控制电路，其输入端分别电连接待测信息预处理模块电路的三组信号输出端，其输出端通过设在测试电路板工装上的测量信号输出端口或者依次通过设在测试电路板工装上的差分信号放大电路和测量信号输出端口与测试源表的程控数据采集器电连接，用于测试待测信息预处理模块电路的直流参数。2.根据权利要求1所述的一种信息预处理模块电路测试系统，其特征在于：所述信号输入控制电路包括一个分压电路和二个继电器(S4、S5)，分压电路的二个电压输出端分别与继电器(S4、S5)的常闭触点一端电连接，继电器S4、S5的常闭触点另一端接地；继电器(S4、S5)的公共触点两端分别连接待测信息预处理模块电路的二组信号输入端；继电器(S4、S5)的常开触点两端分别电连接噪声信号源的信号输出端；用于通过继电器的控制将程控信号源输出的可控信号或噪声信号源输出的噪声信号接入待测信息预处理模块电路。3.根据权利要求1所述的一种信息预处理模块电路测试系统，其特征在于：所述交流参数测量控制电路包括二个继电器(S1、S2)，继电器(S1)的一对常闭触点两端分别电连接待测信息预处理模块电路的第一信号输出端和10V基准引脚，继电器(S1)的一对常开触点两端分别电连接待测信息预处理模块电路的5V基准引脚和第二信号输出端，继电器(S1)的一对公共触点两端分别与设在测试电路板工装上的二个测量端接口(J1、J2)电连接；继电器(S2)的一个常闭触点电连接待测信息预处理模块电路的
‑
10V基准引脚，继电器(S2)的一个公共触点与设在测试电路板工装上的一个测量端接口(J3)电连接，继电器(S2)的一个常开触点与待测信息预处理模块电路的第三信号输出端电连接。4.根据权利要求1所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘立，孙景贵，刘禹龙，马建军，刘阳，石斌，
申请(专利权)人：锦州七七七微电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：