设备、盘和制造方法技术

一种设备，包括编码器标尺盘100和安装座，编码器标尺盘100包括位于标尺145的径向外侧的径向和/或切向弹性特征110，径向和/或切向弹性特征被配置为与安装座相互作用以将标尺盘100定位在安装座上。编码器标尺盘100可以包括径向弹性特征145，径向弹性特征可以径向偏离盘110。还公开了一种制造包括编码器标尺盘100的设备的方法，包括：将包括径向弹性特征145的盘100安装到装置，其中盘100的径向弹性特征145与装置相互作用以将盘置于径向压缩状态，将盘100安装在设备上，其中，装置上的安装特征和设备以相同的方式相互作用以将盘100置于径向压缩状态。于径向压缩状态。于径向压缩状态。

【技术实现步骤摘要】
设备、盘和制造方法


[0001]本专利技术涉及一种编码器设备和制造方法，特别是一种包括标尺盘的编码器设备。

技术介绍

[0002]编码器通常用于测量机器的可相对移动部件之间的相对位移。例如，编码器被用于许多行业来向机器的控制系统提供位置(或其衍生量，例如速度和/或加速度)反馈，例如，机器的一部件相对于机器的另一部件的位置/运动的反馈控制。典型地，编码器包括设置在机器的一部件上的具有一系列位置特征的标尺和设置在机器的另一部件上的用于读取标尺的读头。计量标尺的类型包括：磁性标尺(其中，标尺特征由具有特定磁性特性的特征提供)、电容性标尺(其中，特征由具有特定电容特性的特征提供)、电感标尺(其中，特征由具有特定电感特性的特征提供)和光学标尺(其中，特征由具有特定光学特性的特征提供)。光学标尺可以是透射的或反射的。机器的第一部件与第二部件的相对位移使得编码器标尺与读头相对移动，从而允许确定位移的程度。换句话说，标尺与读头的相对位置以及因此机器部件的相对位置可以被读头沿着编码器的测量维度检测。
[0003]编码器可以是用于测量线性位移的线性编码器，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备，其包括编码器标尺盘和安装座，所述编码器标尺盘包括位于标尺的径向外侧的径向和/或切向弹性特征，所述径向和/或切向弹性特征被配置为与所述安装座相互作用，以将所述标尺盘定位在所述安装座上。2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述编码器标尺盘包括径向弹性特征。3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述径向弹性特征包括挠曲件。4.根据权利要求2或权利要求3所述的设备，其中，所述编码器标尺盘的特征径向偏离所述盘。5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述特征从所述盘径向向外偏离。6.一种设备，其包括编码器标尺盘和安装座，其中，当安装在所述安装座上时，所述编码器标尺盘的外周表面的特征与所述安装座相互作用以将所述编码器标尺盘置于径向压缩状态从而将所述编码器标尺盘固位在所述安装座上。7.根据权利要求1至6中任一项所述的设备，其中，当安装在所述安装座上时，所述编码器标尺盘的外周表面的特征使所述安装座的一部分变形。8.根据权利要求1至7中任一项所述的设备，其中，当安装在所述安装座上时，所述编码器标尺盘的外周表面的特征被所述安装座的一部分变形。9.根据权利要求7或权利要求8所述的设备，其中，所述变形包括弹性变形。10.一种设备，其包括编码器标尺盘和安装座，其中，当安装在所述安装座上时，所述编码器标尺盘被置于径向压缩状态。11.根据权利要求1至5中任一项所述的编码器标尺盘。12.一种测量设备，其包括根据权利要求1至10中任一项所述的设备和/或根据权利要求11所述的编码器标尺盘。13.一种制造包括编码器标尺盘的设备的方法，所述方法包括以任何合适的顺序将包括径向弹性特征的盘安装到用于施加标尺的装置，其中，所述盘的径向弹性特征与所述用于施加标尺的装置相互作用以将所述盘置于径向压缩状态，将标尺施加到所述盘，从所述用于施加标尺的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓肯，
申请(专利权)人：瑞尼斯豪公司，
类型：发明
国别省市：