一种两个连接器之间导通的测试方法技术

本发明专利技术是一种两个连接器之间导通的测试方法，所述测试方法的步骤如下：A、测试排线上设有第一连接器和第二连接器，被测排线设有第三连接器和第四连接器；B、所述测试排线上第一连接器与被测排线第三连接器相连，所述测试排线上第二连接器与被测排线的第四连接器相连；C、运用串联电阻的分压原理，在电阻R1一侧设有电压测试点；D、采用走线将测试排线及被测排线pin依次连成一个完整的分压电路，并确保测试排线相邻不同pin定义的pin在不同的电压区间；E、通过测量测试点的电压值U来判断被测排线第三连接器和第四连接器导通情况，属于电子测试技术领域。目的是提供一种制作相对较为简单方便，可有效的降低测试成本的测试方法。可有效的降低测试成本的测试方法。可有效的降低测试成本的测试方法。

【技术实现步骤摘要】
一种两个连接器之间导通的测试方法


[0001]本专利技术涉及一种导通测试方法，特别是一种两个连接器之间导通的测试方法。

技术介绍

[0002]现有的技术中利用与两个连接器pin数相同的探针治具进行一对一的导通测试，一方面治具的成本比较高，另外一方面治具的体积比较大，携带不方便。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是在于解决现有测试装置的体积较大和携带不方便，而提供一种两个连接器之间导通的测试方法。
[0004]一种两个连接器之间导通的测试方法，所述测试方法的步骤如下：
[0005]A、测试排线上设有第一连接器和第二连接器，被测排线设有第三连接器和第四连接器；
[0006]B、所述测试排线上第一连接器与被测排线第三连接器相连，所述测试排线上第二连接器与被测排线的第四连接器相连；
[0007]C、运用串联电阻的分压原理，在电阻R1一侧设有电压测试点；
[0008]D、采用走线将测试排线及被测排线pin依次连成一个完整的分压电路，并确保测试排线相邻不同pin定义的pin(同一个连接器相同的pin定义的pin算作同一个pin)在不同的电压区间；
[0009]E、通过测量测试点的电压值U来判断被测排线第三连接器和第四连接器导通情况。
[0010]进一步的，所述第一连接器和第三连接器为相同型号连接器的公座和母座。
[0011]进一步的，所述第二连接器和第四连接器为相同型号连接器的公座和母座。
[0012]进一步的，所述步骤(E)中判断被测排线第三连接器和第四连接器导通的方法如下：
[0013]如果U1>U2：
[0014]连接正常：U＝(U1-U2)(R2+R3)/(R1+R2+R3)，
[0015]连接短路：U＝U2或者U＝(U1-U2)R3/(R1+R3)或者U＝(U1-U2)R2/(R1+R2)
[0016]连接开路：U＝U1；
[0017]如果U1<U2：
[0018]连接正常U＝(U2-U1)R1/(R1+R2+R3)，
[0019]连接短路：U＝U2或者U＝(U2-U1)R1/(R1+R3)或者U＝(U2-U1)R1/(R1+R2)，
[0020]连接开路：U＝U1。
[0021]采用上述技术方案的有益效果是：采用本方案中的方法，制作相对较为简单方便，可有效的降低测试成本。
附图说明
[0022]图1为本专利技术测试原理图；
[0023]图2为本专利技术测试排线连接示意图；
[0024]图3为本专利技术被测排线连接示意图。
具体实施方式
[0025]以下结合附图和本专利技术优选的具体实施例对本专利技术的内容作进一步地说明。所举实例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。
[0026]如图1至3中所示，一种两个连接器之间导通的测试方法，所述测试方法的步骤如下：
[0027]A、测试排线上设有第一连接器和第二连接器，被测排线设有第三连接器和第四连接器；
[0028]B、所述测试排线上第一连接器与被测排线第三连接器相连，所述测试排线上第二连接器与被测排线的第四连接器相连；
[0029]C、运用串联电阻的分压原理，在电阻R1一侧设有电压测试点；
[0030]D、采用走线将测试排线及被测排线pin依次连成一个完整的分压电路，并确保测试排线相邻不同pin定义的pin(同一个连接器相同的pin定义的pin算作同一个pin)在不同的电压区间；
[0031]E、通过测量测试点的电压值U来判断被测排线第三连接器和第四连接器导通情况。在本方案中，所述第一连接器和第三连接器为相同型号连接器的公座和母座；所述第二连接器和第四连接器为相同型号连接器的公座和母座。
[0032]在本方案中，上述步骤(E)中判断被测排线第三连接器和第四连接器导通的方法如下：
[0033]如果U1>U2：
[0034]连接正常：U＝(U1-U2)(R2+R3)/(R1+R2+R3)，
[0035]连接短路：U＝U2或者U＝(U1-U2)R3/(R1+R3)或者U＝(U1-U2)R2/(R1+R2)
[0036]连接开路：U＝U1；
[0037]如果U1<U2：
[0038]连接正常U＝(U2-U1)R1/(R1+R2+R3)，
[0039]连接短路：U＝U2或者U＝(U2-U1)R1/(R1+R3)或者U＝(U2-U1)R1/(R1+R2)，
[0040]连接开路：U＝U1。
[0041]以上所述仅为本专利技术的较佳实施例，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种两个连接器之间导通的测试方法，其特征在于，所述测试方法的步骤如下：A、测试排线上设有第一连接器和第二连接器，被测排线设有第三连接器和第四连接器；B、所述测试排线上第一连接器与被测排线第三连接器相连，所述测试排线上第二连接器与被测排线的第四连接器相连；C、运用串联电阻的分压原理，在电阻R1一侧设有电压测试点；D、采用走线将测试排线及被测排线pin依次连成一个完整的分压电路，并确保测试排线相邻不同pin定义的pin(同一个连接器相同的pin定义的pin算作同一个pin)在不同的电压区间；E、通过测量测试点的电压值U来判断被测排线第三连接器和第四连接器导通情况。2.根据权利要求1所述的两个连接器之间导通的测试方法，其特征在于，所述第一连接器和第三连接器为相同型号连接器的公座和母座。...

【专利技术属性】
技术研发人员：李攀龙，
申请(专利权)人：深圳市国显科技有限公司，
类型：发明
国别省市：