双信道探测器制造技术

描述一种双信道探测器，其中第一信道包括第一传感器并且第二信道包括第二传感器，其涂覆在基板上。第一和第二传感器测量相同的物理变量，但是输出不同的测量信号。传感器经由接触部位与评估单元连接。触部位与评估单元连接。触部位与评估单元连接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】双信道探测器


[0001]本专利技术涉及一种双信道探测器，所述探测器在基板上包括第一传感器和第二传感器。

技术介绍

[0002]人机之间越来越紧密的空间和时间交互作用引起，传统技术在传感装置中仅还可以受限地使用或者对于协作运行必须全新地安置。主要注意力在此在于识别和避免任意类型的碰撞或在碰撞的情况下安全地停止机器。对此，需要适合的探测器和传感器系统。此外，这种探测器和传感器系统原则上必须能够，识别出现的内部的功能错误。这种功能错误例如可以由于传感器的有错误的探测或通过电子装置的有错误的信号处理而出现。
[0003]相应的传感器系统在此根据使用的技术具有不同的监控区域。因此，光学的和声学的系统在探测较大的间距和基于接触保护条的用于识别的系统时在直接临近区域中使用。
[0004]常规的接触探测系统然而仅有限地适合于在协作运行中机器的接触探测。根据对相应的过程的危险分析，机器的潜在有危险的部分必须配设有分别适合的传感装置。
[0005]从US 2010/0181871 A1中已知可对此使用的压敏探测器，所述压敏探测器可以借助于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种探测器，包括：
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基板，
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第一信道，所述第一信道包括
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施加在所述基板上的第一传感器，所述第一传感器产生第一测量信号，
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与所述第一传感器经由第一接触部位连接的第一评估单元，
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第二信道，所述第二信道包括
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与所述第一传感器横向相邻地施加在所述基板上的第二传感器，所述第二传感器产生第二测量信号，所述第二测量信号示出与所述第一测量信号相同的物理变量的量度，但是是不同的，
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与所述第二传感器经由第二接触部位连接的第二评估单元。2.根据权利要求1所述的探测器，其中所述第一传感器和所述第二传感器的测量信号在极性上是不同的。3.根据权利要求1或2所述的探测器，其中全部传感器同时检测所述物理变量。4.根据权利要求1至3中任一项所述的探测器，其中所述第一和第二传感器输出相移的测量信号。5.根据权利要求4所述的探测器，其中第一和第...

【专利技术属性】
技术研发人员：桑德罗，
申请(专利权)人：TDK电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：