【技术实现步骤摘要】
一种具有尺寸调节结构的激光测厚仪
[0001]本技术涉及激光测厚仪
,具体为一种具有尺寸调节结构的激光测厚仪。
技术介绍
[0002]激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度,激光测厚仪因其优点被广泛应用于钢板测厚、金属板金属薄片测厚、薄膜测厚、电池极片测厚等领域,然而现在的激光测厚仪还存在着一些缺陷,就比如:
[0003]根据专利号:CN202021532795.8一种便于使用的激光测厚仪,底板的上端安装有转轴,转轴上端固定安装有活动板,转动转轴即对活动板进行转向,即对本激光测厚仪进行旋转,便于多角度的测量;
[0004]该技术方案还存在:
[0005]1、激光测厚仪不具有尺寸调节结构;
[0006]2、激光测厚仪不便于夹持物料;
[0007]3、激光测厚仪不便于测量;
[0008]因此要对现在的激光测厚仪进行改进。
技术实现思路
[0009]本技术的目的在于 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有尺寸调节结构的激光测厚仪,其特征在于,包括:底座(1),所述底座(1)的顶端安装有第一激光器(2),且底座(1)一侧的顶部设置有升降套(3),并且升降套(3)的内部设置有螺纹柱(4),而且螺纹柱(4)的顶部与第二激光器(5)进行连接;导向槽(6),开设在所述第二激光器(5)的中部,且导向杆(7)贯穿导向槽(6)与第一激光器(2)进行连接,所述螺纹柱(4)的外壁套接有套管(8),且套管(8)的外壁开设有限位槽(9),并且套管(8)的底部与升降套(3)进行连接,所述限位槽(9)的内部设置有限位环(10),且连杆(11)的一端与限位环(10)进行固定,并且连杆(11)的另一端与导向杆(7)进行固定。2.根据权利要求1所述的一种具有尺寸调节结构的激光测厚仪,其特征在于:所述导向杆(7)的直径与导向槽(6)的直径相匹配,并且导向杆(7)与导向槽(6)之间呈滑动连接,并且升降套(3)的内壁间距大于螺纹柱(4)的直径。3.根据权利要求1所述的一种具有尺寸调节结构的激光测厚仪,其特征在于:所述限位环(...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴涛,
申请(专利权)人:深圳市铭辉源科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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